[發明專利]一種垂直結構發光二極管及其薄膜與襯底剝離的方法無效
| 申請號: | 201110165057.3 | 申請日: | 2011-06-20 |
| 公開(公告)號: | CN102214749A | 公開(公告)日: | 2011-10-12 |
| 發明(設計)人: | 云峰 | 申請(專利權)人: | 云峰 |
| 主分類號: | H01L33/00 | 分類號: | H01L33/00;H01L33/12;H01L33/06 |
| 代理公司: | 西安新思維專利商標事務所有限公司 61114 | 代理人: | 李罡 |
| 地址: | 710049 陜西省*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 垂直 結構 發光二極管 及其 薄膜 襯底 剝離 方法 | ||
1.一種垂直結構發光二極管的薄膜與襯底剝離的方法,其特征在于:該方法利用化學濕法進行剝離,至少包括以下步驟:
1)在外延生長襯底(11)上預先掩埋生長氧化鋅緩沖層(12),再在外延生長襯底(11)上制備LED外延片,然后通過干法刻蝕工藝對外延片進行臺面刻蝕,對外延片進行選擇性圖形刻蝕,完成LED芯片按照設計的尺寸和間隔進行的芯片級分離,刻蝕深度至少透過外延層薄膜;
2)在外延片表面的P-面按照芯片設計的圖形制作反光鏡、歐姆電極層、金屬鍵合粘附層和縱橫交錯的無反光鏡、無歐姆電極和無金屬鍵合粘附層的空白區域;
3)將外延片通過金屬鍵合工藝反轉到另外一種導熱基板(203)上;
4)將鍵合好的外延片在化學腐蝕槽中進行液體化學腐蝕,液體化學試劑通過芯片間的空隙及預留的空白區域,對ZnO緩沖層進行腐蝕,待ZnO緩沖層完全被腐蝕掉時,外延生長襯底和LED薄膜分開,LED薄膜留在反轉基板上,而外延生長襯底自動脫落,形成可制作垂直結構LED器件的結構,此時N-型半導體暴露在表面;
5)通過制作N-型電極、N-型表面織構化、表面刻蝕,完成垂直結構LED的制作。
2.根據權利要求1所述的一種垂直結構發光二極管的薄膜與襯底剝離的方法,其特征在于:所述ZnO緩沖層(12)的生長工藝包括但不限于金屬有機化學氣相外延,分子束外延、原子層外延、脈沖激光濺射;ZnO緩沖層(12)與后續的LED薄膜在同一臺生長設備中完成或者預先在襯底上淀積備用;ZnO的厚度在0.1微米到100微米之間。
3.根據權利要求1或2所述的一種垂直結構發光二極管的薄膜與襯底剝離的方法,其特征在于:所述導熱基板是預先成型的并蒸鍍好鍵合金屬層的基板,包括但不限于Si、AlSi、Cu、CuMo、CuW,或者是采用涂覆不定型或流質的導熱材料再熱定型的導熱基板。
4.根據權利要求3所述的一種垂直結構發光二極管的薄膜與襯底剝離的方法,其特征在于:所述化學試劑,包括但不限于鹽酸稀釋液,在室溫或高于室溫低于100C的溫度下,在超聲波振動的輔助下,化學試劑從LED芯片溝槽側向流入外延片。
5.一種垂直結構發光二極管,其特征在于:包括
一外延生長襯底(11),
一ZnO緩沖層(12),位于該外延生長襯底(11)上,
一GaN緩沖層(13),位于該ZnO緩沖層(12)上,
一N型GaN層(14),位于GaN緩沖層(13)上,
一周期性多層發光區-量子阱(15),位于該N型GaN層(14)上,
一電子阻擋層(16),位于該周期性多層發光區-量子阱(15)上,
一P型GaN層(17),位于該電子阻擋層(16)上。
6.根據權利要求5所述的一種垂直結構發光二極管,其特征在于:所述LED的外延生長襯底的選取包括但不限于藍寶石、氮化鋁、氮化鎵、硅、碳化硅,其晶向包括但不限于0001等極化、半極化和非極化方向;所選襯底包含圖形化的表面結構。
7.根據權利要求5或6所述的一種垂直結構發光二極管,其特征在于:所述N型GaN層上設置有N-面電極金屬層,與N型層半導體材料形成歐姆接觸,為單一或多層金屬結構,包括但不限于鈦,鋁,金,釩和其合金。
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