[發明專利]一種改進型熱釋光測量裝置

無效

• 申請號: 201110226220.2
• 申請日: 2011-08-09
• 公開（公告）號: CN102928399A
• 公開（公告）日: 2013-02-13
• 發明（設計）人: 丁大宏
• 申請（專利權）人: 上海原子科興藥業有限公司
• 主分類號: G01N21/71
• 分類號: G01N21/71
• 代理公司: 上海科盛知識產權代理有限公司 31225
• 代理人: 趙志遠

技術領域

本發明涉及一種熱釋光測量裝置，尤其是涉及一種改進型熱釋光測量裝置。

背景技術

熱釋光測量儀作為熱釋光元件的讀出器，具有相應的讀出范圍。它是由一個加熱器件及一套光接收及放大系統組成，如圖1所示。但是由于測量儀在設計、制造等方面的因素，它的測量范圍基本在1mrad～100rad之間，當讀出值超過100rad時，就超出了測量儀的探測上限，對于需要測量大劑量的情況下該測量儀就無法進行正確測量。

發明內容

本發明的目的就是為了克服上述現有技術存在的缺陷而提供一種改進型熱釋光測量裝置。

本發明的目的可以通過以下技術方案來實現：

一種改進型熱釋光測量裝置，包括加熱器和測量盤，該測量盤設在加熱器上，其特征在于，還包括擋板，該擋板中央上設有測量孔，所述的擋板設在加熱器上方，所述的測量孔對準測量盤的光線發射方向。

所述的測量孔的面積為加熱器面積的1/32。

與現有技術相比，本發明具有以下優點：

1)可以進行大劑量的測量；

2)經過多次實驗驗證，得出測量孔徑大小與測量讀出值成正比，且線性良好；

3)加熱后釋放出的光通過量是原來的32分之一，那么相應地把測量上限提高了32倍。

附圖說明

圖1為現有的熱釋光測量裝置結構示意圖；

圖2為本發明的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例對本發明進行詳細說明。

實施例

如圖2所示，一種改進型熱釋光測量裝置，包括加熱器5和測量盤，該測量盤設在加熱器上，其特征在于，還包括擋板4，該擋板4中央上設有測量孔3，所述的擋板4設在加熱器上方，所述的測量孔3對準測量盤的光線發射方向2。

所述的加熱器面積為5mmx5mm＝25mm²，擋板上的測量孔3的孔徑為1mm，那么測量孔3為1mm的圓面積為0.785mm²，這樣與測量盤面積25mm²相比其面積約為測量盤的32分之一，加熱后釋放出的光通過量是原來的32分之一，那么相應地把測量上限提高了32倍。