[發明專利]檢測電路

有效

• 申請號: 201110229177.5
• 申請日: 2011-08-11
• 公開（公告）號: CN102411113A
• 公開（公告）日: 2012-04-11
• 發明（設計）人: 尹明德
• 申請（專利權）人: 原景科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;G01R31/26;G01R1/20;H03K19/08
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 史新宏

技術領域

本發明涉及一種電路，且特別涉及一種檢測電路。

背景技術

發光二極管是一種半導體光源。發光二極管常用作各類裝置的指示燈，也可用于照明。早期發光二極管只能發射低亮度的紅光，然現今而言，發光二極管可用來發出高亮度的可見光、紫外光及紅外光。

在多通道發光二極管應用上，常常只有部分的通道被使用，舉例來說，可能只有五個通道連接到一顆六通道的發光二極管驅動器。然而，發光二極管驅動器中若只有某些通道(即，非全部通道)連接發光二極管，在執行開路檢測時，發光二極管驅動器的功能會出現問題，而此不利于電路設計。

發明內容

因此，本發明的一個方面是在提供一種檢測電路，其可適用在發光二極管驅動器，或是廣泛地運用在相關的技術環節。在使用上，此檢測電路可用來檢測發光二極管開路。

依據本發明一實施例，一種檢測電路包括一電流源、一電壓電流轉換器以及一電流比較器。電壓電流轉換器耦接電流源以及一參考電壓，電流比較器耦接電流源、電壓電流轉換器以及一穩定電流。電壓電流轉換器可通過比較參考電壓與一檢測端的一輸入電壓以自電流源取得一接收電流，電流比較器可比較穩定電流與一基于接收電流的一輸出電流以輸出一輸出電壓。

當檢測端開路時，則輸入電壓基本上等于參考電壓，因此接收電流相對較低，使輸出電壓為一相對低電壓。相反地，當檢測端電性連接至一發光二極管的輸入端時，則輸入電壓大于參考電壓，因此接收電流相對較高，使輸出電壓為一相對高電壓。

以下將以實施方式對上述的說明作詳細的描述，并對本發明提供更進一步的解釋。

附圖說明

為讓本發明的上述和其他目的、特征、優點與實施例能更明顯易懂，附圖的說明如下：

圖1是依照本發明的一種發光二極管驅動器的方塊圖；

圖2是依照本發明一實施例所繪示的圖1的檢測電路的電路圖。

【主要元件符號說明】

100：檢測電路??????????????????????MN3：第三N型金屬氧化物半導體

110：電壓電流轉換器????????????????MN4：第四N型金屬氧化物半導體

120：電流源????????????????????????MPI1：第一P型金屬氧化物半導體

122：第一電流鏡????????????????????MPI2：第二P型金屬氧化物半導體

124：電流供應電路??????????????????MP3：第三P型金屬氧化物半導體

130：電流比較器????????????????????MP4：第四P型金屬氧化物半導體

150：觸發電路??????????????????????MP5：第五P型金屬氧化物半導體

160：電流偏壓電路??????????????????MP6：第六P型金屬氧化物半導體

300：處理單元??????????????????????MBP7：第七P型金屬氧化物半導體

I1：第一電流???????????????????????MBP8：第八P型金屬氧化物半導體

I2：第二電流???????????????????????MBP9：第九P型金屬氧化物半導體

I3：第三電流(接收電流)?????????????n*I3：輸出電流

IBIAS1：第一偏壓電流???????????????OD1：電壓輸出端

IBIAS2：第二偏壓電流???????????????R1：第一限流電阻

j*IB：參考電流?????????????????????R2：第二限流電阻

k*j*IB：穩定電流???????????????????VIN：輸入電壓

MN1：第一N型金屬氧化物半導體???????VSS：參考電壓

MN2：第二N型金屬氧化物半導體

具體實施方式

為了使本發明的敘述更加詳盡與完備，可參照所附的附圖及以下所述各種實施例，附圖中相同的號碼代表相同或相似的元件。另一方面，眾所周知的元件與步驟并未描述于實施例中，以避免對本發明造成不必要的限制。

在實施方式與權利要求書中，除非內容中對于冠詞有所特別限定，否則『一』與『該』可泛指單一個或多個。