[發明專利]光纖彎曲損耗的長度方向分布的測量方法

有效

• 申請號: 201110240969.2
• 申請日: 2011-08-18
• 公開（公告）號: CN102519707A
• 公開（公告）日: 2012-06-27
• 發明（設計）人: 谷川莊二;石田格;松尾昌一郎;倉嶋利雄;中島和秀;清水智彌;松井隆;五藤幸弘
• 申請（專利權）人: 株式會社藤倉;日本電信電話株式會社
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00;G02B6/44;G02B6/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李偉;王軼

1.一種光纖彎曲損耗的長度方向分布的測量方法，其特征在于，

根據通過光纖的雙向OTDR測量而得到的2個后方散射光的位置x處的2個后方散射光強度計算出算術平均值I(x)，

根據由所述算術平均值算出的所述位置x處的模場直徑2W(x)與相對折射率差Δ(x)，得到所述位置x處的彎曲損耗值。

2.根據權利要求1所述的光纖彎曲損耗的長度方向分布的測量方法，其特征在于，

在得到所述彎曲損耗值時，將成為測量對象的光纖看作具有與所述光纖的折射率分布等效的階梯型折射率分布的光纖，

從具有所述階梯型折射率分布的光纖的標準化頻率V、纖芯半徑a與所述模場直徑2W的關系式，算出所述位置x處的所述彎曲損耗值。

3.根據權利要求1或2所述的光纖彎曲損耗的長度方向分布的測量方法，其特征在于，

在得到所述位置x處的所述模場直徑2W(x)時，使用所述光纖中的任意選擇的2點參照點處的所述模場直徑，根據所述算術平均值I(x)得到所述模場直徑2W(x)。

4.一種光纖實際的彎曲損耗的長度方向分布的測量方法，其特征在于，

使用通過權利要求1～3中任意一項所述的方法而得到的彎曲損耗的長度方向分布、與在所述長度方向上任意選擇的點處實際測量到的彎曲損耗的值，得到所述長度方向上的所述位置x處的實際的彎曲損耗值。

5.一種光纖彎曲損耗的長度方向分布的測量方法，其特征在于，

使用根據通過光纖的雙向OTDR測量而得到的2個后方散射光波形的位置x處的2個后方散射光強度算出的算術平均值I(x)，導出模場直徑2W(x)，

基于預先求得的模場直徑2W(x)與彎曲損耗值的相關關系，求出所述位置x處的彎曲損耗值。

6.根據權利要求1～5中任意一項所述的光纖彎曲損耗的長度方向分布的測量方法，其特征在于，

測量對象的光纖由彎曲損耗改善型光纖構成。

7.根據權利要求6所述的光纖彎曲損耗的長度方向分布的測量方法，其特征在于，

所述彎曲損耗改善型光纖是帶空孔的光纖、帶槽的光纖或者帶微細氣泡的光纖。

8.根據權利要求1～7中任意一項所述的光纖彎曲損耗的長度方向分布的測量方法，其特征在于，

光纖被鋪設。

9.一種光線路的試驗方法，其特征在于，

使用權利要求1～8中任意一項所述的測量方法，檢測并確定被鋪設的光線路的彎曲損耗的缺陷位置。

10.一種光纜的制造方法，其特征在于，

由光纖線制造光纜，

通過使用權利要求1～8中任意一項所述的測量方法，檢測所述被制造的光纜的彎曲損耗的缺陷位置，來測量所述被制造的光纜的特性。

11.一種光纖軟線的制造方法，其特征在于，

由光纖線制造光纖軟線，

通過使用權利要求1～8中任意一項所述的測量方法，檢測所述被制造的光纖軟線的彎曲損耗的缺陷位置，來測量所述被制造的光纖軟線的特性。

12.一種光纖線的制造方法，其特征在于，

制造光纖線，

通過使用權利要求1～8中任意一項所述的測量方法，檢測所述被制造的光纖線的彎曲損耗的缺陷位置，來測量所述被制造的光纖線的特性。