[發(fā)明專(zhuān)利]一種晶體硅太陽(yáng)能電池p型硅表面的鈍化層及其制備方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110200539.8 | 申請(qǐng)日: | 2011-07-18 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102254960A | 公開(kāi)(公告)日: | 2011-11-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 萬(wàn)青;竺立強(qiáng);龔駿 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院寧波材料技術(shù)與工程研究所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L31/0216 | 分類(lèi)號(hào): | H01L31/0216;H01L31/18 |
| 代理公司: | 北京鴻元知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11327 | 代理人: | 陳英俊 |
| 地址: | 315201 浙江*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 晶體 太陽(yáng)能電池 表面 鈍化 及其 制備 方法 | ||
1.一種晶體硅太陽(yáng)能電池p型硅表面的鈍化層,包括p型硅片的背場(chǎng)鈍化層與n型硅片的p型前發(fā)射極表面鈍化層,其特征是:所述的鈍化層是AlN薄膜。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體硅太陽(yáng)能電池p型硅表面的鈍化層,其特征是:所述的鈍化層的厚度為20nm~60nm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體硅太陽(yáng)能電池p型硅表面鈍化層的制備方法,其特征是:包括如下步驟:
步驟1:按照晶體硅太陽(yáng)能電池的工藝在p型硅片或n型硅片擴(kuò)散制備PN結(jié);
步驟2:采用磁控濺射技術(shù),以Al作為靶材,NH3作為反應(yīng)氣源,Ar氣作為等離子體增強(qiáng)氣,在經(jīng)步驟1處理的晶體硅襯底的p型硅表面沉積AlN薄膜作為鈍化層;或者
采用等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積技術(shù),以三甲基鋁作為Al源,NH3作為氮化源,氮?dú)饣蛘邭鍤庾鳛锳l源的載氣,在步驟1得到的p型硅表面沉積AlN薄膜鈍化層;
步驟3:將步驟2處理后的p型硅片或n型硅片進(jìn)行熱處理,以激活鈍化層的鈍化效果。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的晶體硅太陽(yáng)能電池p型硅表面鈍化層的制備方法,其特征是:所述的步驟2中,沉積的AlN薄膜的厚度為20nm~60nm。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的晶體硅太陽(yáng)能電池p型硅表面鈍化層的制備方法,其特征是:所述的步驟3中,熱處理溫度為400℃~500℃,熱處理時(shí)間為10min~30min。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專(zhuān)門(mén)適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專(zhuān)門(mén)適用于通過(guò)這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專(zhuān)門(mén)適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過(guò)該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場(chǎng)致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





