[發明專利]納米金定量檢測分析儀

無效

• 申請號: 201110203607.6
• 申請日: 2011-07-20
• 公開（公告）號: CN102297866A
• 公開（公告）日: 2011-12-28
• 發明（設計）人: 王升啟;伯曉晨;肖瑞;朱坤
• 申請（專利權）人: 深圳市普瑞康生物技術有限公司;中國人民解放軍軍事醫學科學院放射與輻射醫學研究所
• 主分類號: G01N21/84
• 分類號: G01N21/84
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 邱奕才;禹小明

1.一種納米金定量檢測分析儀，其特征在于該檢測分析儀包括機械傳動系統、微光檢測系統、控制系統、軟件分析系統及電源系統，所述機械傳動系統設置有存放檢測樣品的樣品盤以及驅動樣品盤到適合微光檢測系統攝影位置的絲桿及導軌，所述微光檢測系統由攝像頭及相應處理電路構成，實現對檢測樣品進行攝像及處理，所述軟件分析系統包括上位機系統和下位機系統，下位機系統采用圖像攝取儀獲取微光檢測系統的攝像數據，并通過有線或無線連接方式發送給作為上位機系統的PC機，所述電源系統為整個檢測分析儀供電，所述控制系統控制電源系統的恒壓供電。

2.根據權利要求1所述的納米金定量檢測分析儀，其特征在于所述機械傳動系統、微光檢測系統、控制系統、電源系統及軟件分析系統的下位機系統設置在一個機殼內部。

3.根據權利要求2所述的納米金定量檢測分析儀，其特征在于所述機械傳動系統由一組絲杠、兩個單向導軌、一個樣品盤組成，所述單向導軌使得攝像頭上下移動，所述絲杠實現攝像頭的上下調焦定位，所述樣品盤通過直線滑軌單向進出殼體。

4.根據權利要求3所述的納米金定量檢測分析儀，其特征在于所述機殼在對應樣品盤后端的部位設有可調磁力擋塊以實現樣品盤沿直線滑軌推進出機殼的密閉定位。

5.根據權利要求2所述的納米金定量檢測分析儀，其特征在于所述微光檢測系統由攝像頭、放大電路、A/D電路、DSP電路組成，其中放大電路、A/D電路、DSP電路集成在一塊電路板上，微光檢測系統所需光源由環形發光二極管提供，并采用均光罩進行均度處理。

6.根據權利要求2所述的納米金定量檢測分析儀，其特征在于所述控制系統采用微處理器，并通過USB接口電路與軟件分析系統進行雙工通信，所述控制系統一方面對備用電池進行充放電調節，另一方面控制恒壓供電。

7.根據權利要求2所述的納米金定量檢測分析儀，其特征在于所述上位機軟件采用中值濾波對圖像進行處理，以平滑圖像樣點內部的灰度值，同時保留圖像樣點邊緣的特征。