[發明專利]一種線偏振光磁光效應檢測方法及其裝置

有效

• 申請號: 201110235971.0
• 申請日: 2011-08-17
• 公開（公告）號: CN102359865A
• 公開（公告）日: 2012-02-22
• 發明（設計）人: 王衛峰;李鵬;徐峰;陸衛國;姚挺
• 申請（專利權）人: 中國科學院西安光學精密機械研究所
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01J4/00
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 徐平

1.一種線偏振光磁光效應檢測方法，包括以下步驟：

1)設置偏振棱鏡，使被檢線偏振光入射至偏振棱鏡通光孔并出射至光電 探測器；

2)調節偏振棱鏡，使偏振棱鏡的透光軸與被檢線偏振光的光軸在與偏振 光入射方向垂直的平面內成90°夾角，記此時偏振棱鏡的透光軸位于所述平面 內a位置；

3)水平轉動偏振棱鏡90°，再根據光電探測器的輸出信號，水平微調偏 振棱鏡，使偏振棱鏡的透光軸與被檢線偏振光的光軸成0°或180°夾角，記此 時偏振棱鏡的透光軸位于所述平面內b位置，并記錄此時的角度值；

4)多次操作步驟2)和3)；

5)根據多組所述測量角度值，統計計算得出被檢線偏振光光軸的穩定度。

2.根據權利要求1所述的線偏振光磁光效應檢測方法，其特征在于：步驟 3)得出與b位置相對應的角度值為x_i；步驟4)重復操作n次步驟2)和3)； 步驟5)所述統計計算是根據以下公式

δ=Σi=1n(xi-x‾)2n-1]]>

計算得到被檢線偏振光光軸的穩定度δ。

3.一種線偏振光磁光效應檢測方法，包括以下步驟：

1)設置偏振棱鏡，使被檢線偏振光入射至偏振棱鏡通光孔并出射至光電 探測器；

2)調節偏振棱鏡，使偏振棱鏡的透光軸與被檢線偏振光的光軸在與偏振 光入射方向垂直的平面內成45°夾角，測得此位置下光電探測器檢測到的信號 光強度最大值I_max和最小值I_min；

3)被檢經過磁光調制線偏振光的磁光調制深度根據以下公式計算得到；

η＝(I_max-I_min)/(I_max+I_min)

4)根據步驟3)得到的磁光調制深度η的值，計算得到磁光調制的調制角 幅度為：

θ＝(arcsinη)/2。

4.一種線偏振光磁光效應檢測裝置，其特征在于：包括在入射光路上依次 設置的通光孔、偏振棱鏡、聚光透鏡以及光電探測器和用以帶動偏振棱鏡水平 旋轉的旋轉機構；所述旋轉機構上設置有用以測試偏振棱鏡水平旋轉角度的測 角碼盤。

5.根據權利要求4所述的線偏振光磁光效應檢測裝置，其特征在于：所述 偏振棱鏡、聚光透鏡和光電探測器置于一個密封的儀器罩內，所述光電探測器 固定于該儀器罩內的底面上；所述旋轉機構分為上、下兩個部分，其中下部包 括安裝于檢測裝置的基座上作為動力輸出的精密旋轉軸和微調旋鈕以及鎖緊旋 鈕，上部伸入所述儀器罩內形成旋轉架，所述偏振棱鏡和聚光透鏡依次位于該 旋轉架的中軸線上且以壓圈方式固定。

6.根據權利要求5所述的線偏振光磁光效應檢測裝置，其特征在于：所述 偏振棱鏡、聚光透鏡置于一個偏振棱鏡座上，偏振棱鏡通過石膏進行固定，聚 光透鏡通過壓圈進行固定，壓圈與偏振棱鏡座螺紋連接；偏振棱鏡座通過螺釘 固定于儀器罩內的底面上。