[發明專利]玻璃基板的厚度測定和二維碼檢測系統及其方法

無效

• 申請號: 201110180119.8
• 申請日: 2011-06-24
• 公開（公告）號: CN102384722A
• 公開（公告）日: 2012-03-21
• 發明（設計）人: 金泰鎮;金炫碩;李相周;黃龍云
• 申請（專利權）人: 株式會社拓愛思;諾發光電股份有限公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06;G01B11/24
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 韓明星;金光軍

1.一種玻璃基板的厚度測定和2D碼檢測系統，其特征在于包括：

裝載及卸載玻璃基板(20)的裝載及卸載部(100)；

清洗所述玻璃基板(20)的清洗部(200)；

檢測所述玻璃基板(20)的2D碼并測量厚度的測定部(300)；

根據設置于中央的旋轉軸(30)而旋轉的三個安置臺(40)；以用于順序向所述裝載及卸載部(100)和所述清洗部(200)以及所述測定部(300)同時移送所述玻璃基板(20)；以及

測定終端機(400)，自動控制所述裝載及卸載部(100)、所述清洗部(200)、所述測定部(300)以及所述安置臺(40)的動作，并對所述測定部300的圖像傳感器(321)所拍攝的圖像和2D碼進行圖像處理，以計算所述玻璃基板(20)的厚度和檢測所述2D碼。

2.根據權利要求1所述的玻璃基板的厚度測定和2D碼檢測系統，其特征在于，所述測定部(300)包括：

具有激光振蕩器(322)和圖像傳感器(321)的上部測定儀(320)，所述激光振蕩器(322)朝所述玻璃基板(20)的上表面(G1)照射入射光(L1)，所述圖像傳感器(321)將從所述玻璃基板(20)的上表面(G1)反射的反射光(L2)或者激光束在所述玻璃基板(20)的上表面(G1)反射的點(S1、S2)拍攝為圖像；

具有激光振蕩器(332)和圖像傳感器(331)的下部測定儀(330)，所述激光振蕩器(332)朝所述玻璃基板(20)的下表面(G2)照射入射光(L1)，所述圖像傳感器(331)將從所述玻璃基板(20)的下表面(G2)反射的反射光(L2)或者激光束在所述玻璃基板(20)的下表面(G2)反射的點(S1、S2)拍攝為圖像；以及

具有2D碼圖像傳感器(342)和照明裝置(341)的2D碼檢測器(340)，所述2D碼圖像傳感器(342)用于拍攝所述玻璃基板(20)的2D碼，所述照明裝置(341)用于在所述2D碼圖像傳感器(342)工作時朝所述玻璃基板(20)的2D碼部位提供照明。

3.根據權利要求2所述的玻璃基板的厚度測定和2D碼檢測系統，其特征在于，當所述激光振蕩器(322、332)的激光為擴散激光時，在上部及下部測定儀(320、330)的內部還具備將所述擴散激光轉換為準直激光或點狀激光的透過透鏡(323、333)。

4.根據權利要求1所述的玻璃基板的厚度測定和2D碼檢測系統，其特征在于，所述測定終端機(400)包括：

輸入部(410)，該輸入部(410)具有用于輸入所述厚度測定和2D碼檢測系統的動作命令的鍵盤(411)和鼠標(412)以及通過調節所述測定部(300)的X軸和Y軸來搜尋所述2D碼的操縱桿(413)；

具有監視器(431)和通信端口(432)的輸出部(430)，所述監視器(431)在畫面上輸出所述玻璃基板(20)的厚度測定和2D碼檢測程序畫面和所述圖像傳感器(321)所拍攝的圖像和2D碼，所述通信端口(432)用于通過通信網收發所述測定終端機(400)所測定的數據信息；以及

控制部(420)，該控制部(420)儲存并驅動所述厚度測定和2D碼檢測程序，并根據通過所述輸入部(410)所輸入的命令而自動控制所述裝載及卸載部(1()0)、所述清洗部(200)、所述測定部(300)以及所述安置臺(40)的動作，且圖像處理由所述圖像傳感器(321)所拍攝的圖像和2D碼，以計算所述玻璃基板(20)的厚度和檢測所述2D碼。