[發明專利]一種等厚干涉法測量液體折射率裝置

無效

• 申請號: 201110162848.0
• 申請日: 2011-06-16
• 公開（公告）號: CN102830093A
• 公開（公告）日: 2012-12-19
• 發明（設計）人: 陳健;姜琪;朱純;郝宏玥;覃巧玲
• 申請（專利權）人: 江南大學
• 主分類號: G01N21/45
• 分類號: G01N21/45
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種物理實驗測量裝置，尤其是一種等厚干涉法測量液體折射率裝置。

背景技術

折射率是反映材料光學性質的一個重要物理參量。液體折射率的測量方法有多種，常用的方法是將一束光斜射向液體表面，通過測量入射角和折射角，再利用折射定律算出液體的折射率。這種方法在測量角度時往往不夠精確，給折射率的測量帶來誤差。另一種阿貝折射率測量儀能達到較高的測量精度，但該儀器結構復雜，并且由于是根據全反射原理來測量的，它所用棱鏡的折射率限制了它所能測量的范圍。

發明內容

本發明所要解決的技術問題，是提供一種結構簡單、操作方便、能精確測量各種液體折射率的實驗裝置。

為了解決上述技術問題，本發明所述的一種等厚干涉法測量液體折射率裝置由一平玻璃、一平凹玻璃和一長方形容器組成。平玻璃和平凹玻璃均為長方形，平玻璃疊放在平凹玻璃上并放置在長方形容器內。平凹玻璃的中部呈“V”字形凹槽，兩邊各有一等高的平臺用于支撐平玻璃。所述平玻璃和平凹玻璃均為透明光學玻璃。

實際測量時，用單色平行光垂直照射本發明所述裝置中的平玻璃和平凹玻璃，當容器內未放液體時，利用讀數顯微鏡測量平玻璃與平凹玻璃間的“V”形空氣膜上下表面反射光所形成的干涉條紋的間距Δx。然后，向容器內注入待測液體，使液面淹沒平凹玻璃，再測量平玻璃與平凹玻璃間的“V”形液體膜上下表面反射光所形成的干涉條紋的間距Δx’。則根據等厚干涉原理，待測液體的折射率為

本發明由于采用上述設計，其結構簡單，方法新穎，操作方便，能精確測定各種液體的折射率。

附圖說明

下面結合附圖對本發明作進一步說明。

圖1是本發明所述的一種等厚干涉法測量液體折射率裝置的正視圖、俯視圖和側視圖。

圖2是本發明所述的一種等厚干涉法測量液體折射率裝置中平玻璃與平凹玻璃的立體示意圖。

圖3是利用本發明所述裝置測量時產生的干涉條紋形狀示意圖。

圖中1.平玻璃，2.平凹玻璃，3.容器，4.待測液體，5.等厚干涉條紋。

具體實施方式

如圖1、圖2所示，平玻璃1和平凹玻璃2均為長方形，平玻璃1疊放在平凹玻璃2上并放置在長方形容器3內。平凹玻璃2的中部呈“V”字形凹槽，兩邊各有一等高的平臺用于支撐平玻璃1。平玻璃1和平凹玻璃2均為透明光學玻璃。

如圖3所示，用單色平行光垂直照射本發明所述裝置中的平玻璃1和平凹玻璃2，當容器3內未放液體時，利用讀數顯微鏡測量平玻璃1與平凹玻璃2間的“V”形空氣膜上下表面反射光所形成的等厚干涉條紋5的平均間距Δx。然后，向容器3內注入待測液體4，使液面淹沒平凹玻璃2，以確保待測液體充滿平玻璃1與平凹玻璃2之間的“V”形凹槽。此時，測量平玻璃1與平凹玻璃2間的“V”形液體膜上下表面反射光所形成的等厚干涉條紋的平均間距Δx’。由此求得待測液體的折射率為