[發(fā)明專(zhuān)利]對(duì)中子伽馬密度測(cè)量的校正

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110204505.6
• 申請(qǐng)日: 2011-07-13
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102330552A
• 公開(kāi)（公告）日: 2012-01-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: M·埃文斯;M-L·莫博涅
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 普拉德研究及開(kāi)發(fā)股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): E21B49/00
• 分類(lèi)號(hào): E21B49/00;G01V5/14
• 代理公司: 永新專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 72002
• 代理人: 陳松濤;蹇煒

1.一種方法，包括：

使用井下工具的中子生成器來(lái)發(fā)射中子到地層中，使得所述中子中的一些由所述地層非彈性散射并且生成非彈性伽馬射線；

使用所述井下工具的中子探測(cè)器來(lái)探測(cè)返回到所述井下工具的中子計(jì)數(shù)率；

使用所述井下工具的伽馬射線探測(cè)器來(lái)探測(cè)非彈性伽馬射線計(jì)數(shù)率；

確定所述地層是否具有在無(wú)附加校正時(shí)預(yù)期會(huì)使得所述中子計(jì)數(shù)率導(dǎo)致中子伽馬密度確定不精確的特性，其中，當(dāng)所述地層不具有所述特性時(shí)，不施加所述附加校正；

當(dāng)所述地層具有所述特性時(shí)，通過(guò)向所述中子計(jì)數(shù)率、所述非彈性伽馬射線計(jì)數(shù)率、或所述中子輸運(yùn)校正函數(shù)、或其組合施加校正來(lái)施加所述附加校正，并且至少部分地基于所校正的中子計(jì)數(shù)率、所校正的非彈性伽馬射線計(jì)數(shù)率、或所校正的中子輸運(yùn)校正函數(shù)、或其組合來(lái)確定所述地層的密度；以及

當(dāng)所述地層不具有所述特性時(shí)，至少部分地基于所探測(cè)的中子計(jì)數(shù)率、所探測(cè)的非彈性伽馬射線計(jì)數(shù)率、或所述中子輸運(yùn)校正函數(shù)、或其組合來(lái)確定所述地層的密度。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述特性包括比預(yù)定值低的孔隙度。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述特性包括使得在將所述中子計(jì)數(shù)率施加于所述中子輸運(yùn)校正函數(shù)中時(shí)，所述中子計(jì)數(shù)率不精確地對(duì)應(yīng)于所述地層的快中子輸運(yùn)的重元素濃度。

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，至少部分地基于所述中子輸運(yùn)校正函數(shù)來(lái)確定所述地層的所述密度，其中，所述中子輸運(yùn)校正函數(shù)是所述中子計(jì)數(shù)率的函數(shù)，所述中子計(jì)數(shù)率精確地對(duì)應(yīng)于不具有所述特性的至少一些地層的快中子輸運(yùn)。

5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，至少部分地基于所述非彈性伽馬射線計(jì)數(shù)率的函數(shù)減去通過(guò)所述中子輸運(yùn)校正函數(shù)和校準(zhǔn)函數(shù)獲得的值來(lái)確定所述地層的所述密度，其中，所述校準(zhǔn)函數(shù)解釋所述中子生成器的中子輸出。

6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，至少部分地基于以下關(guān)系來(lái)確定所述地層的所述密度：

log(CRγinel)-f(CRneutron)-log(Ccal·NS)c1=ρelectron,]]>

其中，ρ_electron表示所述地層的所述密度，表示所述非彈性伽馬射線計(jì)數(shù)率，CR_neutron表示所述中子計(jì)數(shù)率，f(CR_neutron)表示所述中子輸運(yùn)校正函數(shù)，C_cal表示校準(zhǔn)常數(shù)，N_s表示所述中子生成器的輸出，以及c₁表示實(shí)驗(yàn)上或通過(guò)核建模或通過(guò)其組合獲得的系數(shù)。