[發(fā)明專利]嵌入傳送柵有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110245139.9 | 申請(qǐng)日: | 2011-08-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102376730A | 公開(公告)日: | 2012-03-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 野崎秀俊;代鐵軍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 美商豪威科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/146 | 分類號(hào): | H01L27/146;H04N5/374 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 李玲 |
| 地址: | 美國(guó)加利*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 嵌入 傳送 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明大體上涉及圖像傳感器,且尤其但非排他地,涉及互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(“CMOS”)圖像傳感器。
背景技術(shù)
圖像傳感器已變得普遍存在。圖像傳感器廣泛地用在數(shù)字靜態(tài)相機(jī)、蜂窩式電話、安全相機(jī)、醫(yī)學(xué)、汽車及其它應(yīng)用中。用于制造圖像傳感器(且更具體地,CMOS圖像傳感器(“CIS”))的技術(shù)已持續(xù)大步前進(jìn)。舉例而言,對(duì)較高分辨率及較低功耗的需求已助長(zhǎng)了圖像傳感器的進(jìn)一步小型化及整合。因此,圖像傳感器的像素陣列中的像素的數(shù)目已增加,而每一像素單元的大小已減小。
通常,圖像傳感器的每一像素包括諸如光電二極管的感光元件,以及用于自感光元件讀出信號(hào)的一個(gè)或多個(gè)晶體管。隨著像素單元尺寸減小,晶體管尺寸亦減小。傳送晶體管通常用在具有四晶體管設(shè)計(jì)的像素中。傳送晶體管將感光元件與像素電路的剩余部分分隔開,其中傳送晶體管形成在感光元件與浮動(dòng)節(jié)點(diǎn)之間。
在一些應(yīng)用中,希望按比例縮小傳送晶體管以使其具有短?hào)艠O長(zhǎng)度以便實(shí)現(xiàn)較大整合及增強(qiáng)的像素填充因子。短傳送柵長(zhǎng)度可能增加感光元件與浮動(dòng)節(jié)點(diǎn)之間的穿通的可能性。在傳送晶體管之下的溝道耗盡且環(huán)繞漏極的耗盡區(qū)延伸穿過(guò)該溝道至源極以形成單個(gè)相連的耗盡區(qū)(有害事件)時(shí),發(fā)生穿通。另一方面,較長(zhǎng)的傳送柵長(zhǎng)度可減少常規(guī)像素中穿通的發(fā)生,常規(guī)像素使用在平坦氧化物/硅襯底上形成的N+多晶硅傳送柵。然而,較長(zhǎng)的傳送柵長(zhǎng)度可能引起諸如成像滯后(image?lag)、低靈敏度及低全阱容量的問(wèn)題。
附圖簡(jiǎn)述
參看以下附圖描述本發(fā)明的非限制性及非詳盡實(shí)施例,其中除非另有指定,否則貫穿各個(gè)視圖,相同附圖標(biāo)記指代相同部分。
圖1A為說(shuō)明根據(jù)實(shí)施例的成像系統(tǒng)的功能框圖。
圖1B為說(shuō)明根據(jù)實(shí)施例的成像系統(tǒng)內(nèi)的兩個(gè)4T像素的像素電路的電路圖。
圖2為圖像傳感器的常規(guī)像素單元的橫截面圖,其說(shuō)明感光區(qū)及浮動(dòng)節(jié)點(diǎn)。
圖3A為根據(jù)實(shí)施例的包括具有自對(duì)準(zhǔn)穿通阻擋件的嵌入傳送柵的像素單元的橫截面圖。
圖3B為根據(jù)實(shí)施例的包括嵌入傳送柵的背側(cè)照明(“BSI”)像素單元的橫截面圖。
圖4為根據(jù)實(shí)施例的包括具有自對(duì)準(zhǔn)穿通阻擋件的P+/N+雙元件嵌入傳送柵的像素單元的橫截面圖。
圖5A為根據(jù)實(shí)施例的像素單元的平面圖,其說(shuō)明具有嵌入傳送柵的感光區(qū)、傳送晶體管及復(fù)位晶體管。
圖5B為基本上沿圖5A中的截面線A-A′截取的圖5A的像素單元的橫截面圖。
圖6A為根據(jù)實(shí)施例的像素單元的平面圖,其說(shuō)明具有嵌入傳送柵的感光區(qū)、傳送晶體管及復(fù)位晶體管。
圖6B為基本上沿圖6A中的截面線B-B′截取的圖6A的像素單元的橫截面圖。
具體實(shí)施方式
本文中描述用于CMOS圖像傳感器(“CIS”)的裝置及系統(tǒng)的實(shí)施例。在以下描述中,陳述眾多具體細(xì)節(jié)以提供對(duì)諸實(shí)施例的透徹理解。然而,本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識(shí)到,本文中所描述的技術(shù)可在無(wú)諸具體細(xì)節(jié)中的一個(gè)或多者的情況下加以實(shí)踐或以其它方法、組件、材料等來(lái)加以實(shí)踐。在其它情況下,不詳細(xì)展示或描述熟知結(jié)構(gòu)、材料或操作以避免混淆某些方面。
遍及本說(shuō)明書對(duì)“一實(shí)施例”或“一項(xiàng)實(shí)施例”的提及意味著結(jié)合該實(shí)施例所描述的特定特征、結(jié)構(gòu)或特性包括在本發(fā)明的至少一實(shí)施例中。因此,在本說(shuō)明書全文各處的短語(yǔ)“在一實(shí)施例中”或“在一項(xiàng)實(shí)施例中”的出現(xiàn)未必均指同一實(shí)施例。此外,可在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中以任何合適方式組合特定特征、結(jié)構(gòu)或特性。方向術(shù)語(yǔ)(諸如,“頂部”、“底部”、“在...之下”)是在參考所描述的附圖的取向來(lái)使用的。
圖1A為說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的成像系統(tǒng)100的框圖。成像系統(tǒng)100的所說(shuō)明實(shí)施例包括像素陣列105、讀出電路110、功能邏輯115及控制電路120。
像素陣列105為成像傳感器或像素(例如,像素P1、P2、...、Pn)的二維(“2D”)陣列。在一實(shí)施例中,每一像素為互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(“CMOS”)成像像素。像素可實(shí)現(xiàn)為背側(cè)照明像素或前側(cè)照明像素。如所說(shuō)明,將每一像素排列成行(例如,行R1至Ry)及列(例如,列C1至Cx)以獲取人、地點(diǎn)或?qū)ο蟮膱D像數(shù)據(jù),該圖像數(shù)據(jù)接著可用來(lái)呈現(xiàn)人、地點(diǎn)或?qū)ο蟮?D圖像。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





