[發明專利]半導體器件測試插座防錯裝置

無效

• 申請號: 201110240197.2
• 申請日: 2011-08-19
• 公開（公告）號: CN102955048A
• 公開（公告）日: 2013-03-06
• 發明（設計）人: 王映懷;陳宏仕;周黎軍;吳文才;陳春利
• 申請（專利權）人: 汕頭華汕電子器件有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 汕頭市南粵專利商標事務所(特殊普通合伙) 44301
• 代理人: 何辦君

1.半導體器件測試插座防錯裝置，包括有測試盒(1)、若干根手測線(2)，手測線(2)的一端形成接口，以配合測試盒(1)上的接口對接；而手測線(2)的另一端集結在一手測插座上，手測插座供半導體器件插入測試；其特征在于：于若干根手測線(2)中的一條線中間接入一個四口的母插頭(3)，母插頭(3)的兩個接線端子分別連接該手測線(2)的兩切斷端，而母插頭(3)的另外一組接線端子則進行斷開；一與母插頭(3)配套的四口公插頭(4)的兩個接線端子將機械手的開始信號線切斷，而公插頭(4)的另外一組接線端子則進行短路。