[發明專利]接觸式粒度檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 201110199163.3
• 申請日: 2011-07-16
• 公開（公告）號: CN102297825A
• 公開（公告）日: 2011-12-28
• 發明（設計）人: 吳曉元;都業富
• 申請（專利權）人: 吳曉元
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 鞍山嘉訊科技專利事務所 21224
• 代理人: 張群

1.一種接觸式粒度檢測方法，其特征在于，在容器底部設有活動檢測柱，活動檢測柱上部設有位移傳感器，向活動檢測柱底部注入少量固液混合物樣品，活動檢測柱降下后會被樣品中的固體大顆粒硌住，位移傳感器檢測到活動檢測柱前后位置差即為樣品的最大顆粒粒度值，其具體步驟如下：

1)活動檢測柱抬起：清水閥打開，向容器內注入清水，儲液閥打開，儲液囊充水同時活動檢測柱抬起；

2)沖洗：關閉儲液閥，同時打開高位放液閥和低位放液閥，對活動檢測柱底部進樣空間進行沖洗，沖洗10-30秒鐘；

3)校準：關閉清水閥，打開儲液閥，活動檢測柱下方的水快速從高位放液閥和低位放液閥中流出，儲液囊中的水補入活動檢測柱上方殼體空間，活動檢測柱落至容器底部，位移傳感器檢測此時活動檢測柱的位置記為“0”；

4)活動檢測柱二次抬起：清水閥打開，儲液閥打開，同時活動檢測柱抬起；

5)進樣：關閉清水閥和儲液閥，打開樣品閥和高位放液閥，向活動檢測柱底部進樣空間注入樣品，注入量為5-15ml；

6)測量計算：打開儲液閥和和高位放液閥，儲液囊釋放清水，活動檢測柱在重力和儲液囊與高位放液閥之間壓力差作用下緩慢下沉，直到活動檢測柱位置不再變化，位移傳感器檢測活動檢測柱的位置即為樣品的最大顆粒粒度值；

7)重復上述步驟1)——步驟6)，可實現連續測量。

2.一種接觸式粒度檢測裝置，其特征在于，包括有殼體、活動檢測柱、固定檢測頭和儲液囊，在密閉的殼體底部設有進樣空間，活動檢測柱設在殼體下部，活動檢測柱與殼體側壁構成滑動副，活動檢測柱上部設有固定檢測頭，固定檢測頭內設有位移傳感器，殼體頂部出口依次與儲液閥和儲液囊相連，進樣空間一側設有樣品閥，進樣空間另一側設有高位放液閥和低位放液閥，樣品閥側還設有清水閥。

3.根據權利要求2所述的一種接觸式粒度檢測裝置，其特征在于，所述位移傳感器為渦流位移傳感器或激光位移傳感器。

4.根據權利要求2所述的一種接觸式粒度檢測裝置，其特征在于，高位放液閥和低位放液閥設置高度差為15mm-40mm。