[發(fā)明專利]具有超結(jié)結(jié)構(gòu)的平面型功率MOSFET器件及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110210968.3 | 申請日: | 2011-07-26 |
| 公開(公告)號: | CN102270663A | 公開(公告)日: | 2011-12-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 朱袁正;葉鵬 | 申請(專利權(quán))人: | 無錫新潔能功率半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/78 | 分類號: | H01L29/78;H01L29/10;H01L21/336 |
| 代理公司: | 無錫市大為專利商標事務(wù)所 32104 | 代理人: | 曹祖良 |
| 地址: | 214131 江蘇省無錫市濱湖區(qū)高浪東*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 結(jié)構(gòu) 平面 功率 mosfet 器件 及其 制造 方法 | ||
1.一種具有超結(jié)結(jié)構(gòu)的平面型功率MOSFET器件,在所述MOSFET器件的俯視平面上,包括位于半導(dǎo)體基板的元胞區(qū)和終端保護區(qū),所述終端保護區(qū)位于元胞區(qū)的外圈,且終端保護區(qū)環(huán)繞包圍元胞區(qū);所述元胞區(qū)內(nèi)包括若干規(guī)則排布且相互并聯(lián)連接的元胞;在所述MOSFET器件的截面上,半導(dǎo)體基板具有相對應(yīng)的第一主面與第二主面,所述第一主面與第二主面間包括第一導(dǎo)電類型漂移層;在半導(dǎo)體基板的第一導(dǎo)電類型漂移層內(nèi)包括若干對具有第一導(dǎo)電類型的第一柱和具有第二導(dǎo)電類型的第二柱;所述第一柱與第二柱沿著電流流通方向在半導(dǎo)體基板的第一導(dǎo)電類型漂移層內(nèi)延伸;在垂直電流流通的方向上,由所述第一柱和第二柱構(gòu)成的多對PN柱交替連接設(shè)置,在半導(dǎo)體基板內(nèi)形成超結(jié)結(jié)構(gòu);其特征是:
在所述MOSFET器件的截面上,所述元胞區(qū)內(nèi)包括位于第一導(dǎo)電類型漂移層內(nèi)的第二導(dǎo)電類型層,所述第二導(dǎo)電類型層與所述第二導(dǎo)電類型層下方的第二導(dǎo)電類型第二柱相連接,相鄰的第二導(dǎo)電類型層間通過第一導(dǎo)電類型漂移層隔離,第二導(dǎo)電類型層內(nèi)設(shè)有第一導(dǎo)電類型注入?yún)^(qū);所述相鄰第二導(dǎo)電類型層之間的第一導(dǎo)電類型漂移層正上方對應(yīng)的第一主面上設(shè)置有第二柵氧化層區(qū),所述第二柵氧化層區(qū)的寬度不大于第一導(dǎo)電類型漂移層內(nèi)相鄰第二導(dǎo)電類型層之間的水平距離;第二柵氧化層區(qū)的兩側(cè)設(shè)有第一柵氧化層區(qū),所述第二柵氧化層區(qū)的厚度大于第一柵氧化層區(qū)的厚度;第一柵氧化層區(qū)與相應(yīng)的第二導(dǎo)電類型層及所述第二導(dǎo)電類型層內(nèi)的第一導(dǎo)電類型注入?yún)^(qū)部分交疊接觸;在半導(dǎo)體基板的第一主面上,靠近第二柵氧化層區(qū)一側(cè),第二導(dǎo)電類型層包覆第二導(dǎo)電類型層內(nèi)的第一導(dǎo)電類型注入?yún)^(qū)的水平距離小于第一柵氧化層區(qū)的寬度;
所述第一柵氧化層區(qū)及第二柵氧化層區(qū)上均覆蓋有導(dǎo)電多晶硅,所述導(dǎo)電多晶硅上設(shè)有絕緣介質(zhì)層,所述絕緣介質(zhì)層覆蓋于相應(yīng)的導(dǎo)電多晶硅上并包覆相應(yīng)的第一柵氧化層區(qū)、第二柵氧化層區(qū)及導(dǎo)電多晶硅;在半導(dǎo)體基板的第一主面上,相鄰的絕緣介質(zhì)層間設(shè)有源極引線孔,所述源極引線孔內(nèi)填充有源極金屬,所述源極金屬與導(dǎo)電多晶硅間通過絕緣介質(zhì)層隔離,且所述源極金屬同時與第一導(dǎo)電類型注入?yún)^(qū)及第二導(dǎo)電類型層歐姆接觸。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述具有超結(jié)結(jié)構(gòu)的平面型功率MOSFET器件,其特征是:在所述MOSFET器件的截面上,超結(jié)結(jié)構(gòu)存在于元胞區(qū)及終端保護區(qū)內(nèi);元胞區(qū)內(nèi)任意PN柱對的寬度及深度均相同。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述具有超結(jié)結(jié)構(gòu)的平面型功率MOSFET器件,其特征是:所述半導(dǎo)體基板的材料包括硅,半導(dǎo)體基板包括第一導(dǎo)電類型漂移層及位于所述第一導(dǎo)電類型漂移層下方的第一導(dǎo)電類型襯底,所述第一導(dǎo)電類型漂移層鄰接第一導(dǎo)電類型襯底;第一導(dǎo)電類型漂移層的表面對應(yīng)形成第一主面,第一導(dǎo)電類型襯底的表面對應(yīng)形成第二主面。
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