[發明專利]一種利用鉆井軌跡校正VSP上行波的方法

有效

• 申請號: 201110216962.7
• 申請日: 2011-07-29
• 公開（公告）號: CN102323620A
• 公開（公告）日: 2012-01-18
• 發明（設計）人: 何曉冬;吳永栓;王咸彬;劉路佳;王躍;傅星菊;周楓
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油物探技術研究院
• 主分類號: G01V1/48
• 分類號: G01V1/48
• 代理公司: 北京思創畢升專利事務所 11218
• 代理人: 劉明華

1.一種利用鉆井軌跡校正VSP上行波的處理方法，其特征在于：所述方法利用實際石油鉆井軌跡與中心垂直線的偏離距離和方位角，對VSP上行波的走時路徑或走時速度進行校正，消除由鉆井軌跡偏離中心垂直線所引起的VSP上行波處理的誤差；所述方法首先獲得所有的實際走時路徑和理論走時路徑，然后對每個深度進行計算獲得其走時路徑誤差，再用實際走時路徑加或減走時路徑誤差得到精確走時路徑，這樣就把所有誤差校正到基準線上，即鉆井井口的中垂線上了。

2.根據權利要求1所述的利用鉆井軌跡校正VSP上行波的處理方法，其特征在于：所述方法包括以下步驟：

(1)數據輸入，包括：

(11)鉆井軌跡數據輸入：鉆井深度H、井斜角γ和方位角α，其中，井斜角γ為鉆井與垂直線的夾角；方位角α為在鉆井深度H時與中心垂直線的方位角；

(12)VSP數據輸入：偏移距x和VSP炮點與鉆井井口的方位角β，其中偏移距x為鉆井井口到VSP炮點的距離；VSP炮點與鉆井井口的方位角β為以鉆井井口為原點，鉆井井口與VSP炮點的方位角；

(2)計算d、s和s₁：

d＝H·tgγ；

s=(2h-H)2+x2]]>

s1=(2h-H)2+x12]]>

x12=d2+x2-2xdcosθ]]>

其中，

d為鉆井中VSP檢波器在深度H時與中垂線的距離；

x₁為VSP檢波器在井中實際位置垂直投影到地面水平面投影點與地面VSP炮點距離；

H為VSP檢波器在井中接收點的深度；

h：為反射點的深度；

s為理論走時路徑，即地面VSP炮點到理論垂直鉆井中VSP檢波器波的走時路徑；

s₁為實際走時路徑，即地面VSP炮點到實際鉆井中VSP檢波器波的走時路徑；

d為鉆井中VSP檢波器波偏離鉆井井口中垂線的距離；

θ為以井口為圓點，VSP檢波器與地面VSP炮點投影在水平面上的夾角，當|α-β|≤180°時，θ＝|α-β|，當|α-β|＞180°時，θ＝|α-β|-180°；

(3)計算VSP檢波器在深度H時當反射界面深度為h時的走時路徑誤差：

Δs=s1-s=(2h-H)2+x12-(2h-H)2+x2]]>

(4)誤差分析：利用步驟(3)得到的VSP上行波走時路徑誤差對VSP上行波路徑校正后，可以進行上行波的速度校正，還可以進行上行波的速度誤差分析。