[發(fā)明專利]監(jiān)控印刷電路板檢驗(yàn)站操作員的方法和系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110211396.0 | 申請(qǐng)日： | 2011-06-15 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN102426440A | 公開（公告）日： | 2012-04-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | R·弗里斯沃瑟;S·佩雷斯 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 卡姆特有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G05B19/418 | 分類號(hào)： | G05B19/418 |
| 代理公司： | 中國(guó)國(guó)際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所 11038 | 代理人： | 陳新 |
| 地址： | 以色列米格*** | 國(guó)省代碼： | 以色列;IL |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 監(jiān)控 印刷 電路板 檢驗(yàn) 操作員 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種監(jiān)控檢驗(yàn)站的操作員的方法，該方法包括：
由檢驗(yàn)站在檢驗(yàn)過(guò)程期間顯示缺陷的圖像和可疑缺陷的圖像，所述可疑缺陷被期望由操作員在檢驗(yàn)過(guò)程期間歸類；
檢查操作員是否成功將所述缺陷歸類；以及
對(duì)操作員將所述缺陷歸類為缺陷的成功或失敗進(jìn)行響應(yīng)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，包括顯示至少一個(gè)缺陷的多個(gè)圖像以及顯示可疑缺陷的多個(gè)圖像。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，包括確定顯示缺陷的圖像的頻率；以及以該頻率顯示缺陷的圖像。
4.如權(quán)利要求2所述的方法，包括基于該操作員的特性確定該頻率。
5.如權(quán)利要求2所述的方法，包括基于該操作員的經(jīng)驗(yàn)水平確定該頻率。
6.如權(quán)利要求2所述的方法，包括在檢驗(yàn)過(guò)程期間改變?cè)擃l率，其中該改變響應(yīng)于以下至少一項(xiàng)：(a)自檢驗(yàn)過(guò)程開始以來(lái)流逝的時(shí)間，和(b)該操作員響應(yīng)至少一個(gè)先前顯示的缺陷的圖像的方式。
7.如權(quán)利要求2所述的方法，包括選擇該至少一個(gè)缺陷的缺陷類型，該選擇是基于在所述可疑缺陷的多個(gè)圖像中出現(xiàn)該缺陷類型的可疑缺陷的可能性。
8.如權(quán)利要求2所述的方法，包括選擇該至少一個(gè)缺陷的缺陷類型，該選擇是基于該操作員成功檢驗(yàn)該缺陷類型的可疑缺陷的可能性。
9.如權(quán)利要求2所述的方法，其中所述響應(yīng)包括改變將缺陷的圖像顯示給該操作員的方式。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述缺陷的圖像是另一個(gè)操作員先前檢測(cè)到的缺陷的圖像。
11.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述缺陷的圖像是屬于與所述可疑缺陷的圖像相關(guān)聯(lián)的印刷電路板(PCB)不同的PCB的缺陷的圖像。
12.如權(quán)利要求1所述的方法，包括處理所述缺陷的圖像以與可疑缺陷的至少一個(gè)圖像類似。
13.如權(quán)利要求1所述的方法，包括更改所述缺陷的圖像的顏色和亮度中的至少一個(gè)以與可疑缺陷的至少一個(gè)圖像類似。
14.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述缺陷的圖像是合成的缺陷圖像。
15.如權(quán)利要求14所述的方法，包括基于先前獲得的缺陷的圖像生成該合成的缺陷圖像。
16.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述響應(yīng)包括產(chǎn)生警報(bào)。
17.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述響應(yīng)包括停止檢驗(yàn)過(guò)程并且請(qǐng)求另一個(gè)操作員完成該檢驗(yàn)過(guò)程。
18.如權(quán)利要求1所述的方法，包括基于操作員將缺陷歸類的失敗或成功，改變?cè)摍z驗(yàn)過(guò)程的特性。
19.如權(quán)利要求1所述的方法，包括：如果操作員未成功將缺陷歸類，則重放在檢驗(yàn)過(guò)程期間已經(jīng)向該操作員顯示過(guò)的可疑缺陷的至少一個(gè)圖像。
20.如權(quán)利要求19所述的方法，包括基于操作員的經(jīng)驗(yàn)水平確定要重放的可疑缺陷的圖像的數(shù)量。
21.如權(quán)利要求19所述的方法，包括基于自檢驗(yàn)過(guò)程開始流逝的時(shí)間確定要重放的可疑缺陷的圖像的數(shù)量。
22.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述缺陷的圖像是先前檢測(cè)到的缺陷的圖像。
23.如權(quán)利要求1所述的方法，包括響應(yīng)于操作員將所述缺陷歸類為缺陷的失敗，將檢驗(yàn)過(guò)程暫停預(yù)定時(shí)間段。
24.一種用于監(jiān)控檢驗(yàn)站的操作員的系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：
顯示器，用于由檢驗(yàn)站在檢驗(yàn)過(guò)程期間顯示缺陷的圖像和可疑缺陷的圖像，所述可疑缺陷被期望由操作員在檢驗(yàn)過(guò)程期間歸類；
處理器，用于檢查操作員是否成功將所述缺陷歸類，并且用于控制對(duì)操作員將所述缺陷歸類為缺陷的成功或失敗的響應(yīng)。
25.如權(quán)利要求24所述的系統(tǒng)，其中該顯示器被設(shè)置為顯示至少一個(gè)缺陷的多個(gè)圖像以及顯示可疑缺陷的多個(gè)圖像。
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