[發(fā)明專利]通過內(nèi)部操作驗證進(jìn)行安全的存儲器存儲有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110215419.5 | 申請日: | 2011-07-29 |
| 公開(公告)號: | CN102347083A | 公開(公告)日: | 2012-02-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | S.布雷沃頓;A.埃德;G.A.法拉爾;N.S.哈斯蒂;P.胡貝特;K.奧伯萊恩德;A.維萊拉;R.韋斯納 | 申請(專利權(quán))人: | 英飛凌科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G11C29/44 | 分類號: | G11C29/44 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 劉春元;李家麟 |
| 地址: | 德國瑙伊比*** | 國省代碼: | 德國;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 通過 內(nèi)部 操作 驗證 進(jìn)行 安全 存儲器 存儲 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明總體上涉及計算機(jī)存儲器,并且特別涉及計算機(jī)存儲器中的多位錯誤檢測。
背景技術(shù)
在最新技術(shù)的運(yùn)輸系統(tǒng)中,常常采用計算機(jī)以用于安全關(guān)鍵的功能。可以將計算機(jī)與被配置成感測所述運(yùn)輸系統(tǒng)的操作的傳感器系統(tǒng)相耦合,并且以人類能力所不能匹配的速度和可信性對可能的危險情況做出反應(yīng)。舉例來說,在汽車中可以使用基于計算機(jī)的傳感器來調(diào)節(jié)氣囊、剎車系統(tǒng)等等的操作。
安全關(guān)鍵的計算機(jī)系統(tǒng)常常依賴于存儲在存儲器(例如閃存、SRAM、DRAM等等)中的數(shù)據(jù)來進(jìn)行適當(dāng)?shù)牟僮鳌?梢詫嵤┘m錯碼(ECC)來提高被用來通過檢測及糾正存儲器單元錯誤而執(zhí)行的安全關(guān)鍵功能的存儲器的可靠性。某些糾錯碼可以被用來檢測及糾正單個位錯誤(例如可以通過SECDED來糾正及確定特定存儲器字中的一個無效位)。其他更加復(fù)雜的糾錯碼允許檢測和/或糾正雙位錯誤(例如可以通過DECTED來糾正及確定特定存儲器字中的兩個無效位)或者甚至多位錯誤(例如三位錯誤)。
圖1示出了示例性存儲器塊102的方框圖100,所述存儲器塊102被配置成利用ECC實施糾錯機(jī)制。如圖1中所示,存儲器塊102可以包括存儲器陣列104,其具有由感測放大器106激活的多條位線以及由行解碼器108激活的多條字線。被配置成存儲對應(yīng)于數(shù)據(jù)位的電荷的相應(yīng)的MOS晶體管器件(未示出)可以具有耦合到位線的第一端子、耦合到共享或單一源極線的第二端子以及耦合到字線的柵極。
為了執(zhí)行錯誤檢測,存儲器陣列104被配置成存儲包含數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)字段以及包含一個或多個校驗位和/或奇偶校驗位的ECC信息位。因此,一般來說,存儲器陣列104包括用于存儲數(shù)據(jù)位的多條位線,以及用于存儲ECC信息的多條位線。
在讀取數(shù)據(jù)時,與ECC存儲器地址一起傳送將在其中寫入信息位的數(shù)據(jù)存儲器地址。在對所請求的字線和位線進(jìn)行解碼之前,分別由地址解碼器116和地址ECC校驗114在本地對所述數(shù)據(jù)和ECC存儲器地址進(jìn)行校驗。隨后通過選擇性地激活字線(利用行解碼器108)和位線(利用感測放大器106)從存儲器陣列104的地址讀取數(shù)據(jù)位和ECC信息位。具體來說,在讀取操作期間,可以將字線設(shè)定到高數(shù)據(jù)狀態(tài),從而激活MOS晶體管器件的柵極并且使得存儲在該晶體管中的數(shù)據(jù)驅(qū)動到位線。從所述存儲器陣列讀取的ECC信息位可以被用來檢測及糾正從該存儲器陣列中讀取的相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)位中的錯誤。
類似地,在寫入數(shù)據(jù)時,通過選擇性地激活字線(利用行解碼器108)以及一條或多條位線(利用感測放大器106)將數(shù)據(jù)位和ECC信息位寫入到存儲器模塊中。舉例來說,可以向字線施加大于MOS晶體管器件的閾值電壓的電壓,從而將所述晶體管耦合到位線。隨后升高位線,從而導(dǎo)致將電子或空穴注入到浮動?xùn)艠O。可以在寫入處理期間對于正被寫入到存儲器陣列的數(shù)據(jù)位計算ECC信息位,并且將其寫入到與所述數(shù)據(jù)位相關(guān)聯(lián)的存儲器位置。
附圖說明
圖1示出了包括數(shù)據(jù)位和糾錯碼位的存儲器陣列的方框圖。
圖2示出了包括地址簽名發(fā)生器的存儲器塊的方框圖,所述存儲器塊被配置成檢測導(dǎo)致多個存儲器單元故障的地址線故障。
圖3示出了這里所提供的地址簽名發(fā)生器的具體操作實例。
圖4示出了這里所提供的存儲器塊的實施例,其中所述地址簽名發(fā)生器包括被配置成驅(qū)動XOR(異或)邏輯電路的地址解碼器。
圖5示出了這里所提供的存儲器塊的替換實施例,其中所述地址簽名發(fā)生器包括耦合到地址比較器的第二存儲器。
圖6示出了傳感器系統(tǒng)的一個實施例的方框圖,所述傳感器系統(tǒng)包括用于確定測量器件的電容性和電阻性分量的測量電路。
圖7是示出了檢測導(dǎo)致正在計算機(jī)系統(tǒng)中傳送的數(shù)據(jù)流中的多位故障的地址線錯誤的示例性方法的流程圖。
具體實施方式
下面將參照附圖描述本發(fā)明,其中相同的附圖標(biāo)記一直被用來表示相同的元件,并且所示出的結(jié)構(gòu)和器件不一定是按比例繪制的。
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