[發(fā)明專利]液晶面板的電壓測(cè)試裝置和系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110210956.0
• 申請(qǐng)日: 2011-07-26
• 公開（公告）號(hào): CN102254502A
• 公開（公告）日: 2011-11-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王金杰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G09G3/00
• 分類號(hào): G09G3/00
• 代理公司: 廣東國(guó)暉律師事務(wù)所 44266
• 代理人: 陳琳

【技術(shù)領(lǐng)域】

本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種液晶面板的電壓測(cè)試裝置和系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】

薄膜晶體管(Thin?Film?Transistor，TFT)-液晶顯示器(Liquid?Crystal?Display，LCD)面板在進(jìn)行可靠度測(cè)試時(shí)，通常會(huì)用電壓進(jìn)行空氣或者接觸放電。請(qǐng)參閱圖1A，對(duì)圖1A中1至8號(hào)測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行電壓為0～4KV的靜電釋放(Electro-Static?Discharge，ESD)電壓測(cè)試。

在實(shí)際的測(cè)試過程中，3至8號(hào)測(cè)試點(diǎn)基本都可以通過ESD電壓測(cè)試，但在對(duì)1號(hào)和2號(hào)測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行電壓測(cè)試時(shí)，如果電壓過大，經(jīng)常會(huì)有水平或者垂直的亮線產(chǎn)生，通過解析發(fā)現(xiàn)是液晶面板的驅(qū)動(dòng)芯片11(圖1B)下方的開關(guān)電路被擊傷，造成信號(hào)的傳輸異常。

請(qǐng)參閱圖1B，圖1B為圖1A的內(nèi)部連接結(jié)構(gòu)圖，其中，造成開關(guān)電路被擊傷的主要原因是由于測(cè)試焊點(diǎn)12放置在1號(hào)和2號(hào)測(cè)試點(diǎn)(圖1A)附近，導(dǎo)致在進(jìn)行ESD測(cè)試時(shí)，電流會(huì)沿著連接測(cè)試焊點(diǎn)12的測(cè)試線13進(jìn)入到液晶面板的內(nèi)部，進(jìn)而造成液晶面板內(nèi)部電路的擊傷。

綜上，如何解決現(xiàn)有技術(shù)中在對(duì)液晶面板進(jìn)行電壓測(cè)試時(shí)，由于電流過大，導(dǎo)致液晶面板內(nèi)部電路被擊傷的問題，是液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域需要解決的技術(shù)問題之一。

【發(fā)明內(nèi)容】

本發(fā)明的一個(gè)目的在于提供一種液晶面板的電壓測(cè)試裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)中在對(duì)液晶面板進(jìn)行電壓測(cè)試時(shí)，由于電流過大，導(dǎo)致液晶面板內(nèi)部電路被擊傷的技術(shù)問題。

為解決上述問題，本發(fā)明構(gòu)造了一種液晶面板的電壓測(cè)試裝置，包括測(cè)試焊點(diǎn)和測(cè)試線，所述測(cè)試焊點(diǎn)通過所述測(cè)試線連接液晶面板，所述測(cè)試線包括開關(guān)測(cè)試線和信號(hào)輸入測(cè)試線，

所述裝置還包括第一連接件，所述開關(guān)測(cè)試線包括第一部分開關(guān)測(cè)試線和第二部分開關(guān)測(cè)試線，所述第一部分開關(guān)測(cè)試線和所述第二部分開關(guān)測(cè)試線通過所述第一連接件連接；

所述第一連接件用于限制進(jìn)入所述液晶面板的電流強(qiáng)度。

在本發(fā)明的液晶面板的電壓測(cè)試裝置中，在通過所述開關(guān)測(cè)試線的電流超過預(yù)先設(shè)置的電流閾值時(shí)，所述第一連接件斷開所述第一部分開關(guān)測(cè)試線和第二部分開關(guān)測(cè)試線之間的連接，以限制進(jìn)入所述液晶面板的電流強(qiáng)度。

在本發(fā)明的液晶面板的電壓測(cè)試裝置中，所述信號(hào)輸入測(cè)試線包括第一部分信號(hào)輸入測(cè)試線和第二部分信號(hào)輸入測(cè)試線；

所述裝置還包括第二連接件，所述第一部分信號(hào)輸入測(cè)試線和第二部分信號(hào)輸入測(cè)試線通過所述第二連接件連接。

在本發(fā)明的液晶面板的電壓測(cè)試裝置中，在通過所述信號(hào)輸入測(cè)試線的電流超過預(yù)先設(shè)置的電流閾值時(shí)，所述第二連接件斷開所述第一部分信號(hào)輸入測(cè)試線和第二部分信號(hào)輸入測(cè)試線之間的連接。

在本發(fā)明的液晶面板的電壓測(cè)試裝置中，所述第二連接件包括有第二固定件和第二導(dǎo)體；所述第二導(dǎo)體通過所述第二固定件固定連接所述信號(hào)輸入測(cè)試線；

其中，所述第二導(dǎo)體的電阻值大于所述信號(hào)輸入測(cè)試線的電阻值。

在本發(fā)明的液晶面板的電壓測(cè)試裝置中，所述第一連接件包括至少兩個(gè)的分支連接件，所述至少兩個(gè)的分支連接件通過并聯(lián)的方式設(shè)置在所述第一部分開關(guān)測(cè)試線和第二部分開關(guān)測(cè)試線之間。

在本發(fā)明的液晶面板的電壓測(cè)試裝置中，所述第一部分開關(guān)測(cè)試線設(shè)置有第三連接件和第一晶體管；

所述信號(hào)輸入測(cè)試線設(shè)置有第二晶體管，所述裝置還包括第四連接件；

其中，所述第一晶體管的源極通過所述第三連接件連接所述開關(guān)測(cè)試線對(duì)應(yīng)的測(cè)試焊點(diǎn)，所述第一晶體管的漏極通過所述第四連接件連接所述第二晶體管的柵極；

所述第二晶體管的源極連接所述信號(hào)輸入測(cè)試線對(duì)應(yīng)的測(cè)試焊點(diǎn)，所述第二晶體管的漏極連接所述液晶面板內(nèi)部開關(guān)的源極。

在本發(fā)明的液晶面板的電壓測(cè)試裝置中，所述第一連接件，第三連接件以及第四連接件均包括有固定件和導(dǎo)體；

上述任一連接件中的導(dǎo)體通過該連接件的固定件固定連接該連接件對(duì)應(yīng)的測(cè)試線；

其中，上述任一連接件中導(dǎo)體的電阻值均大于對(duì)應(yīng)的測(cè)試線的電阻值。

本發(fā)明的另一個(gè)目的在于提供一種液晶面板的電壓測(cè)試系統(tǒng)，以解決現(xiàn)有技術(shù)中在對(duì)液晶面板進(jìn)行電壓測(cè)試時(shí)，由于電流過大，導(dǎo)致液晶面板內(nèi)部電路被擊傷的技術(shù)問題。

為解決上述問題，本發(fā)明構(gòu)造了一種液晶面板的電壓測(cè)試系統(tǒng)，包括液晶面板，還包括一液晶面板的電壓測(cè)試裝置，所述裝置包括測(cè)試焊點(diǎn)和測(cè)試線，所述測(cè)試焊點(diǎn)通過所述測(cè)試線連接液晶面板，所述測(cè)試線包括開關(guān)測(cè)試線和信號(hào)輸入測(cè)試線，