[發(fā)明專利]一種位移/撓度測量系統(tǒng)與方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110236757.7 | 申請日: | 2011-08-17 |
| 公開(公告)號: | CN102305612A | 公開(公告)日: | 2012-01-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李素貞;趙鳴;高乃輝;李杰 | 申請(專利權(quán))人: | 同濟(jì)大學(xué) |
| 主分類號: | G01B21/02 | 分類號: | G01B21/02;G01B21/32;G01M5/00;G08C17/02 |
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| 地址: | 200092 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 位移 撓度 測量 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種位移/撓度測量系統(tǒng),其特征在于:其包括:
傾角傳感器,布置于待測的結(jié)構(gòu)或構(gòu)件上采集所在測點(diǎn)的傾角值,且第一個布置的傾角傳感器所在的測點(diǎn)作為基準(zhǔn)點(diǎn);
數(shù)據(jù)采集裝置,采集各傾角傳感器量測的各測點(diǎn)的傾角值,并對采集的傾角值進(jìn)行調(diào)理;
數(shù)據(jù)發(fā)送裝置,將調(diào)理后的傾角值發(fā)送給數(shù)據(jù)分析裝置;
數(shù)據(jù)分析裝置,根據(jù)接收到的傾角值,并配合各測點(diǎn)相對于基準(zhǔn)點(diǎn)的位置信息,計(jì)算位移函數(shù),獲得位移/撓度情況。
2.如權(quán)利要求1所述的位移/撓度測量系統(tǒng),其特征在于:所述傾角傳感器采用無線傾角傳感器,包括液體擺式傾角傳感器、振弦式傾角傳感器或電容式傾角傳感器。
3.如權(quán)利要求1所述的位移/撓度測量系統(tǒng),其特征在于:所述傾角傳感器的最佳設(shè)置數(shù)量為7個。
4.如權(quán)利要求1所述的位移/撓度測量系統(tǒng),其特征在于:所述基準(zhǔn)點(diǎn)選在位移為零或受外部荷載擾動較小的測點(diǎn)。
5.如權(quán)利要求1所述的位移/撓度測量系統(tǒng),其特征在于:所述計(jì)算位移函數(shù),具體包括以下步驟:
1)根據(jù)接收到的傾角值,并配合各測點(diǎn)相對于基準(zhǔn)點(diǎn)的坐標(biāo)信息,以基準(zhǔn)點(diǎn)處為坐標(biāo)零點(diǎn),得到各測點(diǎn)數(shù)據(jù)(x0,θ0)、(x1,θ1)、...、(xi,θi)、...、(xn,θn),其中,x為測點(diǎn)的位置坐標(biāo)值,θ為測點(diǎn)的傾角值,i表示數(shù)據(jù)點(diǎn)在總體數(shù)據(jù)的位置,0≤i≤n;
2)采用具有二階連續(xù)的三次樣條函數(shù)來進(jìn)行傾角函數(shù)的插值計(jì)算,假設(shè)(xi-1,θi-1)、(xi,θi)兩測點(diǎn)之間的插值函數(shù)為Si(x),插值函數(shù)S(x)在整個測量區(qū)間內(nèi)連續(xù),且滿足一階、二階導(dǎo)數(shù)連續(xù),同時在測點(diǎn)處的插值等于測點(diǎn)值,計(jì)算出插值函數(shù)S(x);
3)以基準(zhǔn)點(diǎn)的位移值為已知條件,對插值函數(shù)S(x)積分得出位移函數(shù)y(x)。
6.一種位移/撓度測量方法,其特征在于:其包括以下步驟:
1)傾角傳感器采集其所在測點(diǎn)的傾角值,且第一個布置的傾角傳感器所在的測點(diǎn)作為基準(zhǔn)點(diǎn);
2)采集各傾角傳感器量測的各測點(diǎn)的傾角值,并對采集的傾角值進(jìn)行調(diào)理;
3)將調(diào)理后的傾角值發(fā)送給數(shù)據(jù)分析裝置;
4)根據(jù)接收到的傾角值,并配合各測點(diǎn)相對于基準(zhǔn)點(diǎn)的位置信息,計(jì)算位移函數(shù),獲得位移/撓度情況。
7.如權(quán)利要求6所述的位移/撓度測量方法,其特征在于:所述傾角傳感器采用無線傾角傳感器,包括液體擺式傾角傳感器、振弦式傾角傳感器或電容式傾角傳感器。
8.如權(quán)利要求6所述的位移/撓度測量方法,其特征在于:所述傾角傳感器的最佳設(shè)置數(shù)量為7個。
9.如權(quán)利要求6所述的位移/撓度測量方法,其特征在于:所述基準(zhǔn)點(diǎn)選在位移為零或受外部荷載擾動較小的測點(diǎn)。
10.如權(quán)利要求6所述的位移/撓度測量方法,其特征在于:所述計(jì)算位移函數(shù),具體包括以下步驟:
1)根據(jù)接收到的傾角值,并配合各測點(diǎn)相對于基準(zhǔn)點(diǎn)的坐標(biāo)信息,以基準(zhǔn)點(diǎn)處為坐標(biāo)零點(diǎn),得到各測點(diǎn)數(shù)據(jù)(x0,θ0)、(x1,θ1)、...、(xi,θi)、...、(xn,θn),其中,x為測點(diǎn)的位置坐標(biāo)值,θ為測點(diǎn)的傾角值,i表示數(shù)據(jù)點(diǎn)在總體數(shù)據(jù)的位置,0≤i≤n;
2)采用具有二階連續(xù)的三次樣條函數(shù)來進(jìn)行傾角函數(shù)的插值計(jì)算,假設(shè)(xi-1,θi-1)、(xi,θi)兩測點(diǎn)之間的插值函數(shù)為Si(x),插值函數(shù)S(x)在整個測量區(qū)間內(nèi)連續(xù),且滿足一階、二階導(dǎo)數(shù)連續(xù),同時在測點(diǎn)處的插值等于測點(diǎn)值,計(jì)算出插值函數(shù)S(x);
3)以基準(zhǔn)點(diǎn)的位移值為已知條件,對插值函數(shù)S(x)積分得出位移函數(shù)y(x)。
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