[發明專利]陣列測試裝置無效
| 申請號: | 201110241163.5 | 申請日: | 2011-08-22 |
| 公開(公告)號: | CN102819992A | 公開(公告)日: | 2012-12-12 |
| 發明(設計)人: | 崔淵圭 | 申請(專利權)人: | 塔工程有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00;G01R31/00 |
| 代理公司: | 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 張文;郭放 |
| 地址: | 韓國慶*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 陣列 測試 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種用于測試玻璃面板的陣列測試裝置。
背景技術
一般來說,平板顯示器(FPD)是比具有布勞恩管(Braun?Tube)的電視機或顯示器更輕更薄的圖像顯示設備。液晶顯示器(LCD)、等離子體顯示面板(PDP)、場致發射顯示器(FED)以及有機發光二極管(OLED)是已開發并使用的平板顯示器的代表性實例。
這些FPD中的LCD是以向排列為矩陣形狀的液晶單元獨立地提供基于圖像信息的數據信號、并且因此控制液晶單元的透光性的方式,來顯示期望圖像的圖像顯示器。LCD薄且輕,而且還具有包括功耗低、以及操作電壓低在內的許多其它優點,因此被廣泛地使用。下面將描述一種制造用在這種LCD中的液晶面板的典型方法。
首先,在上玻璃面板上形成彩色濾光片和共用電極。之后,在對應于上玻璃面板的下玻璃面板上形成薄膜晶體管(TFT)和像素電極。其后,將配向膜層分別施加至上玻璃面板和下玻璃面板。之后,摩擦配向膜層,以便為后來將要形成在這些配向膜層之間的液晶層中的液晶分子提供預傾角和配向方向。
此后,通過將密封膠涂布至玻璃面板中的至少一個來形成密封膠圖案,以保持玻璃面板之間的間隙、防止液晶漏出、并且密封玻璃面板之間的間隙。其后,在玻璃面板之間形成液晶層,從而完成液晶面板。
在上述過程中,測試具有TFT和像素電極的下玻璃面板(下文中稱為“玻璃面板”)是否有缺陷的操作,是通過例如檢測柵極線或數據線是否斷開、或者檢測像素單元是否顯色不佳來實現的。
典型地,陣列測試裝置用于測試玻璃面板。所述陣列測試裝置包括光源、設置有電光材料層的調制器、和攝像單元。在預定強度的電壓施加到調制器和玻璃面板的狀態下,調制器接近玻璃面板。這樣,如果玻璃面板沒有缺陷,則調制器與玻璃面板之間形成電場。然而,如果玻璃面板有缺陷,則調制器與玻璃面板之間不形成電場、或電場具有低強度。陣列測試裝置測量調制器與玻璃面板之間的電場強度,并且利用所測得的電場強度來確定玻璃面板是否有缺陷。
在將玻璃面板放置在支撐板上之后對玻璃面板進行測試。為此,支撐板中形成有多個連接至負壓源的吸氣孔。玻璃面板通過經由吸氣孔抽吸空氣而吸附和緊固到支撐板上。然而,在傳統技術中,因為空氣同時被吸入多個吸氣孔中,所以玻璃面板鄰近吸氣孔的區域被可靠地吸附和附著在支撐板上,但是在玻璃面板的除了鄰近吸氣孔的區域外的區域中,在玻璃面板附著在支撐板之前空氣可能無法經由吸氣孔排出,因此在玻璃面板與支撐板的上表面之間形成了不希望的空氣層。空氣層使玻璃面板的上表面的高度不一致。其結果是,存在玻璃面板不能被正確測試的問題。
發明內容
因此,針對以上在現有技術中所產生的問題提出本發明,并且本發明的目的是提供一種陣列測試裝置,所述陣列測試裝置構造為使得當玻璃面板吸附在支撐板上時防止在玻璃面板與支撐板之間形成空氣層,以便可以正確地測試玻璃面板。
為了實現以上目的,本發明提供一種陣列測試裝置,包括:支撐板,支撐板具有測試部分,玻璃面板的目標部分附著于測試部分,且在支撐板中位于測試部分的兩側形成有多個吸氣孔,其中,在支撐板的測試部分的面向玻璃面板的表面中形成有多個吸附槽,每個吸附槽與吸氣孔中的至少一個相連通。
在根據本發明的陣列測試裝置中,在附著有玻璃面板的目標區域的支撐板的測試部分中形成有與吸氣孔相連通的吸附槽。因此,當玻璃面板吸附在支撐板上時,玻璃面板的目標區域與支撐板的測試部分之間存在的空氣可以經由吸附槽排出。因此,本發明可以防止在玻璃面板與支撐板之間形成空氣層,因而可靠地保持玻璃面板的上表面水平。其結果是,可以正確地測試玻璃面板。
此外,在根據本發明的陣列測試裝置中,玻璃面板不但可以吸附在具有吸氣孔的吸附部分上,還可以吸附在具有吸附槽的測試部分上。因此,玻璃面板可以更可靠地支撐在支撐板上,以便可以更可靠并正確地進行玻璃面板的測試。
附圖說明
由以下結合附圖的詳細描述,可以更加清晰地理解本發明前述的和其它的目的、特征和優點,其中:
圖1是圖示根據本發明的陣列測試裝置的立體圖;
圖2是示出圖1的陣列測試裝置的測試模塊的示意圖;
圖3是示出圖1的陣列測試裝置的測試模塊的另一示例的示意圖;
圖4是示出圖1的陣列測試裝置的支撐板的立體圖;
圖5是示出圖1的陣列測試裝置的支撐板的另一示例的立體圖;以及
圖6是示出在圖1的陣列測試裝置的支撐板中形成的吸附槽的剖視圖。
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