[發(fā)明專(zhuān)利]基于密度加權(quán)的模擬退火稀疏合成孔徑雷達(dá)成像方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110246481.0 | 申請(qǐng)日: | 2011-08-25 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102393517A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-03-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 曾操;王民航;廖桂生;朱圣棋;楊青華 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 西安電子科技大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01S13/90 | 分類(lèi)號(hào): | G01S13/90 |
| 代理公司: | 陜西電子工業(yè)專(zhuān)利中心 61205 | 代理人: | 王品華;朱紅星 |
| 地址: | 710071*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 密度 加權(quán) 模擬 退火 稀疏 合成孔徑雷達(dá) 成像 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于雷達(dá)成像技術(shù)領(lǐng)域,具體地說(shuō)是一種稀疏合成孔徑雷達(dá)的成像方法,該方法可用于機(jī)/星載雷達(dá)系統(tǒng)對(duì)地觀測(cè)成像。
背景技術(shù)
合成孔徑雷達(dá)SAR安置于機(jī)/星載平臺(tái),是一種主動(dòng)式微波遙感設(shè)備,可以全天候、全天時(shí)、遠(yuǎn)距離對(duì)場(chǎng)景進(jìn)行觀測(cè)。根據(jù)奈奎斯特采樣定理,方位向雷達(dá)發(fā)射重復(fù)頻率必須大于方位向合成孔徑帶寬2倍才能保證頻譜無(wú)混疊。由于機(jī)/星載合成孔徑雷達(dá)往往平臺(tái)速度快和天線(xiàn)孔徑小,使得方位向帶寬大,這就要求雷達(dá)重復(fù)頻率高,導(dǎo)致方位向脈沖數(shù)多從而觀測(cè)數(shù)據(jù)量大,不利于實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)回傳。
傳統(tǒng)完全采樣成像,需要采集并回傳大量回波數(shù)據(jù),導(dǎo)致成像計(jì)算量大,處理速度慢。稀疏采樣可以降低回波采集數(shù)據(jù)量,從而減少成像計(jì)算量,提高處理速度。于是近些年出現(xiàn)了稀疏合成孔徑雷達(dá)成像。
最簡(jiǎn)單的稀疏方式是均勻稀疏采樣成像,由于這種成像方法不滿(mǎn)足奈奎斯特采樣定理,方位向匹配濾波后會(huì)出現(xiàn)成對(duì)回波即柵瓣,導(dǎo)致成像結(jié)果存在主場(chǎng)景的多次復(fù)制即鬼影。當(dāng)雷達(dá)工作于條帶模式時(shí),“鬼影”場(chǎng)景會(huì)疊加到對(duì)應(yīng)其成像中心的主場(chǎng)景上,造成成像模糊。
常規(guī)優(yōu)化稀疏采樣成像,通過(guò)設(shè)計(jì)好的代價(jià)函數(shù),應(yīng)用全局優(yōu)化算法,如遺傳算法GA、粒子群優(yōu)化PSO算法、模擬退火SA算法等,優(yōu)化出稀疏采樣位置或保留優(yōu)化位置的采樣回波,能消除柵瓣和壓低副瓣。但常規(guī)的優(yōu)化稀疏采樣成像方法存在運(yùn)算量大、優(yōu)化時(shí)間長(zhǎng)、副瓣不夠低等問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服上述已有技術(shù)的不足,提出一種基于密度加權(quán)的模擬退火的稀疏合成孔徑雷達(dá)成像方法,以減小運(yùn)算量和優(yōu)化時(shí)間,進(jìn)一步降低副瓣,提高成像質(zhì)量。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明的技術(shù)方案包括如下步驟:
(1)采用密度加權(quán)獲得中間采樣孔徑:
(1a)設(shè)定全孔徑采樣數(shù)為D、稀疏孔徑采樣總數(shù)為M、初始中間孔徑采樣數(shù)為N0,初始化1×D維采樣標(biāo)記矢量x=0,采樣標(biāo)記矢量x元素為1表示采樣,元素為0表示不采樣,D、M、N0均取正整數(shù),且滿(mǎn)足N0<M<D;
(1b)由全孔徑采樣數(shù)D,獲得D×1維泰勒窗矢量h=taylorwin(D),對(duì)窗矢量的最大值歸一化,得到D×1維歸一化泰勒窗矢量h0=h/max(h),其中taylorwin和max分別表示泰勒窗函數(shù)和求最大值函數(shù);
(1c)給循環(huán)變量賦初值:i=fix(D/2)-fix(N0/2),這里i表示中間孔徑采樣序號(hào),fix表示朝零取整;
(1d)隨機(jī)產(chǎn)生一個(gè)服從均勻分布[0,1]區(qū)間的數(shù):r=rand(1),以歸一化泰勒窗矢量中第i個(gè)元素為參考,判斷[h0]i>r是否成立,若成立則[x]i=1,[x]D+1-i=1,否則直接執(zhí)行步驟(1e),其中rand表示產(chǎn)生一服從均勻分布的隨機(jī)數(shù),[x]i表示矢量x中的第i個(gè)元素;
(1e)令i=i+1,判斷i≤ceil(D/2)是否成立,若成立,則返回步驟(1d)繼續(xù)循環(huán),否則執(zhí)行步驟(1f),這里ceil表示朝正無(wú)窮大取整;
(1f)循環(huán)結(jié)束后,統(tǒng)計(jì)中間采樣孔徑實(shí)際所含采樣數(shù)N=sum(x),sum表示求和函數(shù);
(2)利用模擬退火智能優(yōu)化算法以主瓣和副瓣峰值比最大為代價(jià)函數(shù),優(yōu)化除中間采樣孔徑外的剩余兩邊對(duì)稱(chēng)采樣孔徑,得到方位向稀疏采樣位置:
(2a)設(shè)定初始溫度T0,模擬退火總的迭代次數(shù)Q;
(2b)在采樣標(biāo)記矢量x剩余左邊孔徑中,隨機(jī)填(M-N)/2個(gè)數(shù)值1,根據(jù)對(duì)稱(chēng)性在右邊孔徑填(M-N)/2個(gè)數(shù)值1,并記錄1的位置,得到擾動(dòng)前的位置矢量Ip=find(x=1),find表示尋找滿(mǎn)足條件元素的位置;
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G01S 無(wú)線(xiàn)電定向;無(wú)線(xiàn)電導(dǎo)航;采用無(wú)線(xiàn)電波測(cè)距或測(cè)速;采用無(wú)線(xiàn)電波的反射或再輻射的定位或存在檢測(cè);采用其他波的類(lèi)似裝置
G01S13-00 使用無(wú)線(xiàn)電波的反射或再輻射的系統(tǒng),例如雷達(dá)系統(tǒng);利用波的性質(zhì)或波長(zhǎng)是無(wú)關(guān)的或未指明的波的反射或再輻射的類(lèi)似系統(tǒng)
G01S13-02 .利用無(wú)線(xiàn)電波反射的系統(tǒng),例如,初級(jí)雷達(dá)系統(tǒng);類(lèi)似的系統(tǒng)
G01S13-66 .雷達(dá)跟蹤系統(tǒng);類(lèi)似系統(tǒng)
G01S13-74 .應(yīng)用無(wú)線(xiàn)電波再輻射的系統(tǒng),例如二次雷達(dá)系統(tǒng);類(lèi)似系統(tǒng)
G01S13-86 .雷達(dá)系統(tǒng)與非雷達(dá)系統(tǒng)
G01S13-87 .雷達(dá)系統(tǒng)的組合,例如一次雷達(dá)與二次雷達(dá)





