[發明專利]一種顯示偏振光光強的方法和系統

有效

• 申請號: 201110181042.6
• 申請日: 2011-06-30
• 公開（公告）號: CN102798463A
• 公開（公告）日: 2012-11-28
• 發明（設計）人: 劉若鵬;季春霖;岳玉濤;黃灃
• 申請（專利權）人: 深圳光啟高等理工研究院;深圳光啟創新技術有限公司
• 主分類號: G01J1/00
• 分類號: G01J1/00;G01N21/21
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及用于電磁波領域，具體涉及一種顯示偏振光光強的方法和系統。

背景技術

從所周知，在光的傳播過程中，只包含一種振動，其振動方向始終保持在同一平面內，這種光稱為線偏振光(或平面偏振光)，在日常生活中，照相機鏡頭，立體電影和消除車燈眩光等都應用了光的偏振原理，而實際上除了光源直接發出的光以外，我們通?？吹降拇蟛糠侄际瞧窆狻?/p>

現有技術對偏振光光強的檢測，需要通過構建精密的測量儀器組，包括起偏器、檢偏器、光屏、支撐臺、支柱、檢測臺、步進電機、計算機等，來檢測波片對光的偏振作用光強效果。在整套設備中，可通過改變起偏器透光軸與主光軸夾角，檢偏器透光軸與主光軸夾角以及波片長軸與主光軸夾角，來測定不同厚度波片的光偏振光強效果。

整個調整測試過程不僅需要大量的時間，搭建整個測試平臺需要大量成本投入，因此需要建立一種性價比更高的波片效果檢測系統。

發明內容

本發明要解決的技術問題在于，提供更簡單、更小型化的計算機仿真偏振光光強的方法和系統。

本發明解決其技術問題所采用的第一個技術方案是：提供一種偏振光光強的方法，包括：

S1.將自然光變成線偏振光；

S2.判斷線偏振光的振動方向與預設的偏振化方向一致；若一致，則進入步驟S3，若不一致，則回到步驟S1；

S3.將所述的線偏振光分解成X軸和Y軸兩個分量；并測量所述的線偏振光與X軸分量之間的夾角θ；

S4.采集所述分量光強的信息；

S5.處理所述分量光強的信息并加以顯示。

在本發明所述的偏振光光強的方法中，所述的夾角的取值范圍為：-90°≤θ≤90°。

本發明解決其技術問題所采用的第二個技術方案是：提供一種偏振光光強的系統，包括：

起偏單元：用于將自然光變成線偏振光；

判斷單元：與所述的起偏單元相連，用于判斷線偏振光的振動方向與預設的偏振化方向一致；

分解單元：與所述的判斷單元相連，用于.將所述的線偏振光分解成X軸和Y軸兩個分量；并測量所述的線偏振光與X軸分量之間的夾角；

采集單元：與所述的分解單元相連，用于采集所述分量光強的信息；

顯示單元：與所述的采集單元相連，用于處理所述分量光強的信息并加以顯示。

在本發明所述的顯示偏振光光強的系統中，所述顯示單元包括起偏單元設置模塊，用于輸入所述的起偏單元與X軸之間的夾角。

在本發明所述的顯示偏振光光強的系統中，所述顯示單元包括判斷單元設置模塊，用于輸入所述的判斷單元與X軸之間的夾角。

在本發明所述的顯示偏振光光強的系統中，所述顯示單元包括分解單元設置模塊，用于輸入所述的分解單元與X軸之間的夾角。

在本發明所述的顯示偏振光光強的系統中，所述顯示單元包括相位差設置模塊，用于輸入X軸與Y軸之間的相位差。

在本發明所述的顯示偏振光光強的系統中，所述的夾角的取值范圍為：-90°≤θ≤90°。

在本發明所述的顯示偏振光光強的系統中，所述顯示單元包括第一輸出單元模塊，用于動態顯示改變起偏單元與X軸的夾角對光強的影響。

在本發明所述的顯示偏振光光強的系統中，所述顯示單元包括第二輸出單元模塊，用于動態顯示改變判斷單元與X軸的夾角對光強的影響。

在本發明所述的顯示偏振光光強的系統中，所述顯示單元包括第三輸出單元模塊，用于動態顯示改變分解單元與X軸的夾角對光強的影響。

在本發明所述的顯示偏振光光強的系統中，所述顯示單元包括第四輸出單元模塊，用于動態顯示改變X軸與Y軸之間的相位差對光強的影響。

根據本發明的偏振光光強的方法和系統，利用計算機仿真系統來顯示光強模塊，從而讓傳統的顯示偏振光光強的系統更簡單、更小型化。

附圖說明

圖1為本發明顯示偏振光光強的方法流程圖；

圖2為本發明光波于X軸及Y軸投影分解圖；

圖3為本發明顯示偏振光光強系統結構方框圖。

具體實施方式

為詳細說明本發明的技術內容、構造特征、所實現目的及效果，以下結合實施方式并配合附圖詳予說明。

請參閱圖1，本發明實施例一，一種顯示偏振光光強的方法，包括：

S1.將自然光變成線偏振光；