[發明專利]通過伽馬屏蔽增加中子通量

有效

• 申請號: 201110223620.8
• 申請日: 2011-08-05
• 公開（公告）號: CN102374999A
• 公開（公告）日: 2012-03-14
• 發明（設計）人: 亞歷山大·約瑟夫·葉辛;尼古拉·巴圖林;亞歷克斯·庫利克;邁克爾·G·布羅索
• 申請（專利權）人: 思姆菲舍爾科技公司
• 主分類號: G01N23/00
• 分類號: G01N23/00;G01T3/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 吳敬蓮

1.一種分析器，包括：

檢測器；和

與所述檢測器相鄰的中子源組件，所述中子源組件包括：

中子源；和

屏蔽源保持器。

2.根據權利要求1所述的分析器，還包括靶標，所述靶標包括選自以下材料的材料：水、石墨、酒精、油、焦炭、鐵顆粒、烴、聚乙烯、聚丙烯和聚苯乙烯。

3.根據權利要求1所述的分析器，其中，所述屏蔽源保持器包含鉛。

4.根據權利要求1所述的分析器，其中，所述屏蔽源保持器包含鎢。

5.根據權利要求1所述的分析器，其中，所述檢測器包括離子室，所述離子室填充有選自He-3和BF₃的氣體。

6.根據權利要求1所述的分析器，其中，所述屏蔽源保持器包括第一端部、與所述第一端部相對的第二端部和大致圓周側壁。

7.根據權利要求6所述的分析器，其中，所述屏蔽源保持器包括形成在所述第一端部中的操作容納部和形成在所述第二端部中的與所述操作容納部相對的中子源容納部，其中所述中子源容納部被構造成容納所述中子源，而所述操作容納部被構造成容納源操作組件。

8.根據權利要求7所述的分析器，還包括：

壓配合罩，所述壓配合罩設置在所述中子源容納部內。

9.根據權利要求1所述的分析器，其中，所述中子源被封裝在不銹鋼封殼中。

10.根據權利要求9所述的分析器，其中，所述中子源組件還包括彈性墊圈，所述彈性墊圈設置在所述封殼的頂側與所述屏蔽源保持器之間。

11.根據權利要求9所述的分析器，其中，簧環設置在所述封殼的底側。

12.根據權利要求1所述的分析器，其中，所述屏蔽源保持器部分地包圍所述中子源，使得所述屏蔽源保持器位于所述中子源與所述檢測器之間。

13.一種用于測量中子信號的方法，所述方法包括以下步驟：

檢測檢測器系統中的本底；

將靶標放置在所述檢測器系統內；

為所述檢測器系統測量總信號；以及

為所述檢測器系統確定中子信號。

14.根據權利要求13所述的方法，其中，確定所述中子信號的步驟包括：

從由所述檢測器系統測量的總信號中減去由所述檢測器系統檢測到的所述本底。

15.根據權利要求13所述的方法，其中，所述檢測器系統包括：

檢測器；和

與所述檢測器相鄰的中子源組件，所述中子源組件包括：

中子源；和

屏蔽源保持器。

16.根據權利要求15所述的方法，其中，所述屏蔽源保持器包括選自鉛和鎢的材料。

17.根據權利要求15所述的方法，其中，所述檢測器包括離子室，所述離子室填充有選自He-3和BF₃的氣體。

18.根據權利要求13所述的方法，其中，所述靶標選自以下材料：水、石墨、酒精、油、焦炭、鐵顆粒、烴、聚乙烯、聚丙烯和聚苯乙烯。

19.根據權利要求13所述的方法，其中，在所述檢測器系統中檢測本底的步驟包括：

將空白靶標設置在所述檢測器系統中。

20.根據權利要求19所述的方法，還包括以下步驟：

除去所述空白靶標。

21.根據權利要求15所述的方法，還包括以下步驟：

為沒有所述屏蔽源保持器的檢測器系統測量中子信號，該步驟包括以下步驟：

檢測所述檢測器系統中的本底，其中所述屏蔽源保持器被除去；

將靶標放置在所述檢測器系統內；

對所述檢測器系統測量總信號，所述檢測器系統內具有所述靶標；以及

為所述檢測器系統確定所述中子信號，其中，

所述確定步驟包括從由所述檢測器系統測量的所述總信號中減去由所述檢測器系統檢測到的所述本底。