[發(fā)明專利]含異方IP的客戶方芯片天線效應(yīng)的檢查方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110240251.3 | 申請(qǐng)日: | 2011-08-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102955123A | 公開(公告)日: | 2013-03-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 潘炯;施龍海;童洪亮;沈景龍;倪凌云;孫長(zhǎng)江 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海華虹NEC電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 上海浦一知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31211 | 代理人: | 張?bào)K |
| 地址: | 201206 上*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 含異方 ip 客戶 芯片 天線 效應(yīng) 檢查 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種芯片的檢查方法,具體涉及一種含異方IP的客戶方芯片天線效應(yīng)的檢查方法。
背景技術(shù)
在芯片(Wafer)制造的過(guò)程中,因?yàn)樽鱌LASM(等離子)注入的關(guān)系,大量的電荷積累可能會(huì)通過(guò)Wafer表面露出的導(dǎo)體層傳輸?shù)介T級(jí)區(qū)域,導(dǎo)致門級(jí)氧化膜受損,影響器件的成品率,這一現(xiàn)象被稱為“天線效應(yīng)”。
為避免天線效應(yīng),一般在物理版圖完成后,利用軟件工具對(duì)芯片進(jìn)行Antenna(天線)DRC(Design?Rule?Check)檢查。但是IP(一種芯片單元)模塊的供應(yīng)商出于對(duì)己方知識(shí)產(chǎn)權(quán)的保護(hù),一般不會(huì)向設(shè)計(jì)公司提供完整的IP模塊版圖以保證客戶驗(yàn)證的正常進(jìn)行,而只提供該IP模塊的使用權(quán),因此使用另一方IP模塊的設(shè)計(jì)公司只能獲得僅包含該類IP模塊的接口(Port)信息的文件而無(wú)法獲得內(nèi)部的具體版圖,無(wú)法對(duì)全芯片版圖進(jìn)行Antenna的檢查,這將極有可能會(huì)導(dǎo)致送出數(shù)據(jù)(tapeout),并且在Foundry(代工廠)合成完整數(shù)據(jù)后發(fā)現(xiàn)大量的天線錯(cuò)誤(Antenna?Violation)。
為解決上述問題,提出以下兩種解決方法:
1、IP模塊供應(yīng)商在提供的IP模塊的每個(gè)引出Port上加接地的二極管(Diode)用來(lái)泄放電荷,這樣可以保證與這些接口相連的線路不會(huì)有Antenna問題。
這種方法的缺點(diǎn)是,很影響IP模塊的面積,所以不被廣泛使用。
2、IP模塊供應(yīng)商利用類似Cadence公司的Abstract(一種軟件名稱)工具抽取出類似于如下的文本文件:
該文件即為Antenna?LEF(Library?Exchange?Format庫(kù)交換格式)文本,其記錄了IP模塊的天線效應(yīng)信息,該文件可以被自動(dòng)布局布線(Place&Route)工具讀取,使設(shè)計(jì)公司可以在布局布線工具上通過(guò)它進(jìn)行Antenna檢查。
這種方法的缺點(diǎn)是,可能引起矛盾的結(jié)果。Antenna?LEF只能應(yīng)用于布局布線工具中,但布局布線工具產(chǎn)生的數(shù)據(jù)并非最終數(shù)據(jù)。設(shè)計(jì)公司tapeout前必須對(duì)最終數(shù)據(jù)使用DRC(Design?Rule?Check)工具再進(jìn)行Antenna?DRC檢查。而兩者因?yàn)樽x取的數(shù)據(jù)不同,很可能會(huì)導(dǎo)致DRC的結(jié)果也不同,造成客戶無(wú)所適從,如圖1所示。
另外,有些客戶在布局布線之后,會(huì)使用版圖工具對(duì)布局布線結(jié)果進(jìn)行再修改,修改完的版圖無(wú)法用Antenna?LEF在布局布線工具中進(jìn)行檢查。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種含異方IP的客戶方芯片天線效應(yīng)的檢查方法,它可以在IP模塊供應(yīng)商不提供給客戶完整IP模塊版圖的前提下,使客戶在最終數(shù)據(jù)給出時(shí)能夠保證己方芯片的Antenna問題是被修復(fù)的。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明含異方IP的客戶方芯片天線效應(yīng)的檢查方法的技術(shù)解決方案為:
包括以下步驟:
第一步,識(shí)別IP模塊版圖中所有的輸入輸出接口,包括接口的名稱、位置信息;
所述識(shí)別方法是:采用Perl程序以二進(jìn)制的方式讀取IP模塊的物理GDSII版圖,通過(guò)哈希結(jié)構(gòu)儲(chǔ)存IP模塊物理版圖的每個(gè)階層、該階層被調(diào)用的信息以及每個(gè)階層上的Text標(biāo)記;通過(guò)哈希結(jié)構(gòu)計(jì)算出該GDSII版圖中的頂層,將頂層中的Text信息反饋到用戶操作界面,頂層中的Text信息即為IP模塊版圖中的輸入輸出接口。
第二步,根據(jù)信息安全情況和生成數(shù)據(jù)的大小,在用戶操作界面上通過(guò)用戶輸入選擇用于生成最終數(shù)據(jù)所用的輸入輸出接口(Port);
第三步,以所選擇的輸入輸出接口為起點(diǎn),自上而下地沿著連接每個(gè)接口的線路,將與天線效應(yīng)有關(guān)的線路都抽取出來(lái);
具體方法是:生成虛擬的各個(gè)接口的Text圖形塊,將與這些虛擬的圖形塊相連接的與Antenna有關(guān)的線路抽取出來(lái)。
第四步,將抓取出來(lái)的線路生成一個(gè)能夠被用戶版圖工具讀取的GDSII格式文件,該文件僅包含天線的相關(guān)信息,提供給客戶;
第五步,客戶在做物理版圖天線效應(yīng)檢查時(shí),將該GDSII格式文件合成到主芯片中,即可進(jìn)行最終數(shù)據(jù)的物理版圖驗(yàn)證。
本發(fā)明可以達(dá)到的技術(shù)效果是:
本發(fā)明能夠生成一個(gè)客戶方可直接用于天線設(shè)計(jì)規(guī)則檢查的數(shù)據(jù),使設(shè)計(jì)公司在給出數(shù)據(jù)前可以通過(guò)工具進(jìn)行接近實(shí)體的天線效應(yīng)檢查,從而避免客戶因違反設(shè)計(jì)規(guī)則而造成的數(shù)據(jù)反復(fù)修改。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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