[發明專利]一種結合實驗室定標和均勻景統計的相對輻射定標方法有效
| 申請號： | 201110244526.0 | 申請日： | 2011-08-23 |
| 公開（公告）號： | CN102324098A | 公開（公告）日： | 2012-01-18 |
| 發明（設計）人： | 曾湧;王文宇 | 申請（專利權）人： | 中國資源衛星應用中心 |
| 主分類號： | G06T7/00 | 分類號： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人： | 龐靜 |
| 地址： | 100094 北京*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 結合 實驗室 定標 均勻 統計 相對 輻射 方法 | ||
1.一種結合實驗室定標和均勻景統計的相對輻射定標方法，其特征在于步驟如下：
(1)根據采集的實驗室定標數據，獲取每級燈的輻亮度和對應的DN值，并求取每個像元的定標系數；
(2)根據衛星在軌運行期間采集的圖像，選取總體均勻的區域，通過均勻景統計法生成每個像元的定標系數；
(3)根據步驟(1)、(2)的結果進行聯合定標，具體過程如下：
(3.1)聯合像元設計：把m個像元組合成一個聯合像元，即陣列由聯合像元組成，而每個聯合像元由m個像元平均得到，針對推掃成像模式，50＜m＜200；
(3.2)根據步驟(1)的計算結果，求取實驗室聯合像元的響應系數LNGj；
(3.3)根據步驟(3)的計算結果，求取地面均勻景聯合像元的響應系數HNGj；
(3.4)求取聯合像元校正因子CORj，CORj＝LGNj/HGNj；
(3.5)校正因子方程擬合：以聯合像元序號為橫坐標，校正因子為縱坐標，采用二次拋物線方程擬合校正因子曲線；
(3.6)校正因子內插：對上述擬合的校正因子曲線進行離散，得到一組針對單個像元的校正因子cori；
(3.7)新的定標系數nNGi：采用步驟(1)或者步驟(2)的計算結果處于校正因子，即可得到該陣列新的定標系數。
2.根據權利要求1所述的一種結合實驗室定標和均勻景統計的相對輻射定標方法，其特征在于：所述步驟(1)中首先采用均勻景統計法、直方圖均衡法、最小二乘法三種方法求取每個像元的定標系數，然后選取三種算法中的最佳算法的計算結果作為步驟(1)的計算結果。
3.根據權利要求2所述的一種結合實驗室定標和均勻景統計的相對輻射定標方法，其特征在于：所述最佳算法的選取首選選取圖像中盡可能大的均勻區域，計算出飛行方向圖像的灰度均值和該區域的灰度均值，計算上述兩灰度均值的誤差，當誤差最小時，該算法即為最佳算法。
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