[發明專利]耗材芯片的測試方法有效
| 申請號： | 201110221467.5 | 申請日： | 2011-08-03 |
| 公開（公告）號： | CN102394111A | 公開（公告）日： | 2012-03-28 |
| 發明（設計）人： | 楊夢白 | 申請（專利權）人： | 珠海天威技術開發有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/08 | 分類號： | G11C29/08;B41J2/175;G01R31/28 |
| 代理公司： | 珠海智專專利商標代理有限公司 44262 | 代理人： | 林永協 |
| 地址： | 519060 廣東省珠海*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 耗材 芯片 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.耗材芯片的測試方法，所述耗材芯片具有非易失性存儲器，該方法包括
測試耗材芯片的數據讀寫功能；
其特征在于：
以最小編程時間快速向所述耗材芯片的所述非易失性存儲器寫入測試數據，驗證所寫入的測試數據正確后，在對所述耗材芯片掉電的狀態下，對所述耗材芯片進行高溫老化處理，待預定的老化時間結束后，讀取存儲在所述非易失性存儲器內的數據，判斷所讀取的數據是否正確，并根據所讀取的數據的正確性判斷所述耗材芯片是否異常。
2.根據權利要求1所述的耗材芯片的測試方法，其特征在于：
所述高溫老化處理過程在高于200℃的溫度下進行。
3.根據權利要求1或2所述的耗材芯片的測試方法，其特征在于：
還包括測試所述耗材芯片的數據讀寫功能后，對所述耗材芯片的極限參數進行測試。
4.根據權利要求1或2所述的耗材芯片的測試方法，其特征在于：
還包括測試所述耗材芯片的數據讀寫功能后，對所述耗材芯片的靜電流性能進行測試。
5.根據權利要求4所述的耗材芯片的測試方法，其特征在于：
還包括測試所述耗材芯片的數據讀寫功能后，在對所述耗材芯片上電的狀態下，對所述耗材芯片進行老化測試。
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