[發明專利]鋁銅銻相變薄膜及其制備方法無效
| 申請號: | 201110204069.2 | 申請日: | 2011-07-21 |
| 公開(公告)號: | CN102347444A | 公開(公告)日: | 2012-02-08 |
| 發明(設計)人: | 梁廣飛;王陽;吳誼群 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海光學精密機械研究所 |
| 主分類號: | H01L45/00 | 分類號: | H01L45/00 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人: | 張澤純 |
| 地址: | 201800 上海*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 鋁銅銻 相變 薄膜 及其 制備 方法 | ||
1.一種鋁銅銻相變薄膜,其特征在于該相變薄膜的成分為AlxCuySbz?,其中:x的取值范圍為1-10?at%,y的取值范圍為在1-40?at%,z的取值范圍為在60-98?at%,該鋁銅銻薄膜(3)是利用磁控濺射薄膜制備設備,經過AlCu合金靶和Sb靶共濺在清潔的基片(1)上制備的,所述的鋁銅銻薄膜(3)的厚度為5-500nm。
2.根據權利要求1所述的鋁銅銻相變薄膜,其特征在于所述的薄膜結構包括:
單層結構,即:鋁銅銻薄膜(3)直接沉積在基片(1)上面;
三層結構,在基片(1)上先后沉積下介質層(2)、鋁銅銻薄膜(3)和上介質層(4);
根據權利要求2所述鋁銅銻相變薄膜,其特征在于所述的基片(1)是厚度為0.05-3mm的Si,或K9玻璃,或聚碳酸酯。
3.根據權利要求2所述鋁銅銻相變薄膜,其特征在于所述的下介質層(2)和上介質層(4)為厚度為0-100nm的ZnS-SiO2或SiN,所述的ZnS-SiO2中ZnS占80at%,SiO2占20at%,;
5、一種鋁銅銻相變薄膜的制備方法,采用磁控濺射鍍膜機制備,其特征在于該方法包括如下步驟:
(a)基片采用干凈的聚碳酸酯盤基放入磁控濺射鍍膜機的托盤上,后用純度99.9%的高壓氮氣吹干;
(b)把裁好的基片用鑷子固定在磁控濺射儀的樣品托上,然后把樣品托夾持在濺射真空腔里的基片座上,把需要濺射的介質靶材ZnS-SiO2和共濺的Sb靶和AlxCuy合金靶放到相應的靶基座上固定好;調節靶材與基片之間的距離,然后關閉真空腔蓋開始抽真空,直至腔內真空度優于4×10-4Pa;
(c)進行下層介質膜層ZnS-SiO2的濺射工作,采用Ar作為濺射氣體,濺射完成后,關閉射頻電源,關閉Ar閥門,打開閘板閥抽氣以去除腔內雜質;
(d)進行共濺相變材料膜層的濺射工作,AlCuSb相變材料薄膜的成分通過選擇AlCu合金靶的化學配比,并固定Sb靶的濺射功率,改變合金靶AlCu的濺射功率的方法來控制;厚度通過改變濺射時間來控制;
采用Ar作為濺射氣體,打開Ar閥門開關向腔內充Ar,通過流量計控制Ar的通入量為80sccm,同時調節磁控濺射儀閘板閥至工作氣壓為0.8Pa,接著打開AlxCuy合金靶和Sb靶所對應的直流電源,固定Sb靶材的濺射功率,調節AlCu合金靶材至濺射功率,待功率穩定后,利用計算機程序把裝有樣品的樣品托轉移至預制好的共濺靶位上,并采用計算機程序設定濺射時間8min,進行相變層的濺射工作,濺射完成后,關閉直流電源,關閉Ar閥門,打開閘板閥抽氣以去除腔內雜質;
(e)然后進行上層介質膜層ZnS-SiO2的濺射工作;最后利用計算機程序使樣品托恢復到原來位置,然后關閉磁控濺射儀,放氣,開腔取出鋁銅銻相變薄膜制品。
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