[發明專利]液晶顯示器中玻璃基板的目視檢查機及檢查方法

無效

• 申請號: 201110220835.4
• 申請日: 2011-08-03
• 公開（公告）號: CN102393576A
• 公開（公告）日: 2012-03-28
• 發明（設計）人: 吳若杉
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01B5/004
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 歐陽啟明

【技術領域】

本發明屬于液晶顯示器生產技術領域，特別是涉及一種液晶顯示器中玻璃基板的目視檢查機，還涉及一種液晶顯示器中玻璃基板的檢查方法。

【背景技術】

液晶顯示技術的不斷發展，對液晶顯示器的生產提出了很高的要求。

以薄膜場效應晶體管(Thin?Film?Transistor，TFT)的顯示器為例，隨著TFT顯示屏幕的尺寸越來越大，大規格的玻璃基板也開始被廣泛的應用。

現有技術中的目視檢查機，在對玻璃基板進行檢查之前，檢測者往往是通過目測的方式獲取玻璃基板的坐標。

請參閱圖1，所述目視檢查機包括檢查基臺100，所述檢查基臺100包括檢查基臺主體101，待檢查的玻璃基板固定于檢查基臺主體101上。所述目視檢查機還包括兩刻度器件102，所述兩刻度器件102相互垂直設于檢查基臺主體101兩側。在將待檢查的玻璃基板放置到檢查基臺主體101上后，檢測者通過兩側的刻度器件102讀出待檢查的玻璃基板上某一點坐標的目測值。

現有的液晶顯示器中玻璃基板的檢查方式存在以下缺點：

1)、不同檢查者有不同的讀取結果；

2)、由于待檢查玻璃基板的坐標無法精準，使得實際讀取的坐標值往往與真實的坐標值之間有極大的誤差，最大可達50mm。

3)、由于讀取的玻璃基板的坐標資料不準確，很容易產生錯誤的源信息，而且一旦出現需要進行特殊檢查的斜角時，只能利用光折射才能測量出，影響異常問題的解析效率；

4)、由于現有的檢查儀器的倍率較大，使得視野減小，一般視野最大約5mm，經常導致無法準確檢查玻璃基板上的盲區，請參閱圖2，其中，圖2為現有技術中目視檢查機側邊。圖2中的a為目視檢查機側邊上的凹陷區，即為盲區。

綜上，由于玻璃基板的尺寸、檢查距離以及檢查斜角等因素，使得在對待檢查的玻璃基板進行檢查時，難以準確的讀取相應的坐標，而且由于存在視野上的盲區，導致檢查結果錯誤。

【發明內容】

本發明的一個目的在于提供一種液晶顯示器中玻璃基板的目視檢查機，以解決現有技術中由于不能準確的讀取相應的坐標，且由于存在盲區，導致檢查結果錯誤的技術問題。

為解決上述問題，本發明構造了一種液晶顯示器中玻璃基板的目視檢查機，包括檢查基臺，所述檢查基臺包括檢查基臺主體，待檢查的玻璃基板固定在所述檢查基臺主體上，所述目視檢查機還包括至少兩個滑軌，所述滑軌設置于所述檢查基臺主體至少相鄰的兩側，所述滑軌的長度方向平行于所述檢查基臺主體的水平面，且相鄰的兩側的滑軌的長度方向相互垂直；

所述目視檢查機還包括坐標讀取器，所述坐標讀取器滑動連接所述滑軌，所述坐標讀取器用于在所述檢查基臺主體的水平面上方交互形成一定位點，檢測者通過讀取所述定位點的坐標獲取待檢查的玻璃基板相應的坐標。

在本發明的液晶顯示器中玻璃基板的目視檢查機中，所述滑軌包括第一滑軌和第三滑軌；所述坐標讀取器包括第一移動式標尺和第二移動式標尺，

所述第一移動式標尺滑動連接所述第一滑軌，且所述第一移動式標尺的長度方向垂直于所述第一滑軌的長度方向；

所述第二移動式標尺滑動連接所述第三滑軌，且所述第二移動式標尺的長度方向垂直于所述第三滑軌的長度方向。

在本發明的液晶顯示器中玻璃基板的目視檢查機中，所述滑軌還包括第二滑軌和第四滑軌，

其中，所述第二滑軌的長度方向平行于所述第一滑軌的長度方向，且所述第一滑軌和所述第二滑軌分居所述檢查基臺主體的相對兩側；所述第一移動式標尺滑動連接所述第一滑軌和第二滑軌；

所述第四滑軌的長度方向平行于所述第三滑軌的長度方向，且所述第四滑軌和所述第三滑軌分居所述檢查基臺主體的相對兩側；所述第二移動式標尺滑動連接所述第三滑軌和第四滑軌。

在本發明的液晶顯示器中玻璃基板的目視檢查機中，所述滑軌包括第五滑軌和第六滑軌；所述坐標讀取器包括第一發射器，第二發射器，第一刻度尺以及第二刻度尺；

其中，所述第一發射器滑動連接所述第五滑軌，所述第一刻度尺對應所述第一發射器設置，且所述第一刻度尺的長度方向平行于所述第五滑軌的長度方向；

所述第二發射器滑動連接所述第六滑軌，所述第二刻度尺對應所述第二發射器設置，且所述第二刻度尺的長度方向平行于所述第六滑軌的長度方向。

在本發明的液晶顯示器中玻璃基板的目視檢查機中，所述第一發射器和第二發射器均為激光筆。