[發明專利]使用脒基金屬的原子層沉積有效
| 申請號: | 201110201579.4 | 申請日: | 2003-11-14 |
| 公開(公告)號: | CN102312214A | 公開(公告)日: | 2012-01-11 |
| 發明(設計)人: | R·G·格登;B·S·利姆 | 申請(專利權)人: | 哈佛學院院長等 |
| 主分類號: | C23C16/18 | 分類號: | C23C16/18 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038 | 代理人: | 王貴杰 |
| 地址: | 美國馬*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 使用 基金 原子 沉積 | ||
本申請是申請號為200380106327.7、申請日為2003年11月14日、發明名稱為“使用脒基金屬的原子層沉積”的專利申請的分案申請。
發明背景
1.發明領域
本發明涉及用于在固體底材上沉積含金屬的保形薄膜的材料和方法,并且薄膜尤其是含銅、鈷和鐵金屬或其氧化物或氮化物的薄膜。本發明可用于制造微電子器件。
2.相關技術的說明
當需要改善半導體微電子器件的速率和功能時,需要新型材料。例如,需要具有較高電導率的材料以形成集成電路中晶體管之間的線路。與鋁相比,銅具有更高的電導率,并且在防止電遷移方面具有更好的穩定性。因此,銅變得越來越普遍地用于硅半導體。這種趨向公開在互聯網http://public.itrs.net/Files/2001ITRS/Home.htm的半導體國際技術發展藍圖中。
銅連接線路還必須被保形設置在例如細孔結構中,并且產生的薄膜必須具有高度均勻的厚度。如果存在厚度差異,由于銅的粗糙表面產生增加的電子散射,槽或通道中銅的電導率將會降低。高質量的阻擋層/粘附層需要具有非常光滑的表面。
適于制造光滑、保形層的一個方法是“原子層沉積”,或ALD(又名原子層磊晶)。ALD方法使用兩種或多種不同氣相前體沉積固體材料薄層。薄膜即將沉積于其上的底材的表面暴露于一定劑量的前體的蒸氣。然后前體所有未反應的多余蒸氣用泵抽出。接下來,一定劑量的第二前體的蒸氣到達該表面并使之反應。這些步驟可重復進行以產生較厚的薄膜。該方法中一個尤其重要的方面是,ALD反應是自限的,因為在每個循環中僅僅形成某一最大厚度,隨后在此循環中即便是可得到過量的反應物,也沒有發生進一步的沉積。由于這種自限特性,ALD反應產生具有高度均勻厚度的涂層。ALD薄膜厚度的均勻性不僅沿著底材平面延伸,還延伸到細孔和槽中。ALD這種產生保形薄膜的能力被稱作“良好的階梯覆蓋(step?coverage)”。
P.Martensson和J.-O.Carlsson在Journal?of?the?Electro-chemical?Society,vol.145,2926-2931(1998)中已經由銅前體Cu(II)-2,2,6,6-四甲基-3,5-庚烷二酮化物證實了銅的ALD。不幸的是,在實質上自限的ALD方法的溫度范圍(<200℃)內,這種ALD方法中的銅僅僅生長在預存在的鉑表面,并且沒有成核或粘附在大部分其它表面。在銅ALD中已經建議了其它反應,然而沒有數據公開表明預期的表面反應實際上為自限的。因此,尤其有利地是進行銅能夠在除鉑之外的表面上成核或粘附的ALD方法。
美國專利No.6,294,836表明,在銅和底材之間使用鈷的“粘合”層能夠促進銅的粘附。然而根據美國專利No.6,444,263,用于沉積鈷的已知化學氣相沉積(CVD)法具有較差的階梯覆蓋,在具有長徑比5∶1的孔的底部僅僅產生20%的厚度。美國專利申請No.2002/0081381中已經要求保護了鈷ALD,用于雙(乙酰丙酮酸)鈷[Co(acac)2]與氫的反應,然而其中并沒有給出階梯覆蓋數據,并且膜生長僅僅發現在預存在的銥表面。美國專利申請No.2002/0081381還要求保護鈷的非選擇性生長,其通過鈷[Co(acac)2]與硅烷的反應進行,然而這種鈷可能被硅污染。因此對于具有高階梯覆蓋的純鈷,這將有利地進行沉積過程。
銅和鈷薄層過去經常用于形成磁性信息存儲中的抗磁讀寫磁頭。這種薄層需要具有非常均勻的厚度,并具有很少的缺陷和小孔。當存在制造這種器件的成功的工業化生產過程時,這將有利地進行銅和鈷的沉積過程,產生具有更均勻厚度和更少缺陷的薄層。
磁存儲器的先進設計與微電子電路(例如參見美國專利申請No.2002/0132375和美國專利No.6,211,090)相結合產生高度均勻和保形的金屬(特別是鐵、鈷、鎳、銅、釕、錳)層,并具有受控的厚度和明顯的界面。然而現在沒有已知方法使這些金屬在預定保形和受控厚度下沉積。
發明概述
本發明的一個方面包括一種使用揮發性脒基金屬化合物沉積含金屬,如銅、鈷、鎳、鐵、釕、錳、鉻、釩、鈮、鉭、鈦或鑭的薄膜的方法。該薄膜具有均勻、保形的厚度和光滑的表面。
該方法的優點是,其能夠形成具有非常均勻的厚度的含金屬的涂層。
本發明的一個相關方面是,在底材和沉積涂層之間產生良好粘附的條件下沉積含金屬涂層。
該方法的優點是,其能夠沉積具有非常光滑的表面的含金屬的涂層。
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C23C 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面擴散法,化學轉化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發法、濺射法、離子注入法或化學氣相沉積法的一般鍍覆
C23C16-00 通過氣態化合物分解且表面材料的反應產物不留存于鍍層中的化學鍍覆,例如化學氣相沉積
C23C16-01 .在臨時基體上,例如在隨后通過浸蝕除去的基體上
C23C16-02 .待鍍材料的預處理
C23C16-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金屬材料的沉積為特征的
C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無機材料為特征的





