[發明專利]基于約束最大化的圖像重建有效
| 申請號: | 201110173472.3 | 申請日: | 2011-06-10 |
| 公開(公告)號: | CN102364334A | 公開(公告)日: | 2012-02-29 |
| 發明(設計)人: | R·V·V·L·蘭戈于;M·K·K·米塔爾;D·米什拉;S·馬哈林加姆 | 申請(專利權)人: | 通用電氣公司 |
| 主分類號: | G01N27/04 | 分類號: | G01N27/04;A61B5/053 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 柯廣華;朱海煜 |
| 地址: | 美國*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 約束 最大化 圖像 重建 | ||
1.一種提供包含多個區域的結構(46)的內部的圖像的方法, 所述多個區域具有影響電信號通過所述結構的傳輸的不同電導率或 導納率,所述方法包括:
提供沿通過所述結構(46)的平面的一系列電極(44),其中所 述電極(44)沿所述結構(46)的外部表面安置;
提供一系列電信號集以用于輸入到所述電極(44),每個信號集 包括用于輸入到所述電極(44)中的每個的電信號模式;
順序施加所述電信號集(Vi)中的每個于所述電極(44),每個 信號集的施加產生所述結構(46)內的旋轉電場;
響應于每個信號集的施加,從所述電極(44)獲得電信號的測量 集;
用所述電信號的測量集計算代表安置所述電極(44)所圍繞的所 述結構(46)的區域中的所述結構(46)內部的電導率或導納率分布; 以及
確定代表包括兩個或更多具有不同電導率或導納率的區域的所 述結構(46)內部的圖像數據,其中計算所述電導率或導納率分布的 過程包括:限定基于所述電導率分布的能量函數和正向模型,所述正 向模型將所述電信號的測量集表達為關于電導率的電壓值中的變化 的函數,以及要求所述能量函數和基于所述正向模型的函數之間的差 別的偏導數等于零。
2.如權利要求1所述的方法,其中所述施加的電信號集(Vi)的 序列每個包括電壓輸入模式并且所述測量的電信號集每個包括測量 的電流水平。
3.如權利要求1所述的方法,其中所述施加的電信號集(Vi)的 序列包括電壓輸入模式并且所述測量的電信號集包括測量的電流水 平。
4.如權利要求1所述的方法,其中所述結構(46)是具有不同 電導率的物質流過的導管。
5.如權利要求1所述的方法,其中所述結構(46)是具有不同 相的物質流過的導管。
6.如權利要求4所述的方法,其中所述物質包括油(86)和烴 類氣體(88)。
7.如權利要求4所述的方法,其中圖像信息用于確定流過所述 導管(46)的液體和氣體物質的相對比例。
8.如權利要求1所述的方法,其中所述施加的信號集包括λ個 電壓激發模式集,每個模式施加于L個電極(44)中的一個,其中L =1-k,并且所述電壓模式根據以下來產生
其中Vkλ是在第λ激發模式集中施加于第k電極(44)的時間變化電壓 正弦波(82),是參考正弦波的峰值電壓,t是時間并且ω是正弦 波的頻率。
9.如權利要求8所述的方法,其中所述電信號的測量集包括用 于確定所述電導率分布的測量數據的至少λL個元素。
10.如權利要求1所述的方法,其中:
計算所述電導率或導納率分布的所述過程包括限定所述能量函 數為對于電導率或導納率值σj的集的
其中j=1至N,其中N等于用于限定所述電導率或導納率分布的值σj的總數;
將所述電信號的測量集表達為關于電導率或導納率的電壓值中 的變化的函數的所述正向模型表達為
其中Ui是包括所述電極(44)處測量的所述電信號集中的數據元素的 總數M的矢量,其中i=1,2,3,...M;以及
評估函數F(σj),其中
其中
使得所述能量函數和基于所述正向模型的函數之間的差別的偏導數 等于零,由此確定代表所述結構的內部的一部分的電導率或導納率分 布。
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