[發明專利]二等水準點上橋測量方法

有效

• 申請號: 201110204124.8
• 申請日: 2011-07-20
• 公開（公告）號: CN102288156A
• 公開（公告）日: 2011-12-21
• 發明（設計）人: 張杰勝;張宏斌;阮仁義;劉帥帥;劉曉東;李文成
• 申請（專利權）人: 中鐵四局集團第一工程有限公司
• 主分類號: G01C5/00
• 分類號: G01C5/00
• 代理公司: 安徽省合肥新安專利代理有限責任公司 34101
• 代理人: 何梅生

1.二等水準點上橋測量方法，其特征是按如下步驟進行：

a、分別設置線下水準點和橋上水準點

在第一被測橋墩(1)的下部、位于第一被測橋墩(1)的側部位置處設置第一線下水準點C1；在第一被測橋墩(1)的上方、處在與所述第一線下水準點C1相對應位置處的梁體固定支座端擋砟墻(3)上設置第一橋上水準點D1；

在第二被測橋墩(2)的下部、位于第二被測橋墩(2)的側部位置處設置第二線下水準點C2；在第二被測橋墩(2)的上方、處在與所述第二線下水準點C2相對應位置處的梁體固定支座端擋砟墻(3)上設置第二橋上水準點D2；

b、利用分處在不同位置上的已知的高程控制點A和已知的高程控制點B，以附合水準線路往返測量模式分別獲得：

高程控制點A與第一線下水準點C1之間的高差hA1；

高程控制點A與第二線下水準點C2之間的高差hA2；

高程控制點B與第一線下水準點C1之間的高差hB1；

高程控制點B與第二線下水準點C2之間的高差hB2；

c、測量線下水準點與橋上水準點之間的高差

利用全站儀測量得到：第一線下水準點C1與全站儀(4)的視準中心的高差h11

????????????????????第一橋上水準點D1與全站儀(4)的視準中心的高差h12

????????????????????第二線下水準點C2與全站儀(4)的視準中心的高差h21

????????????????????第二橋上水準點D2與全站儀(4)的視準中心的高差h22

則第一線下水準點C1與第一橋上水準點D1之間的高差h1為：h1＝h11+h12

第二線下水準點C2與第二橋上水準點D2之間的高差h2為：h2＝h21+h22

d、以電子水準儀測量第一橋上水準點D1和第二橋上水準點D2之間的高差h3

e、利用以下數據，根據平差計算分別得到第一橋上水準點D1和第二橋上水準點D2的高程：

已知的高程控制點A和高程控制點B的高程、

高程控制點A與第一線下水準點C1之間的高差hA1、

高程控制點A與第二線下水準點C2之間的高差hA2、

高程控制點B與第一線下水準點C1之間的高差hB1、

高程控制點B與第二線下水準點C2之間的高差hB2、

第一線下水準點C1與第一橋上水準點D1之間的高差h1、

第二線下水準點C2與第二橋上水準點D2之間的高差h2、

第一橋上水準點D1和第二橋上水準點D2之間的高差h3。

2.根據權利要求1所述的二等水準點上橋測量方法，其特征是所述第一被測橋墩(1)和第二被測橋墩(2)相距150-250米。