[發明專利]薄膜探針測試裝置無效
| 申請號： | 201110192141.4 | 申請日： | 2011-07-05 |
| 公開（公告）號： | CN102243384A | 公開（公告）日： | 2011-11-16 |
| 發明（設計）人： | 王健;胡瓊;矯遠君 | 申請（專利權）人： | 友達光電(蘇州)有限公司;友達光電股份有限公司 |
| 主分類號： | G02F1/13 | 分類號： | G02F1/13;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006 | 代理人： | 曾紅 |
| 地址： | 215021 江蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 薄膜 探針 測試 裝置 | ||
1.一種薄膜探針測試裝置，包含一薄膜探針卡，該薄膜探針卡包含一可撓性基材，其具有第一表面與第二表面，該第一表面上設置有多個導電條，該導電條上設置有一探針單元，其特征在于：
該探針單元包含多個探針凸塊，每一導電條上的探針凸塊等間距排列，該可撓性基材上具有一預定裁切線，從每一導電條的該相鄰的兩探針凸塊之間穿過。
2.如權利要求1所述的薄膜探針測試裝置，其特征在于，該導電條上的該探針凸塊平行排列。
3.如權利要求1所述的薄膜探針測試裝置，其特征在于，該導電條上的該探針凸塊交錯排列。
4.如權利要求1所述的薄膜探針測試裝置，其特征在于，該薄膜探針測試裝置更包含一測試基臺，該測試基臺包含一基臺本體與設置于該基臺本體上的一彈性凸條。
5.如權利要求4所述的薄膜探針測試裝置，其特征在于，該可撓性基材具有兩圓孔，該測試基臺具有多個螺絲孔，所述螺絲孔之間的間距與該探針凸塊之間的間距相同，該兩圓孔選擇性地鎖合于所述螺絲孔之其中二者。
6.如權利要求4所述的薄膜探針測試裝置，其特征在于，該可撓性基材具有多個長圓孔，該測試基臺上具有多個螺絲孔與多個定位柱，對應于該長圓孔配置。
7.如權利要求4所述的薄膜探針測試裝置，其特征在于，該基臺本體上具有一凹陷部。
8.一種薄膜探針測試裝置的使用方法，其特征在于，該方法包括：
固定一薄膜探針卡于一測試基臺上，該薄膜探針卡具有多排探針凸塊，其中一排的該探針凸塊對齊該測試基臺上的一彈性凸條。
9.如權利要求8所述的薄膜探針測試裝置的使用方法，其特征在于，該方法還包括：
沿一預定裁切線裁切該薄膜探針卡，以切除其中一排的該探針凸塊。
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