[發明專利]觸摸屏面板上的位置檢測方法、觸摸屏面板及初始化方法

有效

• 申請號: 201110197703.4
• 申請日: 2011-07-15
• 公開（公告）號: CN102346616A
• 公開（公告）日: 2012-02-08
• 發明（設計）人: 藤田憲一;櫻井聰;長谷川洋;羽山正伸
• 申請（專利權）人: 富士通電子零件有限公司
• 主分類號: G06F3/045
• 分類號: G06F3/045
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 申發振

1.一種檢測觸摸屏面板上的位置的方法，所述觸摸屏面板包括第一電阻膜和第二電阻膜，所述第一電阻膜具有設置在其沿著第一方向的相應端處的第一電極和第二電極，所述第二電阻膜具有設置在其沿著與第一方向垂直的第二方向的相應端處的第三電極和第四電極，所述方法包含：

(a)通過將電源電壓施加于具有與第一電極連接的第二端的第一電阻器的第一端，并將第二電極接地，測量第一電極處的電位；

(b)通過將電源電壓施加于具有與第三電極連接的第二端的第二電阻器的第一端，并將第四電極接地，測量第三電極處的電位；

(c)通過將電源電壓施加于第一電極，并將第二電極接地，測量第三電極處的電位和第四電極處的電位；以及

(d)通過將電源電壓施加于第三電極，并將第四電極接地，測量第一電極處的電位和第二電極處的電位。

2.如權利要求1所述的方法，進一步包含：

(e)確定在所述測量(a)中測量的電位是否基本等于第一分壓值，所述第一分壓值是通過第一電阻器與第一電極和第二電極之間的電阻之間的分壓而獲得的；

(f)確定在所述測量(b)中測量的電位是否基本等于第二分壓值，所述第二分壓值是通過第二電阻器與第三電極和第四電極之間的電阻之間的分壓而獲得的；以及

(g)根據所述確定(e)的結果和所述確定(f)的結果確定觸摸屏面板上的接觸點的數量是一個還是兩個。

3.如權利要求2所述的方法，進一步包含：

響應于所述確定(g)確定觸摸屏面板上的接觸點的數量是兩個，

(h)根據在所述測量(a)中測量的電位與第一分壓值之間的差值，計算觸摸屏面板上的兩個接觸點在第一方向上的距離；以及

(i)根據在所述測量(b)中測量的電位與第二分壓值之間的差值，計算觸摸屏面板上的兩個接觸點在第二方向上的距離。

4.如權利要求3所述的方法，進一步包含：

在所述測量(a)和所述測量(b)之前，在觸摸屏面板上的接觸點的數量是零個或一個的情況下，

(j)通過將電源電壓施加于具有與第一電極連接的第二端的第一電阻器的第一端，并將第二電極接地，測量第一電極處的初始電位；

(k)通過將電源電壓施加于具有與第三電極連接的第二端的第二電阻器的第一端，并將第四電極接地，測量第三電極處的初始電位；以及

(l)如果在所述測量(a)中測量的電位低于在所述測量(j)中測量的初始電位，而在所述測量(b)中測量的電位基本等于在所述測量(k)中測量的初始電位，則確定兩個接觸點與第一方向基本平行，或如果在所述測量(a)中測量的電位基本等于在所述測量(j)中測量的初始電位，而在所述測量(b)中測量的電位低于在所述測量(k)中測量的初始電位，則確定兩個接觸點與第二方向基本平行。

5.如權利要求3所述的方法，進一步包含：

(j)如果在所述測量(b)中測量的電位高于在所述測量(a)中測量的電位，則確定兩個接觸點與第一方向基本平行，或如果在所述測量(b)中測量的電位低于在所述測量(a)中測量的電位，則確定兩個接觸點與第二方向基本平行。

6.如權利要求3所述的方法，進一步包含：

(j)如果在所述測量(c)中第三電極處的測量電位高于第四電極處的測量電位，則確定兩個接觸點中的第一個比所述兩個接觸點中的第二個更接近第一電極且更接近第三電極，或如果在所述測量(c)中第三電極處的測量電位低于第四電極處的測量電位，則確定兩個接觸點中的第一個比所述兩個接觸點中的第二個更接近第二電極且更接近第三電極。

7.如權利要求3所述的方法，進一步包含：

(j)如果在所述測量(c)中第三電極處的測量電位和第四電極處的測量電位基本相等，則確定兩個接觸點與第一方向和第二方向中的一個基本平行。

8.如權利要求3所述的方法，進一步包含：

(j)如果在所述測量(d)中第一電極處的測量電位高于第二電極處的測量電位，則確定兩個接觸點中的第一個比所述兩個接觸點中的第二個更接近第一電極且更接近第三電極，或如果在所述測量(d)中第一電極處的測量電位低于第二電極處的測量電位，則確定兩個接觸點中的第一個比所述兩個接觸點中的第二個更接近第二電極且更接近第三電極。