[發(fā)明專利]半導體器件有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110241326.X | 申請日: | 2011-08-17 |
| 公開(公告)號: | CN102376709A | 公開(公告)日: | 2012-03-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 小山雅紀;大倉康嗣;添野明高;永岡達司;杉山隆英;青井佐智子;井口紘子 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社電裝;豐田自動車株式會社 |
| 主分類號: | H01L27/06 | 分類號: | H01L27/06;H01L29/06;H01L29/10;H01L29/861;H01L29/739 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 陳松濤;夏青 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導體器件 | ||
1.一種半導體器件,包括:
半導體襯底(32),所述半導體襯底(32)包括第一導電類型的漂移層(30)和設(shè)置于所述漂移層(30)上的第二導電類型的基底層(31),所述漂移層(30)的與所述基底層(31)相對的表面界定所述半導體襯底(32)的第一表面(33),所述基底層(31)的與所述漂移層(30)相對的表面界定所述半導體襯底(32)的第二表面(34);
第二導電類型的集電極層(45),與所述半導體襯底(32)的所述第二表面(34)相鄰設(shè)置;
第一導電類型的陰極層(46),在與所述集電極層(45)相同的水平面上,與所述半導體襯底(32)的所述第二表面(34)相鄰設(shè)置;以及
集電極電極(47),設(shè)置于所述集電極層(45)和所述陰極層(46)上,其中
所述半導體襯底(32)的相對于沿所述第一表面(33)的方向包括所述集電極層(45)的區(qū)段構(gòu)成IGBT單元(10),作為IGBT元件工作,所述半導體襯底(32)的相對于沿所述第一表面的方向包括所述陰極層(46)的區(qū)段構(gòu)成二極管單元(20),作為二極管元件工作,其中
所述IGBT單元(10)包括:
穿過所述基底層(31)并到達所述漂移層(30)的溝槽(35);
設(shè)置于所述溝槽(35)的內(nèi)表面上的柵極絕緣膜(36);
設(shè)置于所述溝槽(35)之內(nèi)的柵極絕緣膜(36)上的柵極電極(37a);
設(shè)置于所述基底層(31)的表面部分中的第一導電類型的發(fā)射極區(qū)(38),所述發(fā)射極區(qū)(38)接觸所述基底層(31)之內(nèi)的所述溝槽(35)的側(cè)表面;
設(shè)置于所述基底層(31)的表面部分中的第二導電類型的第一接觸區(qū)(39);
相對于所述溝槽(35)的深度,在比所述發(fā)射極區(qū)(38)和所述第一接觸區(qū)(39)更深的位置設(shè)置于所述基底層(31)之內(nèi)的第一導電類型的浮置層(40),所述浮置層(40)將所述基底層(31)分成第一部分以及第二部分,所述第一部分包括所述發(fā)射極區(qū)(38)和所述第一接觸區(qū)(39),所述第二部分與所述漂移層(30)相鄰;以及
被設(shè)置成覆蓋柵極電極(37a)的末端的層間絕緣膜(41),
所述二極管單元(20)包括設(shè)置于所述基底層(31)的表面部分中的第二導電類型的第二接觸區(qū)(42),并且
所述IGBT單元(10)和所述二極管單元(20)還包括電連接到所述發(fā)射極區(qū)(38)、所述第一接觸區(qū)(39)和所述第二接觸區(qū)(42)的發(fā)射極電極(43)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導體器件,其中
所述二極管單元(20)包括:
穿過所述基底層(31)并到達所述漂移層(30)的溝槽(35);
設(shè)置于所述溝槽(35)的內(nèi)表面上的柵極絕緣膜(36);以及
設(shè)置于所述溝槽(35)之內(nèi)的所述柵極絕緣膜(36)上的溝槽電極(37b),并且
所述溝槽電極(37b)電連接到所述發(fā)射極電極(43)以提供發(fā)射極-接地結(jié)構(gòu)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導體器件,其中
在所述二極管單元(20)中,在所述溝槽電極(37b)上設(shè)置所述發(fā)射極電極(43)以在所述發(fā)射極電極(43)和所述溝槽電極(37b)之間直接電連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導體器件,其中
所述二極管單元(20)包括設(shè)置于所述第一表面(33)上以覆蓋所述溝槽電極(37b)的末端的層間絕緣膜(41),
所述二極管單元(20)的溝槽(35)在沿所述半導體襯底(32)的所述第一表面(33)的方向上延伸,并且
相對于所述二極管單元(20)的溝槽(35)的縱向,在所述二極管單元(20)的溝槽(35)的末端處,所述溝槽電極(37b)電連接到所述發(fā)射極電極(43)。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導體器件,其中
所述二極管單元(20)包括設(shè)置于所述第一表面(33)上以覆蓋所述溝槽電極(37b)的末端的層間絕緣膜(41),
所述二極管單元(20)的溝槽(35)在沿所述半導體襯底(32)的所述第一表面(33)的方向上延伸,并且
所述IGBT單元(10)和所述二極管單元(20)包括控制電極(56),所述控制電極相對于所述二極管單元(20)的溝槽(35)的縱向,在所述二極管單元(20)的溝槽(35)的末端處電連接到所述溝槽電極(37b)。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的多個半導體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





