[發(fā)明專利]一種液晶面板顯示驅(qū)動芯片的電性分析方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110229944.2 | 申請日： | 2011-08-11 |
| 公開（公告）號： | CN102385843A | 公開（公告）日： | 2012-03-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 張濤 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海華碧檢測技術(shù)有限公司 |
| 主分類號： | G09G3/36 | 分類號： | G09G3/36;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 200433 上海*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 液晶面板 顯示 驅(qū)動 芯片 分析 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種液晶面板顯示驅(qū)動芯片的電性分析方法，其特征在于：該方法包括以下步驟：
A、分析液晶面板顯示異常的表現(xiàn)方式，尋找加電方式的依據(jù)；
B、研究液晶面板顯示驅(qū)動芯片的各引腳的功能，確定需要進(jìn)行電性判斷的引腳；
C、根據(jù)芯片的引腳布局圖和PCB板的引線布局圖，確定在開蓋前的電性測量位置，測量開蓋前的電性；
D、開蓋后，使用探針直接探測芯片的引腳，進(jìn)行加電測量，得出開蓋后的電性特征；
E、開蓋前后的異常電性對比，判斷失效點(diǎn)在封裝級還是在晶圓級。
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