[發(fā)明專利]處理裝置及成膜方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110168440.4 | 申請日: | 2011-06-17 |
| 公開(公告)號: | CN102286731A | 公開(公告)日: | 2011-12-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 和村有;兩角友一朗;佐藤泉;淺利伸二 | 申請(專利權(quán))人: | 東京毅力科創(chuàng)株式會社 |
| 主分類號: | C23C16/455 | 分類號: | C23C16/455 |
| 代理公司: | 北京林達(dá)劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇;張會華 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 處理 裝置 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種對半導(dǎo)體晶圓等被處理體實(shí)施成膜處理的處理裝置及成膜方法。
背景技術(shù)
為了制造半導(dǎo)體集成電路,通常是對由硅基板等構(gòu)成的半導(dǎo)體晶圓進(jìn)行成膜處理、蝕刻處理、氧化處理、擴(kuò)散處理、改性處理、自然氧化膜的去除處理等各種處理。這些處理是使用逐張?zhí)幚砭A的單片式的處理裝置、一次處理多張晶圓的分批式的處理裝置來進(jìn)行。例如,當(dāng)利用日本特開平6-275608號公報(bào)等公開的立式的、所謂分比式的處理裝置來進(jìn)行這些處理時(shí),首先將半導(dǎo)體晶圓自能夠容納多張、例如25張左右半導(dǎo)體晶圓的盒中移載到立式的晶圓舟皿中,并呈多層地將晶圓支承在該晶圓舟皿中。
該晶圓舟皿例如取決于晶圓的規(guī)格,能夠載置25~150張左右的晶圓。在將上述晶圓舟皿自能排氣的處理容器的下方搬入(加載)到該處理容器內(nèi)之后,維持處理容器內(nèi)為氣密的狀態(tài)。然后,一邊控制處理氣體的流量、工藝壓力、工藝溫度等各種工藝條件,一邊實(shí)施預(yù)定的熱處理。在該熱處理中,例如以成膜處理為例,作為成膜處理的方法公知有CVD(Chemical?Vapor?Deposition)法(日本特開2004-006551號公報(bào))、ALD(Atomic?Layer?Deposition)法。
而且,以提高電路元件的特性為目的,希望降低半導(dǎo)體集成電路的制造工序中的熱過程,因此,即使不將晶圓暴露在那么高的溫度下,也能夠進(jìn)行目標(biāo)處理,因此,傾向于使用一邊間斷地供給原料氣體等一邊以原子級每1層~幾層地或者以分子級每1層~幾層地反復(fù)成膜的ALD法(日本特開平6-45256號公報(bào)及日本特開平11-87341號公報(bào))。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供這樣一種處理裝置及成膜方法:通過實(shí)現(xiàn)排氣能力的提高,即使在供給大流量的氣體時(shí)也能夠迅速并且高效率地將處理容器內(nèi)的壓力維持為減壓氣氛。
本發(fā)明的一技術(shù)方案的處理裝置,用于對多張被處理體實(shí)施規(guī)定的處理,該處理裝置包括:處理容器構(gòu)造,其在下端設(shè)置有開口部,該處理容器構(gòu)造具有處理容器,該處理容器在內(nèi)部具有用于容納上述被處理體的處理空間,在上述處理空間的一側(cè)設(shè)置有噴嘴容納區(qū)域,在與上述噴嘴容納區(qū)域相反的一側(cè)設(shè)置有狹縫狀的排氣口;蓋部,其用于堵塞上述處理容器構(gòu)造的下端的上述開口部;支承體構(gòu)造,其用于支承上述多張被處理體,并且能夠插入到上述處理容器構(gòu)造內(nèi)或從上述處理容器構(gòu)造內(nèi)拔出;氣體導(dǎo)入部件,其具有被容納于上述噴嘴容納區(qū)域內(nèi)的氣體噴嘴;排氣部件,其具有用于排出上述處理容器構(gòu)造內(nèi)的氣氛氣體的多個(gè)排氣系統(tǒng);加熱部件,其用于加熱上述被處理體;控制部件,其用于控制上述氣體導(dǎo)入部件、上述排氣部件及上述加熱部件。
如此,由于為了排出處理容器內(nèi)的氣氛氣體而設(shè)置了具有多個(gè)排氣系統(tǒng)的排氣部件,因此能夠?qū)崿F(xiàn)排氣能力的提高,即使在供給大流量的氣體時(shí)也能夠迅速并且高效率地將處理容器內(nèi)的壓力維持為減壓氣氛。
本發(fā)明的一實(shí)施方式的成膜方法,使用處理裝置在多個(gè)被處理體的表面形成薄膜,上述處理裝置包括:處理容器構(gòu)造,其在下端設(shè)置有開口部,該處理容器構(gòu)造具有處理容器,該處理容器在內(nèi)部具有用于容納上述被處理體的處理空間,在上述處理空間的一側(cè)設(shè)置有噴嘴容納區(qū)域,在與上述噴嘴容納區(qū)域相反的一側(cè)設(shè)置有狹縫狀的排氣口;蓋部,其用于堵塞上述處理容器構(gòu)造的下端的上述開口部;支承體構(gòu)造,其用于支承上述多張被處理體,并且能夠插入到上述處理容器構(gòu)造內(nèi)或從上述處理容器構(gòu)造內(nèi)拔出;氣體導(dǎo)入部件,其具有被容納于上述噴嘴容納區(qū)域內(nèi)的氣體噴嘴;排氣部件,其具有用于排出上述處理容器構(gòu)造內(nèi)的氣氛氣體的多個(gè)排氣系統(tǒng);加熱部件,其用于加熱上述被處理體;控制部件,其用于控制上述氣體導(dǎo)入部件、上述排氣部件及上述加熱部件;上述成膜方法包括下述工序:交替地反復(fù)進(jìn)行多次向上述處理容器構(gòu)造內(nèi)供給原料氣體的第1工序和供給與上述原料氣體發(fā)生反應(yīng)的反應(yīng)氣體的第2工序,且在上述第1工序和上述第2工序之間進(jìn)行向上述處理容器構(gòu)造內(nèi)供給吹掃氣體而排出殘留氣體的吹掃工序;在進(jìn)行上述第1工序或上述第2工序時(shí),使用上述多個(gè)排氣系統(tǒng)中的至少一個(gè)排氣系統(tǒng)排出上述處理容器構(gòu)造內(nèi)的氣氛氣體,在進(jìn)行上述吹掃工序時(shí),使用上述多個(gè)排氣系統(tǒng)中的其它的至少一個(gè)排氣系統(tǒng)排出上述處理容器構(gòu)造內(nèi)的氣氛氣體。
采用這種處理裝置及成膜方法,由于為了排出處理容器內(nèi)的氣氛氣體而設(shè)置了具有多個(gè)排氣系統(tǒng)的排氣部件,因此能夠?qū)崿F(xiàn)排氣能力的提高,即使在供給大流量的氣體時(shí)也能夠迅速并且高效率地將處理容器內(nèi)的壓力維持為減壓氣氛。
附圖說明
圖1是表示本發(fā)明的第1實(shí)施方式的處理裝置的剖視結(jié)構(gòu)圖;
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C23C 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C16-00 通過氣態(tài)化合物分解且表面材料的反應(yīng)產(chǎn)物不留存于鍍層中的化學(xué)鍍覆,例如化學(xué)氣相沉積
C23C16-01 .在臨時(shí)基體上,例如在隨后通過浸蝕除去的基體上
C23C16-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C16-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金屬材料的沉積為特征的
C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無機(jī)材料為特征的





