[發明專利]SOCs測試封裝掃描信號輸入單元和掃描結果輸出單元

有效

• 申請號: 201110167193.6
• 申請日: 2011-06-21
• 公開（公告）號: CN102279296A
• 公開（公告）日: 2011-12-14
• 發明（設計）人: 鄧立寶;俞洋;喬立巖;向剛;彭喜元
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G01R1/30
• 分類號: G01R1/30
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 牟永林

1.SOCs測試封裝掃描信號輸入單元，它包括一號多路選擇器(m0)、二號多路選擇器(m1)、三號多路選擇器(m2)、一號觸發器(FF1)和二號觸發器(FF2)，其特征是它還包括CMOS傳輸門(TG)，功能輸入端口(CFI)的輸出端分別連接在一號多路選擇器(m0)的一個輸入端和三號多路選擇器(m2)的一個輸入端，子核測試數據輸入端口(CTI)的輸出端連接在二號多路選擇器(m1)的一個輸入端，母核測試數據輸入端口(PTI)的輸出端連接在一號多路選擇器(m0)的另一個輸入端，一號多路選擇器(m0)的輸出端連接在一號觸發器(FF1)的輸入端，一號觸發器(FF1)的輸出端連接在母核測試數據輸出端口(PTO)的輸入端，二號多路選擇器(m1)的輸出端連接在二號觸發器(FF2)的輸入端，二號觸發器(FF2)的輸出端連接在CMOS傳輸門(TG)的輸入端和子核測試數據輸出端口(CTO)的輸入端，CMOS傳輸門(TG)的輸出端連接在三號多路選擇器(m2)的另一個輸入端，三號多路選擇器(m2)的輸出端連接在二號多路選擇器(m1)的另一個輸入端和功能輸出端口(CFO)的輸入端。

2.根據權利要求1所述SOCs測試封裝掃描信號輸入單元，其特征在于CMOS傳輸門(TG)包括NMOS管(TG-1)和PMOS管(TG-2)，NMOS管(TG-1)的源極和PMOS管(TG-2)的源極相連作為輸入端(IN)，NMOS管(TG-1)的漏極和PMOS管(TG-2)的漏極相連作為輸出端(OUT)，NMOS管(TG-1)的柵極連接在控制電壓(GC)端，PMOS管(TG-2)的柵極連接在控制電壓(/GC)端，NMOS管(TG-1)的襯底連接在電源端(VDD)，PMOS管(TG-2)的襯底連接在地端(GND)。

3.SOCs測試封裝掃描結果輸出單元，它包括四號多路選擇器(m3)、五號多路選擇器(m4)、六號多路選擇器(m5)、七號多路選擇器(m6)、三號觸發器(FF3)和四號觸發器(FF4)，其特征是它還包括CMOS傳輸門(TG)，功能輸入端口(CFI)的輸出端分別連接在四號多路選擇器(m3)的一個輸入端、五號多路選擇器(m4)的一個輸入端和六號多路選擇器(m5)的一個輸入端，子核測試數據輸入端口(CFI)的輸出端連接在五號多路選擇器(m4)的另一個輸入端，五號多路選擇器(m4)的輸出端連接在四號觸發器(FF4)的輸入端，四號觸發器(FF4)的輸出端連接在子核測試數據輸出端口(CTO)的輸入端，母核測試數據輸入端口(PTI)的輸出端連接在四號多路選擇器(m3)的另一個輸入端，四號多路選擇器(m3)的輸出端連接在七號多路選擇器(m6)的一個輸入端，七號多路選擇器(m6)的輸出端連接在三號觸發器(FF3)的輸入端，三號觸發器(FF3)的輸出端分別連接在CMOS傳輸門(TG)的輸入端和母核測試數據輸出端口(PTO)的輸入端，CMOS傳輸門(TG)的輸出端連接在六號多路選擇器(m5)的另一個輸入端，六號多路選擇器(m5)的輸出端分別連接在七號多路選擇器(m6)的另一個輸入端和功能輸出端口(CFO)的輸入端。

4.根據權利要求3所述SOCs測試封裝掃描結果輸出單元，其特征在于CMOS傳輸門(TG)包括NMOS管(TG-1)和PMOS管(TG-2)，NMOS管(TG-1)的源極和PMOS管(TG-2)的源極相連作為輸入端(IN)，NMOS管(TG-1)的漏極和PMOS管(TG-2)的漏極相連作為輸出端(OUT)，NMOS管(TG-1)的柵極連接在控制電壓(GC)端，PMOS管(TG-2)的柵極連接在控制電壓(/GC)端，NMOS管(TG-1)的襯底連接在電源端(VDD)，PMOS管(TG-2)的襯底連接在地端(GND)。