[發明專利]眼科設備及其控制方法

有效

• 申請號: 201110209371.7
• 申請日: 2011-07-22
• 公開（公告）號: CN102370458A
• 公開（公告）日: 2012-03-14
• 發明（設計）人: 野里宏治
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: A61B3/15
• 分類號: A61B3/15;A61B3/12
• 代理公司: 北京魏啟學律師事務所 11398
• 代理人: 魏啟學

技術領域

本發明涉及眼科設備和該設備的控制方法，尤其涉及以下的眼科設備和該設備的控制方法：該眼科設備具有用于測量和校正被檢眼的像差的自適應光學功能，并且可以根據攝像狀態來校正該像差。

背景技術

近來，作為眼科攝像設備，已廣泛使用了如同美國專利4,213,678所公開的設備那樣的SLO(Scanning?Laser?Ophthalmoscope，掃描激光檢眼鏡)設備，該SLO設備利用激光束二維照射眼底并且接收反射光。

另外，使用低相干光干涉的攝像設備已付諸實踐。該設備被稱為OCT(Optical?Coherence?Tomography，光學相干斷層成像)，其特別用于眼科領域以獲得眼底或其相鄰區域的斷層圖像。作為一類OCT，可以利用美國專利5,321,501或日本特開2002-515593所公開的被稱為TD-OCT(Time?Domain?OCT，時域OCT)的方法。作為另一類OCT，Handbook?of?Optical?Coherence?Tomography(2006)(第145、149頁，圖2、3；第338頁，圖1)公開了被稱為SD-OCT(Spectral?Domain?OCT，譜域OCT)的方法。

近來，例如通過提高激光照射光學系統的NA提高了這種眼科攝像設備的分辨率。然而，當對眼底攝像時，需要穿過諸如角膜和晶狀體等的眼睛的光學組織進行攝像。隨著分辨率的提高，角膜和晶狀體的像差已極大影響了所拍攝圖像的圖像質量。在這種情況下，已經對在光學系統中包括測量和校正眼睛的像差的AO(Adaptive?Optics，自適應光學)的AO-SLO和AO-OCT進行了研究。例如，Y.Zhang?et?al.，Optics?Express，Vol.14，No.10，15May?2006公開了AO-OCT。AO-SLO和AO-OCT通常利用哈特曼-夏克(Shack-Hartmann)波前傳感器系統來測量眼睛的波前。哈特曼-夏克波前傳感器系統是以下的技術：通過利用測量光照射眼睛并使CCD照相機經由微型透鏡陣列接收反射光來測量該眼睛的波前。可以通過驅動諸如可變形鏡和空間相位調制器等的波前校正裝置以校正測量出的波前并經由這些裝置進行眼底攝像，來進行高分辨率攝像。

包括以上傳統的自適應光學系統的眼底攝像設備通常被配置為將反射光的光接收單元和波前傳感器保持為光學共軛關系，從而允許該波前傳感器測量與該光接收單元的像差狀態相同的像差。在大多情況下，這些設備進行反饋控制，即基于波前傳感器測量出的信息重復驅動波前校正裝置。反饋控制的原因是為了應對指示值和實際校正量之間的誤差以及像差根據眼睛的淚液和屈光調整的狀態的變化。

在該結構中，應當能夠通過使用波前傳感器減少像差來減少信號光在光接收單元處的像差并且提高光接收效率。然而，即使波前傳感器測量出的像差最小，光接收效率根據諸如由于雜散光的影響而引起的波前傳感器的測量誤差、準直器等的光接收單元的光學系統中存在的像差以及波前傳感器和光接收單元之間的共軛關系的干擾等的影響，也不可能最大。

可以通過在設備組裝時進行檢測和調整等來應對波前傳感器和光接收單元之間的共軛關系的干擾以及光接收單元內的像差。然而，由于難以預先預測雜散光對波前傳感器的影響，因此很難應對該影響。即使可以應對該影響，也需要根據設備之間的個體差異和安裝狀況來改變像差校正控制。這對設備調整方面施加了非常重的負擔。

考慮到以上問題，本發明提供以下的技術：允許根據攝像狀態進行像差校正，并且以高圖像質量進行攝像。

發明內容

根據本發明的第一方面，提供一種眼科設備，包括：像差校正單元，用于校正朝向被檢眼的照射光和來自所述被檢眼的返回光至少之一的像差；光接收單元，用于接收由所述像差校正單元校正了像差、然后照射所述被檢眼的光作為來自所述被檢眼的返回光；測量單元，用于測量所述返回光的像差；以及控制單元，用于基于所述測量單元所獲得的測量結果和所述光接收單元所獲得的光接收結果，來控制所述像差校正單元。

根據本發明的第二方面，提供一種眼科設備的控制方法，包括以下步驟：像差校正步驟，用于校正朝向被檢眼的照射光和來自所述被檢眼的返回光至少之一的像差；光接收步驟，用于接收在所述像差校正步驟中校正了像差、然后照射所述被檢眼的光作為來自所述被檢眼的返回光；測量步驟，用于測量所述返回光的像差；以及控制步驟，用于基于在所述測量步驟中獲得的測量結果和在所述光接收步驟中獲得的光接收結果，來控制所述像差校正步驟。

通過以下參考附圖對典型實施例的說明，本發明的其它特征將變得明顯。