[發(fā)明專(zhuān)利]服務(wù)器的內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)及方法

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110173062.9
• 申請(qǐng)日: 2011-06-24
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102841831A
• 公開(kāi)（公告）日: 2012-12-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 譚杰君;林玉龍;董華
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06F11/22
• 分類(lèi)號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及服務(wù)器的測(cè)試，尤其涉及一種服務(wù)器的內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)

在基于服務(wù)器的存儲(chǔ)系統(tǒng)中，內(nèi)存起著舉足輕重的作用，其性能的優(yōu)劣直接反映到存儲(chǔ)系統(tǒng)的數(shù)據(jù)處理能力以及穩(wěn)定性。內(nèi)存在處理數(shù)據(jù)是若出現(xiàn)數(shù)據(jù)位的錯(cuò)誤可能會(huì)導(dǎo)致整個(gè)存儲(chǔ)系統(tǒng)的重啟甚至崩潰。因此，現(xiàn)在的服務(wù)器大多使用具有錯(cuò)誤檢查和糾正（Error?Checking?and?Correcting，ECC）功能的內(nèi)存。目前，在對(duì)服務(wù)器的內(nèi)存進(jìn)行測(cè)試時(shí)，都是基于內(nèi)存的標(biāo)準(zhǔn)工作電壓進(jìn)行測(cè)試。在服務(wù)器的實(shí)際運(yùn)行環(huán)境中，經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)電路板中的電子元器件發(fā)生短路的情形。一旦某個(gè)元件出現(xiàn)了短路，會(huì)導(dǎo)致內(nèi)存工作電壓的波動(dòng)，這種電壓波動(dòng)往往會(huì)對(duì)內(nèi)存的性能以及穩(wěn)定產(chǎn)生非常大的影響。因此，上述服務(wù)器的內(nèi)存測(cè)試方法不能對(duì)內(nèi)存在正常運(yùn)行環(huán)境下進(jìn)行數(shù)據(jù)處理的穩(wěn)定性作出有效的判斷。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種服務(wù)器的內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：電壓調(diào)整模塊，用于將該內(nèi)存的SSTL電壓在該內(nèi)存標(biāo)準(zhǔn)工作電壓V的基礎(chǔ)上拉高一預(yù)定值△V，使該SSTL電壓的值為V+△V，以及將該SSTL電壓在所述標(biāo)準(zhǔn)工作電壓V的基礎(chǔ)上拉低所述預(yù)定值△V，使該SSTL電壓的值為V-△V；數(shù)據(jù)讀寫(xiě)模塊，用于向內(nèi)存中寫(xiě)入一段預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)，然后再?gòu)脑搩?nèi)存中讀出該寫(xiě)入的數(shù)據(jù)，以對(duì)該內(nèi)存進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫(xiě)操作；及檢測(cè)分析模塊，用于讀取內(nèi)存的ECC寄存器中的計(jì)數(shù)值，并根據(jù)該計(jì)數(shù)值判斷內(nèi)存進(jìn)行數(shù)據(jù)處理的穩(wěn)定性是否良好。

還有必要提供一種服務(wù)器的內(nèi)存測(cè)試方法，該方法包括：第一電壓調(diào)整步驟，將該內(nèi)存的SSTL電壓在該內(nèi)存標(biāo)準(zhǔn)工作電壓V的基礎(chǔ)上拉高一預(yù)定值△V，使該SSTL電壓的值為V+△V；第一數(shù)據(jù)讀寫(xiě)步驟，向內(nèi)存中寫(xiě)入一段預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)，然后再?gòu)脑搩?nèi)存中讀出該寫(xiě)入的數(shù)據(jù)，以對(duì)該內(nèi)存進(jìn)行一次數(shù)據(jù)讀寫(xiě)操作；第二電壓調(diào)整步驟，將所述內(nèi)存的SSTL電壓在所述標(biāo)準(zhǔn)工作電壓V的基礎(chǔ)上拉低所述預(yù)定值△V，使該SSTL電壓的值為V-△V；第二數(shù)據(jù)讀寫(xiě)步驟，向內(nèi)存中寫(xiě)入所述預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)，然后再?gòu)脑搩?nèi)存中讀出該寫(xiě)入的數(shù)據(jù)，以對(duì)該內(nèi)存再進(jìn)行一次數(shù)據(jù)讀寫(xiě)操作；及檢測(cè)分析步驟，讀取內(nèi)存的ECC寄存器中的計(jì)數(shù)值，并根據(jù)該計(jì)數(shù)值判斷內(nèi)存進(jìn)行數(shù)據(jù)處理的穩(wěn)定性是否良好。

相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述服務(wù)器的內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)及方法，通過(guò)模擬服務(wù)器內(nèi)存在正常運(yùn)行環(huán)境下可能出現(xiàn)的電壓波動(dòng)，從而提前發(fā)現(xiàn)內(nèi)存可能出現(xiàn)的數(shù)據(jù)處理錯(cuò)誤，以對(duì)內(nèi)存在正常運(yùn)行環(huán)境下進(jìn)行數(shù)據(jù)處理的穩(wěn)定性作出有效的判斷。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明服務(wù)器的內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)較佳實(shí)施例的運(yùn)行環(huán)境架構(gòu)圖。

圖2是本發(fā)明服務(wù)器的內(nèi)存測(cè)試方法較佳實(shí)施例的流程圖。

主要元件符號(hào)說(shuō)明

服務(wù)器1內(nèi)存11存儲(chǔ)器12處理器13內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)10電壓調(diào)整模塊101數(shù)據(jù)讀寫(xiě)模塊102檢測(cè)分析模塊103

如下具體實(shí)施方式將結(jié)合上述附圖進(jìn)一步說(shuō)明本發(fā)明。

具體實(shí)施方式