[發明專利]半導體集成電路

有效

• 申請號: 201110170475.1
• 申請日: 2011-06-23
• 公開（公告）號: CN102299139A
• 公開（公告）日: 2011-12-28
• 發明（設計）人: 金田義宣;石田亙司
• 申請（專利權）人: 安森美半導體貿易公司
• 主分類號: H01L23/544
• 分類號: H01L23/544;G01R31/28
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 樊建中

1.一種半導體集成電路，具有：

半導體基板；

電路區域，其形成在所述半導體基板的表面中；

焊盤電極，其形成在所述半導體基板的表面上，且與所述電路區域的電路連接；

再布線，其形成在所述半導體基板的表面上，且與所述焊盤電極連接；

樹脂層，其形成在所述半導體基板的表面上，且形成為覆蓋所述再布線；

突起電極，其通過所述樹脂層的開口部而與所述再布線連接；

外周布線，其具有第一端和第二端，并沿所述電路區域之外的所述半導體基板的外周被配置，且所述第一端被施加第一電位；

電阻，其被連接于所述外周布線的第二端與第二電位之間，和

檢測電路，其根據所述外周布線與所述電阻的連接點的電位，產生異常檢測信號。

2.根據權利要求1所述的半導體集成電路，其特征在于，

還具有：

輸出晶體管，其輸出來自所述電路區域的電路的數據信號；和

輸出控制電路，其根據由所述檢測電路產生的所述異常檢測信號，使所述輸出晶體管的數據信號不能輸出。

3.根據權利要求1所述的半導體集成電路，其特征在于，

還具有：

工作停止信號產生電路，其根據由所述檢測電路產生的所述異常檢測信號，產生使所述電路區域的電路的工作停止的工作停止信號。

4.根據權利要求3所述的半導體集成電路，其特征在于，

還具有：

控制電路，其控制所述工作停止信號產生電路，以使不產生所述工作停止信號。

5.根據權利要求1～4中任一項所述的半導體集成電路，其特征在于，

所述檢測電路具有反相器，該反相器的輸入端連接于所述連接點。

6.根據權利要求1～4中任一項所述的半導體集成電路，其特征在于，

所述檢測電路具有比較器，該比較器具有第一以及第二輸入端，所述第一輸入端連接于所述連接點，所述第二輸入端被施加基準電位。

7.根據權利要求1～6中任一項所述的半導體集成電路，其特征在于，

所述外周布線是形成在所述半導體基板的表面上的金屬布線、多晶硅布線、或由形成于所述半導體基板的表面中的擴散層構成的布線之中的任一種布線。