[發明專利]氦質譜檢漏儀的校準方法無效
| 申請號： | 201110225301.0 | 申請日： | 2011-08-08 |
| 公開（公告）號： | CN102928170A | 公開（公告）日： | 2013-02-13 |
| 發明（設計）人： | 王勇;孫立臣;閆榮鑫;孫繼鵬;王靜濤 | 申請（專利權）人： | 北京衛星環境工程研究所 |
| 主分類號： | G01M3/20 | 分類號： | G01M3/20 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 100094*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 氦質譜 檢漏 校準 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種入口壓力可調節的氦質譜檢漏儀的現場校準方法，包括以下步驟：
1)吸槍裝配在氦質譜檢漏儀上，開啟氦質譜檢漏儀，確保吸槍的調壓閥正常工作并使試驗空間相對密閉且無明顯空氣流動，以保證試驗空間內的大氣中的氦氣濃度不變；
2)試驗測試：調節檢漏儀的入口壓力，并實時記錄下檢漏儀的漏率反應值，數據形式為一個入口壓力對應一個漏率反應值；
a.待檢漏儀的入口壓力穩定后，試調節吸槍的調壓閥，確保檢漏儀的入口壓力變化；
b.調節檢漏儀的入口壓力，并實時記錄檢漏儀的漏率反應值和入口壓力，記錄對應的漏率反應值和入口壓力的次數在10次以上；
3)根據對應的入口壓力與漏率反應值的數據，進行y＝kx形式的線性擬合，得到擬合曲線，此擬合曲線即為該量程范圍內檢漏儀的校準曲線，然后根據入口壓力和校準曲線最終校準得到對應的真實漏率值。
2.根據權利要求1所述的現場校準方法，其中，入口壓力可調節的氦質譜檢漏儀包括L300，L200和L500。
3.根據權利要求2或3所述的現場校準方法，其中，記錄對應的漏率反應值和入口壓力的次數大于20次。
4.根據權利要求2所述的現場校準方法，其中，L300氦質譜檢漏儀的模式為Gross模式。
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