[發(fā)明專利]玻璃基板缺陷檢查裝置以及玻璃基板缺陷檢查方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110243261.2 | 申請(qǐng)日: | 2011-08-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102565092A | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 荒木正樹;廣井修一;衣川耕平 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社日立高新技術(shù) |
| 主分類號(hào): | G01N21/958 | 分類號(hào): | G01N21/958 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11243 | 代理人: | 張敬強(qiáng);李家浩 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 玻璃 缺陷 檢查 裝置 以及 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及玻璃基板缺陷檢查裝置以及玻璃基板缺陷檢查方法,與能夠高精度地進(jìn)行檢查的玻璃基板缺陷檢查裝置以及玻璃基板缺陷檢查方法有關(guān)。
背景技術(shù)
液晶顯示面板或者太陽能電池面板的制造是利用光刻法技術(shù)等在玻璃基板上形成圖案來進(jìn)行。此時(shí),如果存在玻璃基板表面的損傷或者異物等缺陷,則不能良好地形成圖案,成為產(chǎn)品不良的原因。因此,一直以來,使用缺陷檢查裝置來進(jìn)行玻璃基板表面損傷或者異物等的缺陷檢查。
為了實(shí)施缺陷檢查,有必要將玻璃基板搬運(yùn)到缺陷檢查裝置來進(jìn)行檢查。以往,使用機(jī)器人或者輥式輸送機(jī)等來搬運(yùn),但是在搬運(yùn)時(shí),機(jī)器人的吸附墊片、輥式輸送機(jī)的輥所使用的材料附著在玻璃基板上,導(dǎo)致?lián)p傷或者異物缺陷。因此,在專利文獻(xiàn)1(日本特開2006-188313號(hào)公報(bào))中,作為非接觸地搬運(yùn)玻璃基板的技術(shù)記載了如下結(jié)構(gòu):吸附玻璃基板端部并保持,使玻璃基板氣懸浮來搬運(yùn)玻璃基板。另外,在專利文獻(xiàn)2(日本特開平9-257642號(hào)公報(bào))中記載了玻璃基板上的損傷或者異物的檢查方法。
對(duì)于上述通過氣懸浮來搬運(yùn)玻璃基板的方式,存在如下問題:由于搬運(yùn)時(shí)的慣性,會(huì)產(chǎn)生玻璃基板前端部跳起等,由此失去搬運(yùn)方向上的平坦性,檢查精度不高。隨著近期玻璃基板變薄,問題愈加明顯。
專利文獻(xiàn)1中雖然公開了搬運(yùn)玻璃基板并在停止后進(jìn)行處理,但是沒有認(rèn)識(shí)到搬運(yùn)過程中進(jìn)行檢查時(shí)的上述問題,更沒有公開針對(duì)問題的解決方案。另外,專利文獻(xiàn)2中雖然公開了光學(xué)式的檢查裝置,但是沒有認(rèn)識(shí)到搬運(yùn)過程中進(jìn)行檢查的上述問課,也沒有公開解決方案。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明鑒于上述課題,目的在于提供能夠確保玻璃基板在搬運(yùn)方向的平坦性、高精度地進(jìn)行檢查的玻璃基板缺陷檢查裝置或者玻璃基板缺陷檢查方法。
為了達(dá)成上述目的,本發(fā)明至少具有如下特征。
本發(fā)明的第一方案的特征是,在通過空氣產(chǎn)生懸浮力來使玻璃基板懸浮,將玻璃基板向不存在上述懸浮力的檢查區(qū)域搬運(yùn),在上述檢查區(qū)域內(nèi)對(duì)上述玻璃基板進(jìn)行攝像并進(jìn)行檢查的玻璃基板缺陷檢查裝置或者檢查方法中,降低上述檢查區(qū)域內(nèi)的上述玻璃基板搬運(yùn)方向的端部的跳起導(dǎo)致的位移量,進(jìn)行上述檢查。
另外,本發(fā)明的第二方案的特征是,如下進(jìn)行所述降低:測(cè)定所述檢查區(qū)域內(nèi)的所述玻璃基板的所述位移量,基于所述位移量測(cè)定結(jié)果,使進(jìn)行所述攝像的攝像單元移動(dòng)。
并且,本發(fā)明的第三方案的特征是,預(yù)先設(shè)定所述檢查區(qū)域內(nèi)的所述玻璃基板的搬運(yùn)速度的速度模式,基于所述預(yù)先設(shè)定的所述加速度來檢查所述玻璃基板。
并且,本發(fā)明的第四方案的特征是,檢查所述玻璃基板內(nèi)的氣泡、所述玻璃基板表面存在的損傷的至少一種。
并且,本發(fā)明的第五方案的特征是,所述位移量測(cè)定單元為非接觸式激光位移儀。
并且,本發(fā)明的第六方案的特征是,所述檢查以如下方法進(jìn)行:在所述進(jìn)行搬運(yùn)的搬運(yùn)裝置的下部設(shè)置對(duì)所述玻璃基板進(jìn)行照明的照明單元,在所述搬運(yùn)裝置的上部設(shè)置所述進(jìn)行攝像的攝像單元。
本發(fā)明的效果如下。
根據(jù)本發(fā)明,能夠提供可確保玻璃基板在搬運(yùn)方向的平坦性、高精度地進(jìn)行檢查的玻璃基板缺陷檢查裝置或者玻璃基板缺陷檢查方法。
附圖說明
圖1是表示玻璃基板缺陷檢查裝置的第一實(shí)施方式的塊圖。
圖2是表示對(duì)本發(fā)明玻璃基板缺陷檢查裝置的第一實(shí)施方式的搬運(yùn)部從上部進(jìn)行觀察得到的概略結(jié)構(gòu)的圖。
圖3是表示精密懸浮載物臺(tái)和高懸浮部載物臺(tái)的結(jié)構(gòu)的圖。
圖4是表示離開精密懸浮載物臺(tái)端面的位置上玻璃基板前端位移量的測(cè)定結(jié)果的圖。
圖5是表示本發(fā)明玻璃基板缺陷檢查裝置的第一實(shí)施方式的檢查部的結(jié)構(gòu)的圖。
圖6是表示在一臺(tái)玻璃基板檢查裝置中確保玻璃基板平坦性的本發(fā)明第二實(shí)施方式的控制方法。
圖中:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于株式會(huì)社日立高新技術(shù),未經(jīng)株式會(huì)社日立高新技術(shù)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110243261.2/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





