[發(fā)明專利]常關(guān)型場控溝道GaN異質(zhì)結(jié)二極管無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110234794.4 | 申請日: | 2011-08-16 |
| 公開(公告)號: | CN102280494A | 公開(公告)日: | 2011-12-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳萬軍;張競;汪志剛;魏進(jìn);張波 | 申請(專利權(quán))人: | 電子科技大學(xué) |
| 主分類號: | H01L29/861 | 分類號: | H01L29/861;H01L29/06 |
| 代理公司: | 電子科技大學(xué)專利中心 51203 | 代理人: | 葛啟函 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 常關(guān)型場控 溝道 gan 異質(zhì)結(jié) 二極管 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體器件技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及GaN異質(zhì)結(jié)二極管。
背景技術(shù)
氮化鎵(GaN)是第三代寬禁帶半導(dǎo)體材料的代表之一,具有如下優(yōu)異的特性:高的臨界擊穿電場(~3.5×106V/cm)、高電子遷移率(~2000cm2/V·s)、高的二維電子氣(2DEG)濃度(~1013cm-2)、高的高溫工作能力?;贕aN材料的異質(zhì)結(jié)場效應(yīng)晶體管(HFETs)(或高電子遷移率HMETs,調(diào)制摻雜場效應(yīng)晶體管MODFETs,以下統(tǒng)稱為HFETs)在半導(dǎo)體領(lǐng)域已經(jīng)取得廣泛應(yīng)用。該類器件具有反向阻斷電壓高、正向?qū)娮璧?、工作頻率高等特性,因此可以實(shí)現(xiàn)能滿足系統(tǒng)對半導(dǎo)體器件更大功率、更高頻率、更小體積和更惡劣高溫工作的要求。
二極管是半導(dǎo)體領(lǐng)域中極其重要的組成部分,近年來,基于GaN異質(zhì)結(jié)材料的二極管已經(jīng)取得了巨大的發(fā)展,但現(xiàn)階段的研究主要集中于GaN的傳統(tǒng)器件結(jié)構(gòu)(SBD和PiN)。一方面,這些傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)與最成熟的GaN開關(guān)器件AlGaN/GaN?HFET結(jié)構(gòu)不兼容,其發(fā)展沒有兼顧器件的相互集成,不適用于半導(dǎo)體向集成化、智能化、小型化發(fā)展的需要。另一方面,對于這些傳統(tǒng)器件結(jié)構(gòu)本身而言,由于其固有的工作機(jī)理決定了該類器件具有較大的開啟電壓以及較高的正向?qū)娮?。具體而言,GaN傳統(tǒng)二極管正向?qū)〞r電子所必須跨越的勢壘(PiN管的PN結(jié)勢壘或者SBD的金屬/GaN肖特基勢壘等)使得該類器件具有較差的器件性能,不利于降低器件功耗。如文獻(xiàn)Z.Z.et.al.,“High?voltage(450V)GaN?Schottky?rectifiers,”Appl.Phys.Lett.,vol.74,pp:1266-1268,Mar.,1999報道了采用Au作為陽極金屬的傳統(tǒng)SBD器件,其正向開啟電壓為4.2V。為了降低SBD器件的正向開啟電壓,文獻(xiàn)S.Yoshida,et.al.,“Low?on-voltage?operation?AlGaN/GaN?schottky?barrier?diode?with?a?dual?Schottky?structure”,IEICE?Trans.Electron.E88-C,pp.690-693,2005報道了具有低金屬功函數(shù)和高金屬功函數(shù)的雙金屬陽極的SBD器件,以優(yōu)化器件正向開啟電壓和反向耐壓的矛盾關(guān)系,從而實(shí)現(xiàn)了較低的正向開啟電壓(~2V),但該器件與傳統(tǒng)AlGaN/GaN?HFETs工藝不兼容。文獻(xiàn)Wanjun?Chen,et.al.,“High-performance?AlGaN/GaN?lateral?field-effect?rectifiers?compatible?with?high?electron?mobility?transistors”,Appl.Phys.Lett.,vol.92,253501,2008報道了采用氟等離子技術(shù)實(shí)現(xiàn)的場控功率整流器結(jié)構(gòu)(L-FER),該結(jié)構(gòu)通過肖特基-歐姆接觸構(gòu)成的復(fù)合陽極實(shí)現(xiàn)了對器件開啟與截止的電場控制,實(shí)現(xiàn)了較低的開啟電壓,但氟離子注入技術(shù)可能破壞AlGaN晶格完整性,并且器件的穩(wěn)定性也有待研究。
傳統(tǒng)的GaN異質(zhì)結(jié)二極管(如SBD)沒有場控電極結(jié)構(gòu),是一種常開型器件,正向?qū)娮栎^大、功耗較大;反相截止能力很差;與最成熟的GaN異質(zhì)結(jié)開關(guān)器件AlGaN/GaN?HFET結(jié)構(gòu)不兼容,不利于器件的應(yīng)用。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明基于GaN異質(zhì)結(jié)場控能帶模型(FBM:Field-effect?Band?Model),提出常關(guān)型場控溝道GaN異質(zhì)結(jié)二極管。該類二極管屬于常關(guān)型器件,具有較低的正向?qū)娮韬凸?,較強(qiáng)的反向截止能力,并且與AlGaN/GaN?HEMT功率開關(guān)器件工藝兼容,有利于器件的應(yīng)用。
本發(fā)明的技術(shù)方案可以概括為:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于電子科技大學(xué),未經(jīng)電子科技大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110234794.4/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的
- 常關(guān)態(tài)場發(fā)射型射頻微機(jī)械開關(guān)
- 常關(guān)態(tài)場發(fā)射型射頻微機(jī)械開關(guān)
- 常關(guān)型場控溝道GaN異質(zhì)結(jié)二極管
- 一種場致隧穿增強(qiáng)型HEMT器件
- 一種具有常關(guān)溝道的高壓多異質(zhì)結(jié)器件
- 一種高耐壓高導(dǎo)通性能P型柵極常關(guān)型HEMT器件及其制備方法
- 一種高耐壓高導(dǎo)通性能P型柵極常關(guān)型HEMT器件
- 一種高閾值電壓常關(guān)型高電子遷移率晶體管及其制備方法
- 一種退火摻雜實(shí)現(xiàn)常關(guān)型HEMT器件的方法
- 雙作用氣缸控制氣路
- 用于測試異質(zhì)結(jié)太陽能電池的IV測試儀
- 異質(zhì)結(jié)遂穿場效應(yīng)晶體管及其制備方法
- 基于天線直接匹配的鍺硅異質(zhì)結(jié)雙極晶體管探測器
- 一種具有鈣鈦礦能級修飾層的雙體異質(zhì)結(jié)有機(jī)太陽能電池及其制備方法
- 一種硫化鉬-石墨烯異質(zhì)結(jié)光電導(dǎo)探測器及其制備方法
- 一種異質(zhì)結(jié)電池制備方法
- 一種微管式三維異質(zhì)結(jié)器件結(jié)構(gòu)及其制備方法和應(yīng)用
- 半導(dǎo)體器件制備方法及半導(dǎo)體器件
- 高效異質(zhì)結(jié)光伏組件
- 異質(zhì)結(jié)太陽能電池片的制造方法及異質(zhì)結(jié)太陽能電池片





