[發明專利]一種氧化硅的選擇性刻蝕溶液及其制備方法和應用有效
| 申請號: | 201110234519.2 | 申請日: | 2011-08-16 |
| 公開(公告)號: | CN102254814A | 公開(公告)日: | 2011-11-23 |
| 發明(設計)人: | 李濤;周春蘭;宋洋;郜志華;羅運強;段野;李友忠;王文靜 | 申請(專利權)人: | 中國科學院電工研究所;中輕太陽能電池有限責任公司 |
| 主分類號: | H01L21/311 | 分類號: | H01L21/311;H01L31/18 |
| 代理公司: | 北京科迪生專利代理有限責任公司 11251 | 代理人: | 關玲 |
| 地址: | 100190 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 氧化 選擇性 刻蝕 溶液 及其 制備 方法 應用 | ||
1.一種氧化硅的選擇性刻蝕溶液及其制備方法和應用,其特征是,所述的選擇性刻蝕溶液由質量濃度為1%~10%的氫氟酸溶液和相對介電常數大于氫氟酸相對介電常數83.6的溶劑組成,所述的氫氟酸溶液與所述的溶劑的體積比為1∶1~10∶1。
2.一種權利要求1所述的氧化硅的選擇性刻蝕溶液的制備方法,其特征是,所述的氧化硅的選擇性刻蝕溶液的制備方法,步驟如下:
1)加水稀釋市售的質量濃度為40%的氫氟酸,制備得到質量濃度為1%~10%的氫氟酸溶液;
2)在步驟1)制得氫氟酸溶液中添加相對介電常數大于氫氟酸相對介電常數83.6的溶劑,氫氟酸溶液與溶劑的體積比為1∶1~10∶1,制備得到選擇性刻蝕溶液(1)。
3.權利要求1所述的選擇性刻蝕溶液的用途,其特征是,所述的選擇性刻蝕溶液應用在激光刻蝕硅襯底的工藝步驟之后,用于在同時存在有氧化硅和氮化硅的工作面,去除激光刻蝕區域的氧化硅。
4.按照權利要求3所述的選擇性刻蝕溶液的用途,其特征是,采用所述的選擇性刻蝕溶液去除激光刻蝕區域的氧化硅,步驟如下:
1)將所述的氧化硅的選擇性刻蝕溶液(1)置入頂端裝有滾軸(4)的溶液槽(5)中,所述的選擇性刻蝕溶液(1)恰好沒過滾軸(4);
2)將經激光刻蝕后的硅襯底(2)置于滾軸(4)上,硅襯底(2)的工作面(3)向下與所述的選擇性刻蝕溶液(1)接觸;
3)驅動硅襯底(2),使硅襯底(2)隨滾軸(4)旋轉而前進,調節滾軸(4)的速度,使所述的選擇性刻蝕溶液(1)處理工作面(3)的時間為5秒~120秒;
4)在經步驟5)處理過的工作面(3)上進行化學鍍或者電鍍。
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H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
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H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





