[發明專利]一種PRACH檢測的方法和設備

無效

• 申請號: 201110222556.1
• 申請日: 2011-08-04
• 公開（公告）號: CN102238580A
• 公開（公告）日: 2011-11-09
• 發明（設計）人: 王勇
• 申請（專利權）人: 大唐移動通信設備有限公司
• 主分類號: H04W24/00
• 分類號: H04W24/00;H04W52/02;H04B17/00
• 代理公司: 北京鑫媛睿博知識產權代理有限公司 11297
• 代理人: 龔家驊

技術領域

本發明涉及通信技術領域，尤其涉及一種PRACH檢測的方法和設備。

背景技術

隨著通信網絡技術和應用的迅速發展，信號檢測技術得到廣泛應用，通常，信號檢測技術都要在信號檢測進行之前，預先設置好信號檢測門限以及信號判決條件，然后根據信號判決條件，進行信號的檢測。在LTE（Long?Term?Evolution，長期演進）系統中，終端使用PRACH（Physical?Random?Access?Channel，物理隨機接入信道）進行上行隨機接入，以建立與各小區之間的上行鏈路。一般地，LTE系統內的各個小區通過PRACH信道的相關配置信息（以下簡稱為PRACH配置信息）對本小區內的PRACH信道進行分配。

在LTE系統中，終端在進行隨機接入過程之前，首先需要通過系統廣播消息獲得進行隨機接入的物理層資源和分配的Preamble（Random?Access?Preamble，隨機接入前導序列）碼集合，然后根據所獲得的信息，生成隨機接入前導序列，并在相應的物理層隨機接入資源上發起隨機接入。進一步的，基站對隨機接入信道進行檢測，如果基站檢測到了隨機接入前導序列，則在下行控制信道上反饋相應的信息。因此，PRACH檢測作為隨機接入的第一步，其結果的可靠性將直接影響該通信系統的穩定性傳輸。

對于小區邊緣用戶，到達基站側的信號強度相對較弱，若不進行任何處理，則PRACH檢測存在很大的不確定性，從而影響小區邊緣用戶接入成功率。

為了解決上述問題，在實現過程中，需要在固定PRACH檢測門限的基礎上使用功控手段，如圖1所示，為現有技術中基于功率爬坡的PRACH檢測算法流程圖，基站通過高層信令配置給終端的期望接收功率為（單位：dBm），功率爬坡因子為m（單位：dBm），基站物理層固定檢測門限為（單位：dB）。

終端側根據計算得到的下行路損以及確定自身首次發送Preamble信號的功率；其中，由于無線衰落信道的時變性，若在某些時刻出現深衰，導致基站接收到的Preamble信號功率小于，進一步帶來Preamble信號信噪比（SNR）小于檢測門限，此時終端發射功率會依次抬升m，使得其信號SNR超過檢測門限。

在實現本發明的過程中，發明人發現現有技術中至少存在以下問題：

基于小區邊緣用戶功率控制算法的PRACH檢測算法中，若終端真實存在沒有發送前導序列（Preamble）碼的異常情況，基站會錯誤的認為終端發送功率過小，從而不斷要求終端抬升發射功率至最大，此時不僅對終端功耗及電池容量提出嚴峻挑戰，更會因為高功率發射帶來輻射危害用戶健康。

發明內容

本發明實施例提供一種PRACH檢測的方法和設備，以降低終端功耗及電池容量損耗，提高用戶的接入率。

為了達到上述目的，本發明實施例提供一種物理隨機接入信道PRACH檢測的方法，包括：

獲取終端發送的PRACH信號，并根據所述PRACH信號得到PRACH信號信噪比；

當所述PRACH信號信噪比小于PRACH檢測門限值時，降低所述PRACH檢測門限值，以使所述PRACH信號信噪比大于降低后的PRACH檢測門限值。

本發明實施例提供一種物理隨機接入信道PRACH檢測的設備，包括：

獲取模塊，用于獲取終端發送的PRACH信號，并根據所述PRACH信號得到PRACH信號信噪比；

處理模塊，用于當所述PRACH信號信噪比小于PRACH檢測門限值時，降低所述PRACH檢測門限值，以使所述PRACH信號信噪比大于降低后的PRACH檢測門限值。

與現有技術相比，本發明實施例至少具有以下優點：通過動態的調整PRACH檢測門限值，使小區邊緣用戶在低功率發送的條件下能夠正常完成PRACH檢測，從而降低了終端功耗及電池容量損耗，有效地保證了用戶的正常接入，有效地避免了高層資源分配失敗和基站DSP處理負擔增加。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為現有技術中基于功率爬坡的PRACH檢測算法流程圖；

圖2為本發明實施例一提供的一種PRACH檢測的方法流程示意圖；

圖3為本發明實施例二提供的一種PRACH檢測的方法流程示意圖；