[發明專利]一種測試方法和相應的測試系統無效
| 申請號: | 201110221241.5 | 申請日: | 2011-08-03 |
| 公開(公告)號: | CN102237115A | 公開(公告)日: | 2011-11-09 |
| 發明(設計)人: | 肖衛中 | 申請(專利權)人: | 深圳芯邦科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G11B20/18 | 分類號: | G11B20/18 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 逯長明 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南山區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測試 方法 相應 系統 | ||
技術領域
本發明涉及通信技術領域,具體涉及一種測試方法和相應的測試系統。
背景技術
H2testw測試軟件是一款存儲設備質量檢測軟件,其應用較為廣泛,但由于H2testw測試軟件的一個進程只能同時對一個移動存儲設備的質量進行對比測試,而在移動存儲設備質量檢測時,最普遍的應用場景是在同一臺電腦上同時對幾個到十幾個移動存儲設備同時進行對比檢測,所以此時需要手工啟動多個H2testw軟件的進程,并為每個進程手工指定一個移動存儲設備,然后再依次啟動以進行測試。
在對現有技術的研究和實踐過程中,本發明的發明人發現,由于現有的操作都需要手工進行控制,所以效率較低,而且手工操作容易產生誤操作,導致測試結果不正確。
發明內容
本發明實施例提供一種測試方法和相應的測試系統,可以提高測試效率,以及減少誤操作,提高測試的正確率。
一種測試方法,包括:
獲取當前需要檢測的移動存儲設備的數量;
根據所述移動存儲設備的數量啟動測試進程,其中,啟動的測試進程的數量與所述移動存儲設備的數量相等;
為每個測試進程指定一個移動存儲設備,以便對移動存儲設備進行對比測試。
一種測試系統,包括控制模塊和測試模塊;
控制模塊,用于獲取當前需要檢測的移動存儲設備的數量,根據所述移動存儲設備的數量啟動測試模塊中的測試進程,其中,啟動的測試進程的數量與所述移動存儲設備的數量相等,為每個測試進程指定一個移動存儲設備,以便對移動存儲設備進行對比測試;
測試模塊,用于在控制模塊的控制下,對移動存儲設備的質量進行對比測試。
本發明實施例通過獲取當前需要檢測的移動存儲設備的數量,然后根據該需要檢測的移動存儲設備的數量自動啟動相應的檢測進程,并自動為每個測試進程指定一個移動存儲設備,以實現對移動存儲設備的對比測試。由于該方案可以自動啟動檢測進程,而無需手工啟動和維護,所以可以提高檢測效率,而且由于無需手工操作,所以可以避免由于手工操作所導致的誤操作,有利于提高檢測的正確率。
附圖說明
為了更清楚地說明本發明實施例中的技術方案,下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例,對于本領域技術人員來講,在不付出創造性勞動的前提下,還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
圖1是本發明實施例提供的測試方法的流程圖;
圖2是本發明實施例提供的測試方法的另一流程圖;
圖3是本發明實施例提供的測試系統的結構示意圖。
具體實施方式
下面將結合本發明實施例中的附圖,對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例,而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例,本領域技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發明保護的范圍。
本發明實施例提供一種測試方法和相應的測試系統。以下分別進行詳細說明。
本實施例為本發明提供的一方法實施例。
一種測試方法,包括:獲取當前需要檢測的移動存儲設備的數量,根據該移動存儲設備的數量啟動測試進程,其中,啟動的測試進程的數量與所述移動存儲設備的數量相等,為每個測試進程指定一個移動存儲設備,以便對移動存儲設備進行對比測試。
如圖1所示,具體流程可以如下:
101、獲取當前需要檢測的移動存儲設備的數量;
102、根據獲取到的移動存儲設備的數量啟動測試進程,其中,啟動的測試進程的數量與所述移動存儲設備的數量相等;
103、為每個測試進程指定一個移動存儲設備,以便對移動存儲設備進行對比測試。
例如,在步驟101中,在獲取當前需要檢測的移動存儲設備的數量的同時,也可以獲取當前需要檢測的移動存儲設備的盤符,那么,在步驟103中,就可以為每個測試進程分配一個移動存儲設備的盤符,由測試進程根據分配到的盤符對相應的移動存儲設備進行對比測試。比如,當前需要檢測的移動存儲設備有3個,分別為D盤、E盤和F盤,則可以啟動三個測試進程,具體為測試進程1、測試進程2和測試進程3,然后為測試進程1分配盤符“D盤”,為測試進程2分配盤符“E盤”,測試進程3分配盤符“F盤”,這樣的話,測試進程1將對D盤進行對比測試,測試進程2將對E盤進行對比測試,測試進程3將對F盤進行對比測試。
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