[發(fā)明專利]決定攝像模塊的植球數(shù)量的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110216790.3 | 申請(qǐng)日: | 2011-07-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102903644A | 公開(公告)日: | 2013-01-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 呂思豪;余建男 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 致伸科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/60 | 分類號(hào): | H01L21/60;H01L21/603;H01L21/66 |
| 代理公司: | 北京潤(rùn)平知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11283 | 代理人: | 董彬 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)灣臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 決定 攝像 模塊 數(shù)量 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是有關(guān)于一種決定植球數(shù)量的方法,尤其是指一種決定攝像模塊的植球數(shù)量的方法。
背景技術(shù)
目前攝像模塊10大多以覆晶(Flip-Chip)封裝技術(shù)進(jìn)行組裝,如圖1所示,圖1為現(xiàn)有攝像模塊的示意圖。攝像模塊10包括一基板11與一芯片12,其中基板11具有接點(diǎn)111與一開口112,芯片12具有一感測(cè)區(qū)121與接墊122,且各接墊122上設(shè)置有一導(dǎo)電塊13,用以電連接接點(diǎn)111與接墊122,并藉以固定基板11與芯片12。
請(qǐng)繼續(xù)參閱圖1,接點(diǎn)111分布于開口112四周,對(duì)應(yīng)于接墊122,而基板11的開口112是經(jīng)一破孔元件沖孔加工而成。然而,當(dāng)破孔元件自基板11中抽出時(shí),開口112的邊緣因應(yīng)力而產(chǎn)生形變,因此形成一翹起邊緣113。
當(dāng)基板11與芯片12進(jìn)行覆晶封裝中的壓合時(shí),不僅因基板11的翹起邊緣113過于突出而增加基板11與芯片12之間間隙的距離,更由于翹起邊緣113與芯片12的接觸點(diǎn)形同支點(diǎn),容易產(chǎn)生力矩致使導(dǎo)電塊13損壞,因而大幅增加基板11與芯片12結(jié)合的不穩(wěn)定性。
請(qǐng)參照?qǐng)D2,圖2為現(xiàn)有攝像模塊的另一示意圖。為了克服翹起邊緣113本身高度,已知做法是采用在同一接墊122上放置多個(gè)導(dǎo)電塊13的方法。雖然如此即可避免翹起邊緣113與芯片12形成支點(diǎn),然而接墊122所對(duì)應(yīng)的基板11的接點(diǎn)111高度不盡相同,若只是在每個(gè)接墊122上皆放置相同數(shù)量的導(dǎo)電塊13,不僅增加不必要的封裝成本,更可能因?yàn)榻狱c(diǎn)111高度不均的問題造成芯片12歪斜。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于,針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的上述不足,提供一種決定攝像模塊的植球數(shù)量的方法,以提升攝像模塊的封裝質(zhì)量。
本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是提供一種決定攝像模塊的植球數(shù)量的方法,其中該攝像模塊包括一芯片與一基板,該基板具有一開口且該開口具有四邊框,該方法用以決定將該芯片固定于該基板上的各接點(diǎn)所需的植球數(shù)量,且該植球具有一植球高度,該方法包括步驟:
(A)使一影像擷取裝置對(duì)焦于該基板上的至少四個(gè)特定接點(diǎn)以取得該至少四個(gè)特定接點(diǎn)至該影像擷取裝置的四個(gè)特定接點(diǎn)距離,并將該四個(gè)特定接點(diǎn)距離平均以獲得一平均接點(diǎn)距離;
(B)使該影像擷取裝置對(duì)焦于該基板的該四邊框以取得該四邊框至該影像擷取裝置的四個(gè)開口距離,其中該四個(gè)開口距離包括一最小開口距離;
(C)使該影像擷取裝置對(duì)焦于該基板上的每一接點(diǎn),并取得該每一接點(diǎn)至該影像擷取裝置的一實(shí)際接點(diǎn)距離而獲得多個(gè)實(shí)際接點(diǎn)距離;以及
(D)逐一判斷每一該實(shí)際接點(diǎn)距離是否大于該平均接點(diǎn)距離,若是,則計(jì)算該實(shí)際接點(diǎn)距離與該最小開口距離的第一差值,并以該第一差值除以該植球高度以獲得該實(shí)際接點(diǎn)距離所對(duì)應(yīng)的接點(diǎn)所需的植球數(shù)量,若否,則計(jì)算該平均接點(diǎn)距離與該最小開口距離的第二差值,并以該第二差值除以該植球高度以獲得該實(shí)際接點(diǎn)距離所對(duì)應(yīng)的接點(diǎn)所需的植球數(shù)量。
較佳地,該至少四個(gè)接點(diǎn)分別位于該基板的四角。
較佳地,該至少四個(gè)接點(diǎn)分別位于四個(gè)預(yù)設(shè)接點(diǎn)坐標(biāo)。
較佳地,上述方法,在步驟(B)中使該影像擷取裝置對(duì)焦于該基板的該四邊框是對(duì)焦于該四邊框中每一邊框的一中點(diǎn)坐標(biāo),其中該中點(diǎn)坐標(biāo)是每一該邊框的中點(diǎn)。
較佳地,該影像擷取裝置具有對(duì)比自動(dòng)對(duì)焦單元。
本發(fā)明的決定攝像模塊的植球數(shù)量的方法透過影像擷取裝置測(cè)量四個(gè)特定接點(diǎn)至影像擷取裝置的平均接點(diǎn)距離、開口的四邊框至影像擷取裝置的最小開口距離,以及每一接點(diǎn)至影像擷取裝置的實(shí)際接點(diǎn)距離,并以所得的平均接點(diǎn)距離為基準(zhǔn),逐一判斷每一實(shí)際接點(diǎn)距離是否大于平均接點(diǎn)距離,進(jìn)而計(jì)算實(shí)際接點(diǎn)距離所對(duì)應(yīng)的接點(diǎn)所需的植球數(shù)量,如此不僅減少植球數(shù)量而降低攝像模塊的覆晶成本,更進(jìn)一步緩和基板上接點(diǎn)高度不均的情況,避免芯片與基板壓合時(shí)容易產(chǎn)生歪斜的可能性,提升封裝質(zhì)量。
附圖說明
圖1是現(xiàn)有攝像模塊的示意圖。
圖2是現(xiàn)有攝像模塊的另一示意圖。
圖3是本發(fā)明的攝像模塊的示意圖。
圖4是本發(fā)明的機(jī)臺(tái)示意圖。
圖5是本發(fā)明的影像擷取裝置的示意圖。
圖6是本發(fā)明的決定攝像模塊的植球數(shù)量的方法的流程圖。
圖7是本發(fā)明的接點(diǎn)Px至影像擷取裝置的距離示意圖。
圖8是本發(fā)明的接點(diǎn)Py至影像擷取裝置的距離示意圖。
具體實(shí)施方式
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





