[發明專利]一種黑心硅片的快速檢測方法

無效

• 申請號: 201110203126.5
• 申請日: 2011-07-20
• 公開（公告）號: CN102313865A
• 公開（公告）日: 2012-01-11
• 發明（設計）人: 張華東;賈孝董;劉成;張周達;徐建飛
• 申請（專利權）人: 浙江尖山光電股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 杭州賽科專利代理事務所 33230
• 代理人: 陳輝

技術領域

本發明涉及一種黑心硅片的快速檢測方法。?

背景技術

太陽能行業與煤電等傳統能源競爭面臨的最大壓力就是成本，而太陽能電池及組件的主要成本是硅料，由于硅料技術含量高，之前硅料基本都靠國外進口，價格很高。因此很多國內生產硅料的廠家由此孕育而生，但是國產硅料在品質上與進口硅料存在一定差距，特別是一些有害雜質超標的硅料做出來的硅片將嚴重影響電池片或者組件的質量，這其中就有一類稱為“黑心片”的硅片，由于黑心硅片做成電池片后不僅效率整體偏低，而且電池衰減率大大超過正常電池片，還嚴重影響整塊組件的功率穩定性。傳統的判定黑心片方法為：先將硅片做成電池后經過EL檢測(近紅外缺陷分析儀)測試后才能夠發現(前后大概15小時時間)，此方法受到時間，速度及量的限制無法滿足大規模電池線生產需求。(EL檢測每片電池片需要20秒，每分鐘3片，即每小時180片)，而且一旦硅片做成電池即使檢測發現是黑心硅片也已經無法將此類硅片退還供應商，造成公司損失。?

發明內容

本發明針對現有技術存在的缺陷，提供一種黑心硅片的快速檢測技術，有效提高檢測效率，降低公司損失。?

為此，本發明采取如下技術方案：一種黑心硅片的快速檢測方法，其特征在于對制成黑心硅片的原料硅棒的頭、尾兩端分別切一薄片，并使用碘酒對薄片鈍化后再用少子壽命測試儀進行測試確定其少子壽命。

所述薄片的厚度為2mm。?

本發明判定黑心片的原理是根據形成黑心硅片的黑心區域位錯密度嚴重超過正常區域而來的，眾說周知硅片位錯密度越高同等情況下少子壽命越低，因此在硅片制作電池前可以首先檢測硅片的少子壽命來判定硅片是否正常。黑心硅片掃描后其少子壽命呈現從內部到外面的同心圓，且內部壽命最低，這與正常硅片是截然不同的。?

采用本發明的方法可以提前判定硅片質量，減小了黑心硅片做成電池片后造成難以彌補的損失。為了滿足公司大規模生產，通常采用檢測硅棒的方法來進行判定，又由于硅棒的位錯主要集中的硅棒頭尾，因此檢測頭尾薄片非常具有代表性，而且兩個薄片即代表了整個硅棒的性能，滿足了快速檢測需要。由于切割會在硅片表面存在損傷層并會影響少子壽命測試結果，因此將這個薄片用碘酒鈍化后再測少子壽命就比較準確了。?

附圖說明

圖1為正常硅片的結構示意圖；?

圖2為黑心硅片的結構示意圖。?

具體實施方式

本發明可采取如下步驟實現對黑心硅片的快速檢測，首先對硅棒的頭、尾兩端分別切厚度約為2mm的薄片，再使用碘酒對薄片鈍化，最后用少子壽命測試儀進行測試確定其少子壽命。由于硅棒的位錯主要集中的硅棒頭尾，因此檢測頭尾薄片非常具有代表性，而且二個薄片即代表了整個硅棒的性能，滿足了快速檢測需要。由于切割會在硅片表面存在損傷層并會影響少子壽命測試結果，因此將這個薄片用碘酒鈍化后再測少子壽命就比較準確了。?

結合圖1和圖2可以看出，黑心硅片2掃描后其少子壽命呈現從內部到外面的同心圓3，且內部壽命最低，這與正常硅片1是截然不同的。眾說周知硅片?位錯密度越高同等情況下少子壽命越低，因此在硅片制作電池前可以首先檢測硅片的少子壽命來判定硅片是否正常。?

需要特別指出的是，上述實施例的方式僅限于描述實施例，但本發明不止局限于上述方式，且本領域的技術人員據此可在不脫離本發明的范圍內方便的進行修飾，因此本發明的范圍應當包括本發明所揭示的原理和新特征的最大范圍。?