[發(fā)明專利]一種卡尺無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110233507.8 | 申請日: | 2011-08-15 |
| 公開(公告)號: | CN102322781A | 公開(公告)日: | 2012-01-18 |
| 發(fā)明(設計)人: | 于忠良;彭紅 | 申請(專利權)人: | 中核蘇閥橫店機械有限公司 |
| 主分類號: | G01B5/12 | 分類號: | G01B5/12 |
| 代理公司: | 杭州華鼎知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 33217 | 代理人: | 魏亮 |
| 地址: | 322118 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 卡尺 | ||
技術領域
本發(fā)明涉及一種卡尺。
背景技術
如圖1所示,測量筒形鑄件的內(nèi)徑時,常規(guī)的方法是將交叉卡尺放入筒形鑄件的內(nèi)側壁,將交叉卡尺撐開,使得交叉卡尺的兩個尖端分別頂緊內(nèi)側壁,然后取出測量兩個尖端之間的距離即為筒形鑄件的內(nèi)徑,但是由于鑄件在凝固過程中會因不良收縮導致凹陷和凸起,使得交叉卡尺頂緊筒形鑄件內(nèi)側壁后無法取出,難以測量筒形鑄件的內(nèi)徑。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術問題在于提供一種卡尺,能夠方便簡單地測量筒形鑄件的內(nèi)徑,測量準確,誤差小。
為解決上述現(xiàn)有的技術問題,本發(fā)明采用如下方案:一種卡尺,包括卡尺主體,所述卡尺主體內(nèi)設有滑動的刻度尺,所述卡尺主體上設有滑槽,所述滑槽內(nèi)滑接有與刻度尺連接的旋緊螺栓。
作為優(yōu)選,所述刻度尺頂端的刻度標記為卡尺主體的高度。從上部刻度尺與卡尺主體的交叉處即可直接讀出筒形鑄件的內(nèi)徑,使用方便。
作為優(yōu)選,所述卡尺主體的下部設有測量尖端。便于將測量尖端放置在凹陷和凸起的部分進行測量。
作為優(yōu)選,所述卡尺主體與測量尖端為一體結構。制造方便。
有益效果:
本發(fā)明采用上述技術方案提供一種卡尺,能夠方便簡單地測量筒形鑄件的內(nèi)徑,測量準確,誤差小。
附圖說明
圖1為現(xiàn)有的交叉卡尺的使用狀態(tài)示意圖;
圖2為本發(fā)明的使用狀態(tài)示意圖。
具體實施方式
如圖2所示,一種卡尺,包括卡尺主體1,所述卡尺主體1內(nèi)設有滑動的刻度尺2,所述卡尺主體1上設有滑槽3,所述滑槽3內(nèi)滑接有與刻度尺2連接的旋緊螺栓4。所述刻度尺2頂端的刻度標記為卡尺主體1的高度。所述卡尺主體1的下部設有測量尖端5。所述卡尺主體1與測量尖端5為一體結構。卡尺主體1的高度為200mm,則刻度尺2頂端的刻度標記應該為200mm,使用時將卡尺放在圓筒形鑄件中,把滑動的刻度尺2放出,卡尺主體1下端的測量尖端5抵住筒形鑄件內(nèi)的下部凹陷,刻度尺2的上端抵住筒形鑄件內(nèi)的上部側壁,從刻度尺2與卡尺主體1的交叉處即可直接讀出筒形鑄件的內(nèi)徑,使用方便,測量準確,誤差小。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中核蘇閥橫店機械有限公司,未經(jīng)中核蘇閥橫店機械有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110233507.8/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





