[發明專利]一種顆粒及顆粒流摩擦帶電量測量裝置

無效

• 申請號: 201110202199.2
• 申請日: 2011-07-19
• 公開（公告）號: CN102353854A
• 公開（公告）日: 2012-02-15
• 發明（設計）人: 謝莉;周俊;韓魁
• 申請（專利權）人: 蘭州大學
• 主分類號: G01R29/24
• 分類號: G01R29/24
• 代理公司: 北京中恒高博知識產權代理有限公司 11249
• 代理人: 劉震

1.一種顆粒及顆粒流摩擦帶電量測量裝置，其特征在于，包括支架，放置在所述支架上、且用于放置顆粒的裝料槽，所述支架用于支撐并旋轉裝料槽；

在所述裝料槽的末端，設有用于同時輸出顆粒的質量與電量的天平、法拉第筒及靜電計，所述法拉第筒放置在天平上，所述靜電計通過導線與法拉第筒連接。

2.根據權利要求1所述的顆粒及顆粒流摩擦帶電量測量裝置，其特征在于，所述支架包括水平設置的底座，垂直設置在所述底座上方的螺桿，以及水平設置在所述螺桿頂端的回轉定桿。

3.根據權利要求2所述的顆粒及顆粒流摩擦帶電量測量裝置，其特征在于，所述支架，還包括設置在所述螺桿與回轉定桿之間、且用于調整回轉螺桿高度的螺母。

4.根據權利要求2或3所述的顆粒及顆粒流摩擦帶電量測量裝置，其特征在于，所述回轉定桿，包括長方形本體，以及水平對稱設置在所述長方形本體的長度方向一端的一對連接條；在所述長方形本體上靠近一對連接條處，對稱開設有用于與螺桿連接的一對螺紋孔；在所述一對連接條的末端，對稱開設有用于與轉軸連接的一對轉軸連接孔。

5.根據權利要求2所述的顆粒及顆粒流摩擦帶電量測量裝置，其特征在于，所述裝料槽，包括與所述回轉定桿配合連接的轉軸，與所述轉軸轉動式連接的回轉體，以及設置在所述回轉體上方的料槽。

6.根據權利要求5所述的顆粒及顆粒流摩擦帶電量測量裝置，其特征在于，在所述回轉定桿與回轉體之間，還設有用于固定回轉體位置的鎖緊螺栓。

7.根據權利要求5所述的顆粒及顆粒流摩擦帶電量測量裝置，其特征在于，所述料槽的橫截面為“凹”形；在所述料槽的“凹”形內表面，可根據測量要求鋪設沙床。

8.根據權利要求5所述的顆粒及顆粒流摩擦帶電量測量裝置，其特征在于，所述回轉定體，包括與回轉定桿相匹配、且用于與轉軸連接的一對轉軸連接孔，用于放置料槽的凹槽，以及對稱設置、且用于將料槽固定在凹槽內部的一對卡件。